Zusammenfassung
Die drei wesentlichen Bestandteile eines Röntgenspektrographen sind:
-
1.
eine spaltförmige Blende1 zur Einengung des eintreffenden Strahlenbündels,
-
2.
ein Kristall2 zur räumlichen Trennung der in der Primärstrahlung enthaltenen Strahlen mit verschiedenen Wellenlängen,
-
3.
ein Detektor zum Nachweis der spektral zerlegten Strahlung photographischer Film, Zählrohr).
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Schrifttum
Zusammenfassende Darstellungen
Babinski, R. L., Nefedow, W. I.: Röntgenspektroskopische Bestimmung der Atomladungen in Molekülen, Weinheim/Bergstraße: Verlag Chemie 1969, 273 S.
Bearden, J. A.: Rev. Mod. Phys. 39 (1967) 78 (Neueste Werte der Röntgenwellenlängen).
Bertin, E. P.: Principles and Practice of X-Ray Spectrometric Analysis, London: Heyden 1970, 679 S.
Birks, L. S.: Electron Probe Microanalysis, New York: Interscience Publishers 1963, 253 S.
Birks, L. S.: X-Ray Spectrochemical Analysis 2nd Ed, New York: Interscience Publishers 1969, 143 S.
Blochin, M. A.: Methoden der Röntgenspektralanalyse (Übersetzung a. d. Russ. v. 1961). München: Sagner 1964, 396 S.
Buwalda, J.: X-Ray Spectrometry, 4. Aufl., Philips’ Gloeilampenfabrieken Eindhoven (Holland) 1967.
Elion, H. A.: Instrument and Chemical Analysis Aspects of Electron Microanalysis and Macroanalysis, Oxford: Pergamon Press 1966, (Anregungsspannungen).
Freiburg, C., Reichert, W.: 2 Θ-Werte für Röntgenspektralanalyse mit verschiedenen Analysatorkristallen. Jül – 530 – CA Gips (0,20), Jül – 530 – CA ADP (011), Jül – 532 – CA Quarz (332), Jül – 533 – CA LiF (1011), Jül – 534 – CA LiF (220), Jül – 535 – CA LiF (220), Jül – 536 – CA Topas (303), KFA Jülich, Zentrallabor für chemische Analyse, 1968.
Hevesy, G. V.: Chemical Analysis by X-Rays and its Applications, New York: McGraw-Hill 1932, 333 S.
Jenkins, R., de Vries, I. L.: Practical X-Ray Spectrometry; Philips Techn. Lib. (1968) 183.
Liebhafsky, H. A., Pfeiffer, H. G., Wlnslow, E. H., Zemany, P. D.: X-Ray Absorption and Emission in Analytical Chemistry, New York: Wiley 1960.
Liebhafsky, H. A., Winslow, E. H., Pfeiffeb, H.G.: Analytical Chemistry 34 1962, 282 S. (Übersicht über das gesamte Schrifttum).
Müller, R. U.: Spektrochemische Analysen mit Röntgenfluoreszenz, München: Oldenbourg 1967, 315 S.
Parrish, W.: Spektrochemische Analyse mit Röntgenstrahlen; Philips Techn. Rundsch. 17 (1956) 393.
Review of Literature, X-Ray Spectrometry, Philips’ Gloeilampenfabrieken, Eindhoven (Holland) 1965.
Sagel, K.: Tabellen zur Röntgenemissions- und Absorptionsanalyse, Berlin/Göttingen/Heidelberg: Springer 1959, 132 S.
Sandstböm, A. E.: Experimental Methods of X-Ray Spectroscopy, Ordinary Wavelengths, Handbuch der Physik, Bd. 30, Hrsg.: S. Flügge, Berlin/Göttingen/Heidelberg: Springer 1957, S. 78 bis 245.
Siegbahn, M.: Spektroskopie der Röntgenstrahlen, 2. Aufl., Berlin: Springer 1931, 575 S.
Siegbahn, K.: β- and γ-Ray spectroscopy, Amsterdam: North-Holland 1960, 448 S.
Stephenson, S. T.: Kontinuierliches Spektrum, Handbuch der Physik Bd. XXX, Hrsg.: S. Flügge, Berlin/Göttingen/Heidelberg: Springer 1957, S. 337–369.
Tögel, K.: Zerstörungsfreie Materialprüfung, Abschnitt U 152 in E. A. W. Müller, Präparationstechnik bei der Röntgenspektralanalyse München, Oldenbourg.
