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Besondere Meßmethoden: Elliptisch polarisiertes Licht, teilweise polarisiertes Licht

  • G. Szivessy
Part of the Handbuch der Physik book series (HBUP, volume 19)

Zusammenfassung

Bei einer polarisierten Lichtwelle bleibt die Kurve, welche der Endpunkt des von einem beliebigen Punkte aus aufgetragenen Lichtvektors beschreibt, zeitlich unverändert; sie heißt die Schwingungsbahn der Lichtwelle und ist im allgemeinsten Falle eine Ellipse, in speziellen Fällen ein Kreis oder eine Gerade. Eine polarisierte Welle verhält sich daher im allgemeinen rings um ihre Normale ungleichmäßig.

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Literatur

  1. 1).
    Eine zusammenfassende Darstellung der analytischen Theorie der MeBmethoden findet sich bei L. B. Tuckerman, Univ. Studies of the University of Nebraska Bd. 9, S. 157. 1909, allerdings in einer undurchsichtigen und für die Anwendungen wenig geeigneten Form; die geometrische Theorie der Meßmethoden nach einem von H. Poincare (Théorie mathématique de la lumière, Bd. 2, Chap. 12, S. 275. Paris 1892) herrührenden Verfahren hat L. Chaumont gegeben (Ann. de phys. [9] Bd. 4, S. 101. 1915).Google Scholar
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  31. 4).
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  34. 2).
    Über die Grenzen der.Meßbarkeit von Phasendifferenzen vgl. M. Berek, Centralbl. f. Min. 1913, S. 464; Ann. d. Phys. (4) Bd. 58, S. 186. 1919.Google Scholar
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  48. 4).
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  50. 1).
    Ober Verfahren zur Justierung der Keile vgl. R. Sissingh, Arch. Néerland. Bd. 20, S. 171. 1886; C. A. Reeser U. R. Sissingh, Versl. Akad. Amsterdam Bd. 30, S. 145. 1922; J. J. Haar, Arch. Néerland. (3A) Bd. 6, S. 205. 1923; C. A. Reeser, ebenda Bd. 6, S. 225. 1923; Bd. 7, S. 1. 1924; J. Tn. Groosmuller, ebenda Bd. 8, S. 1. 1925; ZS. f. Instrkde. Bd. 46, S. 198. 1926.Google Scholar
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    Über die Orientierung des Kompensators senkrecht zur Normale der auffallenden Welle vgl. P. DRUDE, Wied. Ann. Bd. 34, S. 491. 1888; O. Reed, Ann. d. Phys. (4) Bd. 71, 5.438. 1923.Google Scholar
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    K. Heinrich, Leipziger Ber. Bd. 02, S. 253. 1910; eine ähnliche Anordnung hat schon früher TH. des Coudres vorgeschlagen. (Über die Reflexion polarisierten Lichtes an Quecksilber, S. 28. Dissert. Berlin 1887).Google Scholar
  63. 3).
    Die Savartsche Platte besteht aus zwei gleich dicken, unter nahezu 45° zur optischen Achse geschnittenen übereinander liegenden Quarz-oder Kalkspatplatten; die Hauptschnitte der Platten, d. h. die durch die Plattennormale und die optischen Achsen gelegten Ebenen, stehen senkrecht zueinander. Läßt man eine monochromatische, linear polarisierte Welle auffallen und beobachtet durch einen Analysator, dessen Schwingungsrichtung den von den beiden Hauptschnitten der Platten gebildeten Winkel halbiert, so sieht man ein System paralleler dunkler Interferenzstreifen, welche in den vier Lagen yerschwinden, in denen die Schwingungsrichtung der auffallenden Welle zu einem der Hauptschnitte der Platte parallel liegt. Vgl. hierzu die Ausführungen im Abschnitt „Kristalloptik“ in Bd. XX dieses Handbuches.Google Scholar
