Zusammenfassung
Das Prinzip des Raster-Elektronenmikroskopes (engl.: Scanning Electron Microscope, im folgenden kurz SEM) wurde von KNOLL (1935) in Berlin konzipiert. Die weitere historische Entwicklung des SEM ist an verschiedenen Stellen referiert worden (Oatley, 1965; Thornton, 1968; Pfefferkorn, 1970).
This is a preview of subscription content, log in via an institution.
Buying options
Tax calculation will be finalised at checkout
Purchases are for personal use only
Learn about institutional subscriptionsPreview
Unable to display preview. Download preview PDF.
Literatur zu § 1
Box, A. B.: In: Modern diffraction and imaging techniques in material science (Hrsg. S. Amelinckx u. a.), S. 655. Amsterdam-London 1970.
Knoll, M.: Z. tech. Phys. 16, 467 (1935).
Möllenstedt, G., Lenz, F.: Advan. Electron. Electron Phys. 18, 251 (1963).
Oatley, C. W., Nixon, W. C., Pease, R. F. W.: Advan. Electron. Electron Phys. 21, 181 (1965).
Pfefferkorn, G.: Beitr. elektronenmikr. Direktabb. Oberfl, Bd. 3, S. 1. Münster 1970.
Thornton, P. R.: Scanning electron microscopy. Applications to materials and device science. London: Chapman and Hall 1968.
Wegmann, L.: Prakt. Metallographie, 5, 241 (1968).
Monographien und Tagungsbände
Fujita, T., Tokunaga, M. D. J., Indue, H.: Atlas of scanning electron microscopy in medicine. Amsterdam-London-New York: Elsevier Publishing Company 1971.
Hearle, J. W. S., Sparrow, J. T., Cross, P. M.: The use of scanning electron microscope. Oxford-New York-Toronto-Sydney-Braunschweig: Pergamon Press 1972.
Heywood, V. H. (ed.): Scanning electron microscopy. Systematic and evolutionary applications. London-New York: Academic Press 1971.
Oatley, C. W.: The scanning electron microscope, part I: The instrument. Cambridge: University Press 1972.
Meylan, B. A., Butterfield, B. G.: Three-dimensional structure of wood. London: Chapman and Hall 1972.
Thornton, P. R.: Scanning electron microscopy. Applications to materials and device science. London: Chapman and Hall 1968.
Troughton, J., Donaldson, L. A.: Probing plant structure. London: Chapman and Hall 1972.
Beiträge zur elektronenmikroskopischen Direktabbildung von Oberflächen (Hrsg. G. Pfefferkorn), Bd. 1 (1968), Bd. 2 (1969), Bd. 3 (1970), Bd. 4/2 ( 1971 ). Münster: Verlag R. A. Remy.
Proceedings of the Annual Scanning Electron Microscope Symposium (ed. O. JoHARI), ab 1969 jährlich. Chicago: IIT Research Institute.
Author information
Authors and Affiliations
Rights and permissions
Copyright information
© 1973 Springer-Verlag Berlin Heidelberg
About this chapter
Cite this chapter
Reimer, L., Pfefferkorn, G. (1973). Einleitung. In: Raster-Elektronenmikroskopie. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-662-00083-0_1
Download citation
DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-662-00083-0_1
Publisher Name: Springer, Berlin, Heidelberg
Print ISBN: 978-3-540-06102-1
Online ISBN: 978-3-662-00083-0
eBook Packages: Springer Book Archive