Zusammenfassung
Die Bildung von Störstellen in Kristallen läßt sich als chemische Reaktion auffassen. Als Reaktionspartner treten dabei einmal Stoffe (Phasen) im gewöhnlichen Sinne auf, z. B. als Grundmaterial eines Leuchtstoffs oder als Verbindung, die den Aktivator liefert. Außerdem aber tritt auch jede Störstellensorte als Reaktionspartner auf, z. B. die in das Grundmaterial eingebauten Aktivatoratome, die beim Ablauf der Reaktion sich bildenden Schottky-Lücken usw.
Bericht über eine Anzahl von Arbeiten (s. d. Literaturzusammenstellung), die seit 1951 über den gleichen Gegenstand erschienen sind.
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Literatur
Brauer, P.: Z. Naturforsch. 7a (1952) S. 372.
Mott, N. F., M. J. Littleton: Trans. Farad. Soc. 34 (1938) S. 485.
Brauer, P.: Z. Naturforsch. 7a (1952) S. 741.
Brauer, P.: Z. Naturforsch. 6a (1951) S. 560, 561, 562.
Brauer, P.: Z. Naturforsch. 8a (1953) S. 273.
Brauer, P.: Z. Elektrochem. 57 (1953) S. 744.
Pringsheim, P.: Acta phys. Austriaca 3 (1949) S. 396.
Brauer, P.: Z. Naturforsch. 1 (1946) S. 70.
Ward, R. in: Solid luminescent materials. New York 1948, S. 22.
Brauer, G., R.M Ller, K. H. Zapp: Z. anorg. allg. Chem. 280 (1955) S. 40.
Jaffe, P. M., E. Banks: J. Electrochem. Soc. 102 (1955) S. 518.
Mott, N. F., R. W. Gurney: Electronic processes in ionic crystals. Oxford 1948, S. 81.
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Brauer, P. (1958). Über Fremdionen in Ionen-Kristallen. In: Technisch-wissenschaftliche Abhandlungen der Osram-Gesellschaft. Technisch-wissenschaftliche Abhandlungen der Osram-Gesellschaft, vol 7. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-99863-8_20
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