Tomboulian, D. H.: The Experimental Methods of Soft X-Ray Spectroscopy and the Valence Band Spectra of the Light Elements. Handbuch der Physik, Hrsg.: S. Flügge, Berlin/Göttingen/Heidelberg: Springer 1957, S. 246 bis 304.
Einzelnachweise. Photographische Röntgenspektrographen
Bäcklin, E.: Dissertation Upsala 1928 (Gitter).
Carlson, E.: Z. Phys. 84 (1933) 801 (Gebogener Kristall).
Cauchois, Y.: J. Phys. Radium 3 (1932) 320 (Gebogener Kristall).
Johann, H. H.: Z. Phys. 69 (1931) 185 (Gebogener Kristall).
Johansson, T.: Z. Phys. 84 (1933) 541 (Gebogener Kristall).
Sandstböm, A.: Z. Phys. 82 (1933) 507 (Gebogener Kristall).
Seemann, H.: Ann. Phys. Lpz. 49 (1916) 470
Seemann, H.: Phys. Z. 27 (1926) 10 (Schneiden-, Lochkameraverf.)
Seemann, H.: Phys. Z. 25 (1924) 329.
Siegbahn, M.: Ergebn. exakt. Naturw. 16 (1937) 104 (Zus. Bericht, Gitter).
Siegbahn, M.: Ergebn. exakt. Naturw. 16 (1937) 104 (Zus. Bericht, Gitter).
Einzelnachweise. Röntgenspektrum und chemische Bindung
Broili, H., Glockeb, R., Kiessig, H.: Z. Phys. 92 (1934) 27.
Glocker, R.: Naturwiss. 20 (1932) 536 (Zus. Bericht).
Renninger, M.: Z. Phys. 78 (1932) 510.
Siegbahn, M., Magnusson, T.: Z. Phys. 88 (1934) 559, 95 (1935) 133, 96 (1935) 1.
Einzelnachweise. Beispiele für photographische Spektralanalysen
Costeb, D., Druyevesteyn, M. I.: Z. Phys. 40 (1927) 756 (Sekundärröhre).
Costeb, D., v. Hevesy, G.: Nature, Lond. 111 (1923) 79 (Zumischverfahren).
Costeb, D., Nishina, Y.: Chem. News 130 (1925) 149 (Fehlerquellen).
Glocker, R., Schreiber, H.: Ann. Phys. Lpz. 85 (1928) 1089 (Kalterregung).
Goldschmidt, V. M., Thomassen, L.: Norsk geolog. Tidskr. 7 (1923) 61 (Mineralanalysen).
Hevesy, G. v., Böhm, I.: Z. anorg. allg. Chem. 164 (1927) 69.
Hevesy, G. v., Böhm, I., Faessleb, A.: Z. Phys. 63 (1930) 74 (Sekundärerregung).
Schreiber, H.: Z. Phys. 58 (1929) 619 (Kalterregung).
Einzelnachweise. Zählrohrspektrometer
Birks, L. S., Brooks, E. J.: Analytic. Chemistry 27 (1955) 437.
Croke, J. F., Pfoser, W. I., Solazzi, M. I.: Norelco Reporter (1964) 128 (Philips-Sequenzspektrometer).
Croke, J. F., Deichert, R. W.: Norelco Reporter (1964) 115 (Philips-Mehrkanalspektrometer).
Friedman, H.: Industr., Radiography Nondestructive Testing 6 (1947) 1.
Henke, B. L.: Advances in X-Ray Analysis 7 (1967) 460
Henke, B. L.: Advances in X-Ray Analysis 5 (1961) 288.
Kopineck, H. J., Schmitt, P.: Arch. Eisenhüttenw. 36 (1965) 87.
Lang, G. R.: Z. Instrumentenkde. 70 (1962) H. 12.
Mabshall, H. I., Speck, W., Tögel, K.: Siemens-Z. 39 (1965) 1108 (Siemens-Sequenzgerät).
Murray, I. A., Barlett, T. H.: Norelco Reporter 11 (1964) 132 (Urangehalt der Luft).
Neff, H.: Arch. Eisenhüttenw. 34 (1963) 903.
Neff, H.: VDI-Z. 102 (1960) 1422.
Pabbish, W.: Philips Techn. Rundsch. 17 (1965) 340 u. 393.
