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Artefakte und Strahlschäden

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Elektronenmikroskopische Methodik
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Zusammenfassung

Als Artefakte bezeichnet man in der angewandten Elektronenmikroskopie Bildkontraste, die nicht von Objekteigenschaften herrühren, sondern auf das Präparationsverfahren zurückzuführen sind. Werden diese Kontrasterscheinungen irrtümlicherweise als zum Objekt gehörig betrachtet, so führen Artefakte unter Umständen zu schwerwiegenden Fehlinterpretationen elektronenmikroskopischer Aufnahmen. Allerdings läßt sich der Begriff „Artefakt“ nur schwer exakt formulieren. An der Grenze des Auflösungsvermögens eines Abdruckverfahrens treten z.B. in jedem Falle Kontrasterscheinungen auf, die sich nicht auf das Objekt zurückführen lassen, sondern die dem speziellen Präparationsverfahren eigentümlich sind. Dennoch spricht man in diesem Falle nicht von Artefakten, da diese Erscheinungen bekannt sind und daher kaum Gefahr besteht, daß sie zu Fehlinterpretationen führen. Von Artefakten spricht man vielmehr immer dann, wenn bei Vergrößerungen, die dem jeweiligen Präparations- oder Beobachtungsverfahren durchaus angemessen sind, Erscheinungen auftreten, deren Herkunft zunächst unbekannt ist und die deshalb Objekteigenschaften vortäuschen, die nicht vorhanden sind.

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Literatur

Kapitel 10 Zeitschriften

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© 1969 Springer-Verlag Berlin Heidelberg

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Schimmel, G. (1969). Artefakte und Strahlschäden. In: Elektronenmikroskopische Methodik. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-92986-1_10

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