  64. 1).
    Die Einstellungsmethode läßt sich verfeinern durch Verwendung einer SAVARTschen Platte mit nicht streng rechtwinklig gekreuzten Hauptschnitten; im Augenblick des Verschwindens des gewöhnlichen Interferenzstreifensystems tritt dann ein zweites, gegen das erstere unter 45° geneigtes auf. Vgl. H. Hauschild, Ann. d. Phys. (4) Bd. 63, S. 819. 1920.Google Scholar
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    G. Szivessy, Verh. d. D. Phys. Ges. Bd. 21, S. 271. 1919; ZS. f. Phys. Bd. 29, S. 372. 1924.Google Scholar
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    Über die Prüfung eines SoLEILschen Kompensators mit kleinen Keilwinkeln auf richtige Schleifarbeit und Justierung vgl. J. Koenigsberger, Centralbl. f. Min. 1909, S. 746.Google Scholar
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    Zwei weitere Methoden zur Messung von d, die auch für größere Phasendifferenzen brauchbar sind, finden sich bei C. Bergholm, Uppsala. Univ. Arsskr. 1915, Bd. 1, Matem. och Nature., S. 15.Google Scholar
  78. 1).
    C. Bergholm, Uppsala Univ. Arsskr. 1915, Bd. 1, Matem. och Nature., S. 9.Google Scholar
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    C. Bergholm, Ann. d. Phys. (4) Bd. 44, S. 1053. 1914; Uppsala Univ. Arsskr. 1915, Bd. 1, Matem. och Naturv., S. 11.Google Scholar
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    Eine zusammenfassende Darstellung der in der Kristallographie gebräuchlichen Methoden findet sich bei F. E. Wright, The methods of petrographic-microscopic research, S. 101. Washington 1911 (Carnegie Instit. of Washington, Publ. Nr. 158) und H. Rosenbusch, Mikroskopische Physiographie der petrographisch wichtigen Mineralien. $. Aufl. von E. A. Wulfing, Bd. 1, 1. Untersuchungsmethoden S. 566, Stuttgart 1921–1924.Google Scholar
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    Diese Methode zur Messung von 92 ist jedoch nicht frei von systematischen Fehlern, falls als Halbschattenvorrichtung ein 2/2-Blättchen oder ein LIPPIcusches Halbprisma benutzt wird, da dann die beiden Hälften des Halbschattensystems verschiedene Durchlässigkeit besitzen; hierauf hat zuerst L. B. Tuckerman (Univ. Studies of the University of Nebraska Bd. 9, S. 178. 1909) und später unabhängig davon E. Perucca (Atti di Torino Bd. 48, S. 202. 1912; Cim. [6] Bd. 5, S. 352. 1913) hingewiesen.Google Scholar
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    H. Bouasse, Journ. de phys. (2) Bd. 10, S. 65. 1891.Google Scholar
  102. 2).
    J. Mac Cullagh, Proc. R. Irish Acad. Bd. 2, S. 383. 1843; Phil. Mag. (3) Bd. 24, S. 385. 1844; Collected Works, S. 238. London 1880.Google Scholar
  103. 3).
