Zusammenfassung
Da mit wachsender Komplexität der Module und Systeme die Kosten für die Prüfvorbereitung überproportional ansteigen, wird die Prüftechnik immer mehr zu einem zentralen Aufgabengebiet beim Entwurf von elektronischen Geräten.
Access this chapter
Tax calculation will be finalised at checkout
Purchases are for personal use only
Preview
Unable to display preview. Download preview PDF.
Literatur
Miczo: Digital Logic Testing and Simulation. Harper & Row, 1987.
Breuer et al.: A Survey of the State of the Art of Design Automation. Computer, Vol. 14, No. 10, pp. 58–75, October 1981.
Chandra, S.; Patel, J.: A Hierarchical Approach to Test Vector Generation;. Proc. 24th Design Autom. Conf., pp. 495–501.
Beenker, F.P.M.: Systematic and Structural Methods for Digital Board Testing. VLSI, pp. 50–58, January 1987.
Schulz, M.; Trischler, E.; Sarfert, T.: SOCRATES — A Highly Efficient Automatic Test Pattern Generation System. Proc. Internat. Test Conf., 1987.
Abramovici, M.: A Hierarchical, Path-Oriented Approach to Fault Diagnosis in Modular Combinational Circuits. IEEE Trans, on Computers, Vol. C-31, No. 7, pp. 672–677, July 1982.
Bennetts, R.G.: Design of Testable Logic Circuits. Addison-Wesley, 1984.
Krishnamurthy, B., Sheng, R.L.: A New Approach to the Use of Testability Analysis in Test Generation. Proc. IEEE Internat. Test Conf., pp. 769–778,1985.
Author information
Authors and Affiliations
Rights and permissions
Copyright information
© 1989 Springer-Verlag Berlin Heidelberg
About this chapter
Cite this chapter
Sammer, W., Raffler, H. (1989). Testen von Moduln und Systemen. In: CAD für Moduln und Systeme in der Elektronik. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-93433-9_7
Download citation
DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-642-93433-9_7
Publisher Name: Springer, Berlin, Heidelberg
Print ISBN: 978-3-540-51302-5
Online ISBN: 978-3-642-93433-9
eBook Packages: Springer Book Archive