Zusammenfassung

In Verbindung mit der Elektronenmikroskopie ist die Elektronenbeugung ein wichtiges Hilfsmittel, um weitere Aussagen über die Struktur der Objekte zu gewinnen. Mit den vielseitigen optischen Möglichkeiten (Feinstrahlbeugung, Feinbereichsbeugung u. a.) ist ein Elektronenmikroskop in vielen Punkten bei geeigneter Linsenerregung einer reinen Elektronenbeugungsanlage überlegen. Die Hauptanwendung der Elektronenbeugung in Zusammenhang mit elektronenmikroskopischen Untersuchungen beschränkt sich im wesentlichen auf die Ermittlung der Netzebenenabstände zur Strukturbestimmung, der Messung der Linienbreiten (Kristallitgröße) und Texturbestimmung. Viele Mikroskope enthalten auch eine Möglichkeit zur Beugung in Reflexion. Diese wird aber seltener angewandt, weil die massiven Objekte nicht unmittelbar elektronenmikroskopisch untersucht werden können, es sei denn, daß es sich um den Aufbau eines Reflexionsmikroskopes handelt. Es sollen in den folgenden Abschnitten die für derartige Untersuchungen nötigen Grundlagen kurz beschrieben werden. Für ein gründlicheres Studium sei auf die Spezialwerke über Elektronenbeugung hingewiesen (von Laue 1948, Raether 1951, 1957, Pinsker 1953, Bauer 1958).

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Literatur zu § 6

Zusammenfassende Darstellungen über Elektronenbeugung

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Copyright information

© Springer-Verlag Berlin Heidelberg 1959

Authors and Affiliations

  • Ludwig Reimer
    • 1
  1. 1.Universität Münster I. Westf.Deutschland

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