    G. G. Stokes, Rep. Brit. Assoc. for 1851, Tl. 2, S. 14; Phil. Mag. (4) Bd. 2, S. 420. 1851; Mathem. and Phys. Papers Bd. 3, S. 197. Cambridge 1901.Google Scholar
  104. 4).
    E. Wiedemann, Leipziger Ber. 1872, S. 263; Pogg. Ann. Bd. 151, S. 1. 1874.Google Scholar
  105. 5).
    L. Mouton, Journ. de phys. Bd. 4, S. 240. 1875.Google Scholar
  106. 6).
    H. Poincaré, Théorie mathématique de la lumière, Bd. 2, S. 275. Paris 1892.Google Scholar
  107. 7).
    J. Walker, Phil. Mag. (6) Bd. 3, S. 541. 1902.Google Scholar
  108. 8).
    G. Horn, N. Jahrb. f. Min., Beil. Bd. 12, S. 273. 1899.Google Scholar
  109. 9).
    E. C. Muller, N. Jahrb. f. Min, Beil. Bd. 17, S. 197. 1903; vgl. auch H. Joachim, ebenda Bd. 21, S. 577. 1906.Google Scholar
  110. 10).
    Eine begrenzte Steigerung der Meßgenauigkeit liefert eine zwischen Kompensatorplatte und Analysator geeignet orientierte SAvARTsche Platte (5.:942, Fußnote 3); vgl. H. Hauschild, Ann. d. Phys. (4) Bd. 63, S. 819. 1920.Google Scholar
  111. 11).
    E. Perucca, Cim. (6) Bd. 6, S. 179. 1913; ZS. f. Phys. Bd. 8, S. 63. 1922; eine ähnliche, jedoch unvollkommenere Anordnung stammt von C. Zakrzewski, Krakauer Anzeiger 1907, S. 1016.Google Scholar
  112. 1).
    Briefliche Mitteilung des Herrn E. Perucca.Google Scholar
  113. 2).
    A. Q. Tool, Phys. Rev. Bd. 31, S. 1. 1910.Google Scholar
  114. 3).
    L. B. Tuckerman, Univ. Studies of the University of Nebraska Bd. 9, S. 194. 1909.Google Scholar
  115. 4).
    C. A. Skinner, Journ. Opt. Soc. Amer. Bd. 10, S. 491. 1925.Google Scholar
  116. 1).
    Briefliche Mitteilung des Herrn C. A. Skinner.Google Scholar
  117. 2).
    A. Q. TooL, Phys. Rev. Bd. 31, S. 25. 1910.Google Scholar
  118. 3).
    C. A. Skinner U. A. Q. TooL, Phil. Mag. (6) Bd. 16, S. 840. 1908; die ziemlich komplizierte Theorie dieser Methode findet sich bei L. B. Tucierman, Univ. Studies of the University of Nebraska Bd. 9, S. 191, 1909.Google Scholar
  119. 4).
    E. Perucca, Atti di Torino Bd. 48, S. 201. 1913; Cim. (6) Bd. 5, S. 351. 1913. 6) G. Szivessy, ZS. f. Instrkde. Bd. 47, S. 148. 1927.Google Scholar
  120. 6).
    Ein LIP.Pichsches Halbprisma kann wegen der dabei auftretenden systematischen Fehler nicht verwendet werden;. vgl. S. 955, Fußnote 2.Google Scholar
  121. 1).
    P. Jamin, Ann. chim. phys. (3) Bd. 29, S. 274. 1850.Google Scholar
  122. 2).
    G. Meslin, Journ. de phys. (2) Bd. 9, S. 436. 1890; H. Bouasse, Journ. de phys. (2) Bd. 10, S. 61. 1891.Google Scholar
  123. 3).
    P. Drude, Wied. Ann. Bd. 34, S. 489. 1888; C. K. Edmunds, Phys. Rev. Bd. 18, S. 205. 1904. Die Meßgenauigkeit von a läßt sich, falls tgy von 1 nur wenig verschieden ist, bei Benutzung des Babinetschen Kompensators mit Hilfe einer von J. Ellerbroek u. J. TH. Groosmuller (Phys. ZS. Bd. 27, S. 468. 1926) angegebenen Methode etwa 15 fach verbessern; der Mangel der geringen Meßgenauigkeit von 8 bleibt jedoch bestehen.--Google Scholar
  124. 4).
    G. Szivessy, ZS. f. Instrkde. Bd. 46, S. 454. 1926. - -Google Scholar
  125. 1).
    W. Voigt, Phys. ZS. Bd. 2, S. 303. 1901.Google Scholar
  126. 2).
    R. S. Minor, Ann. d. Phys. (4) Bd. 10, S. 581. 1903.Google Scholar
