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Bestimmung des Dekrements, des Leistungsfaktors, der Phasenverschiebung und der Resonanzschärfe

  • Chapter
Hochfrequenzmeßtechnik
  • 36 Accesses

Zusammenfassung

Die nacheinanderfolgenden Maximalamplituden derselben Polarität nehmen (oder haben die Neigung dazu) entweder nach einem geradlinigen, logarithmischen oder einem anderen Gesetze ab. Wenn z. B. ausgeprägte Funkendämpfung vorliegt, so kann man von einem linearen Dekrement

$$d = \frac{{{I_1} - {I_3}}}{{{I_1}}}$$

sprechen, wenn I1 und I3 zwei sich einander folgende Maximalwerte in derselben Richtung bedeuten. Für die richtig gewählten Funkenschwingungen hat man mit dem logarithmischen Dekrement

$${\rm{\delta = log\varepsilon }}\frac{{{I_1}}}{{{I_3}}}\\ = 2,30626{\log _{10}}\frac{{{I_1}}}{{{I_3}}}$$

zu rechmen, d. h. mit dem Unterschiede zweier einander folgenden gleichpoligen Amplituden, wenn dieselben an einem logarithmischen Maßstabe abgelesen werden. man kann natürlich irgend zwei momentanwerte benutzen, die 360 Zeitgrade in der Phase auseinanderliegen, z. B.

$$\frac{{{i_t}}}{{{i_{t{\rm{ + }}T}}}} = \frac{{{I_0}{\varepsilon ^{ - \frac{r}{{2L}}t}}\sin \omega t}}{{{I_0}{\varepsilon ^{ - \frac{r}{{2L}}{\rm{[}}t{\rm{ + T]}}}}\sin \omega t}}\\ {\rm{log\varepsilon }}\frac{{{i_t}}}{{{i_{t{\rm{ + }}T}}}} = - \frac{r}{{2L}}{\rm{T = }}\delta$$

oder

$${\rm{\delta = \pi }}{r^\Omega }\sqrt {\frac{{{C^F}}}{{{C^H}}}} \\ {\rm{ = 5920}}\frac{{{r^\Omega } \cdot {C^{{\rm{MF}}{\rm{.}}}}}}{{{\lambda ^{\rm{m}}}}}.$$

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Dieses Kapitel ist Teil des Digitalisierungsprojekts Springer Book Archives mit Publikationen, die seit den Anfängen des Verlags von 1842 erschienen sind. Der Verlag stellt mit diesem Archiv Quellen für die historische wie auch die disziplingeschichtliche Forschung zur Verfügung, die jeweils im historischen Kontext betrachtet werden müssen. Dieses Kapitel ist aus einem Buch, das in der Zeit vor 1945 erschienen ist und wird daher in seiner zeittypischen politisch-ideologischen Ausrichtung vom Verlag nicht beworben.

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Hund, A. (1928). Bestimmung des Dekrements, des Leistungsfaktors, der Phasenverschiebung und der Resonanzschärfe. In: Hochfrequenzmeßtechnik. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-91749-3_18

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