  127. 3).
    Le RoyDeWild, Phys. Rev. (2) Bd. 11, S. 249. 1918; Journ. Opt. Soc. Amer. Bd. 6, S. 67. 1922.Google Scholar
  128. 4).
    C. Bergholm, Uppsala Univ. Arsskr. 1915, Bd. 1, Matem. och Nature., S. 24; Phys. ZS. Bd. 21, S. 137. 1920.Google Scholar
  129. 1).
    C. Kraft U. C. Zakrzewski, Krakauer Anzeiger 1904, S. 508. - - 2) R. de Malleman, C. R. Bd. 176, S. 380. 1923; Ann. de phys. (10) Bd. 2, S. 21. 1924.Google Scholar
  130. 3).
    G. L. Gouy, Journ. de phys. (2) Bd. 4, S. 149. 1885.Google Scholar
  131. 4).
    Wiener, Wied. Ann. Bd. 35, S. 1. 1888.Google Scholar
  132. 5).
    Vgl. hierzu den Abschnitt „Kristalloptik in Bd. XX dieses Handbuches.Google Scholar
  133. 1).
    W. Haidinger, Pogg. Ann. Bd. 65, S. 4. 1845; Wiener Ber. Bd. 1, Tl. 1, S. 131. 1848.Google Scholar
  134. 2).
    Vgl. bezüglich des Sénaumontschen Prismas und ähnlicher Anordnungen die Ausführungen in Kap. 24 dieses Bandes, sowie in Bd. XX dieses Handbuches.Google Scholar
  135. 3).
    Wegen ihrer Verwendungsmöglichkeit zum Nachweis von Pleochroismus.Google Scholar
  136. 4).
    H. Rausch V. Traubenberg H. S. Levy, Phys. ZS. Bd. 27, S. 763. 1926.Google Scholar
  137. 5).
    J. C. Poggendorff, Pogg. Ann. Bd. 49, S. 292. 1840. Über eine vereinfachte Form des SAvARrschen Polariskopes bei H. Schulz, ZS. f. Instrkde. Bd. 45, S. 539. 1925; vgl. ferner B. Lyot, Rev. d’opt. Bd. 5, S. 108. 1926.Google Scholar
  138. 1).
    L. Weber, Schriften des naturw. Ver. Schleswig-Holstein Bd. 8, S. 187. 1891; CHR. JENSEN, Beiträge zur Photometrie des Himmels, S. 39. Dissert. Kiel 1898.Google Scholar
  139. 2).
    A. Cornu, Error! Hyperlink reference not valid.. 1882, S. 253; 1890, S. 267; J. M. Pernter, Wiener Denkschr. Bd. 73, S. 324. 1901.Google Scholar
  140. 3).
    F. F. Martens, Verh. d. D. Phys. Ges. Bd. 1, S. 204. 1899; Phys. ZS. Bd. 1, S. 299. 1900; J. Tichanowsky, Phys. ZS. Bd. 25, S. 482. 1924; O. Schönrock, ZS. f. Instrkde. Bd. 44, S. 404. 1925.Google Scholar
  141. 4).
    Vgl. z. B. R. W. Wood u. A. Ellett, Proc. Roy. Soc. London (A) Bd. 103, S.399. 1923.Google Scholar
  142. 5).
    H. Dember U. M. Vibe, Leipziger Ber. Bd. 69, S. 154. 1917; Ann. d. Phys. (4) Bd. 56. 5.214, 1918.Google Scholar
  143. 6).
    Vgl. z. B. P. Drude, Lehrb. d. Optik, 3. Aufl., S. 271. Leipzig 1912 (oder ds. Handbuch, Bd. XX).Google Scholar
  144. 7).
    Die genaue Berechnung von P erfordert die Berücksichtigung der Mehrfachreflexionen an den Plattenoberflächen; vgl. E. Gaviola U. P. Pringsheim, ZS. f. Phys. Bd. 24, S. 25. 1924.Google Scholar
  145. 1).
    F. Arago, Oeuvr. compi. Bd. 10, S. 270. Paris-Leipzig 1858.Google Scholar
  146. 2).
    H. Wild, Pogg. Ann. Bd. 99, S. 235. 1856; Bd. 118, S. 193. 1863.Google Scholar
  147. 3).
    R. W. Wood, Phil. Mag. (6) Bd. 16, S. 184. 1908; Phys. ZS. Bd. 9, S. 590. 1908.Google Scholar

Copyright information

© Julius Springer in Berlin 1928

Authors and Affiliations

  • G. Szivessy
    • 1
  1. 1.Münster i. W.Deutschland

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