Sinsberg, H., Pfundt, H.: Z. Metallkde. 53 (1962) 695 (Philips Automat).
Stoecker, W. C., Starbuck, J. W.: Rev. Sci. Instr. 36 (1965) 1593 (Sollerspalt).
Tögel, K.: Siemens-Z. 37 (1963) 789 (Siemens-Mehrkanalgerät).
Einzelnachweise. Anwendung der Fluoreszenzanalysen
Birks, L. S.: Analyt. Chem. 22 (1950) 1258.
Birks, L. S., Brooks, E. J., Friedmann, E. J., Roe, R.M.: Anal. Chem. 22 (1950) 1258 (Nachweis von Blei in Benzin).
Böhm, G., Ulmer, K.: Z. angew. Phys. 24 (1968) 129 (Sphärisch gekrümmter Kristall).
Bruch, J.: Arch. Eisenhüttenw. 33 (1962) 5 (Boraxschmelze).
Brunner, G., Dahn, E., Geisler, M.: Analyse von Mineral- und Syntheseölen mit radiometrischen Methoden, Berlin: Akademie Verlag 1968, 225 S.
Dumme, J. A., Müller, W. R.: Norelco Reporter 11 (1964) 133.
Eggs, J., Ulmer, K.: Z. angew. Phys. 20 (1965) 118 (Sphärisch gekrümmter Kristall).
Eichhoff, H. J., Beck, K., Kiefer, S. K.: Glas-Instrumenten-Technik 9 (1965) 687 (Gelöste und pulverförmige Proben).
Feigl, F.: Qualitative Analyse mit Hilfe von Tüpfelreaktionen, Leipzig: Akad. Verlags-Ges. 1938, S. 4 (Nachweisgrenzen).
Grubis, B.: IV. Informationstagung Darmstadt 1968 (Bestimmung von Hf in Zr).
Hert, R. C., Doughman, W. R., Gisclabd, J. B.: Analyt. Chem. 28 (1956) 1649.
Müller, C. H. F.: III. u. IV. Informationstagung, Darmstadt Febr. 1964 u. März 1968.
Jecht, K., Petersohn, I.: Siemens-Z. 41 (1967) 59 (Leichte Elemente).
de Laffolie, H.: Arch. Eisenhüttenw. 38 (1967) 535 (Spurenelemente in Stahl).
de Laffolie, H.: DEW Techn. Berichte 7 (1967) 115 (Nichtrostende Stähle).
de Laffolie, H.: Glas-Instrumenten-Technik 10 (1966) 230 u. 345 (Zus. Ber. über Stahlanalysen).
Lang, G. R.: Z. Metaukde. 46 (1955) 616.
Lang, G. R.: Dissertation 1956 Aachen (Zementanalyse).
Louis, R.: Z. anal. Chemie 208 (1965) 33 (Öle, Nachweisgrenzen).
Louis, R.: Z. anal. Chemie 201 (1964) 336.
Maasen, G.: IV. Informationstagimg Darmstadt 1968 (RFA im N. E.-Metallhüttenlabor).
Malissa, H.: Mikrochem. 38 (1951) 33 (Nachweisgrenze).
Möller, EL, Hauk, V.: Arch. Eisenhüttenw. 26 (1955) 171.
Schoorl, N. A.: Z. anal. Chemie 46 (1907) 658 (Nachweisgrenze).
Siegel, H.: Arch. Eisenhüttenw. 36 (1965) 167 (RFA im Edelstahlwerk).
Weyl, R.: Z. angew. Phys. 13 (1961) 283 (Schichtdickenbestimmung).
Einzelnachweise. Absorptionsanalysen
Dodd, C. G., Wilband, J. T., Moser, R. A.: Siemens-Rev. 34 (1967) 40.
Fabiah, D. J., Ed.: Soft X-Ray Band Spectra (Absorptionsspektren), London and New York: Academic Press 1968, 382 S.
Glocker, R., Frohmayer, W.: Ann. Phys. Lpz. 76 (1925) 369.
Hughes, EL K., Wilzewski, J. W.: Analyt. Chem. 26 (1954) 1886.
Liebhafsky, H. A.: Analyt. Chem. 26 (1954) 26 (Erdöl).
Liebhafsky, H. A., Winslow, E. H.: Analyt. Chem. 28 (1956) 583 (Erdöl).
Moxnes, N. H.: Z. Phys. Chem. A 144 (1929) 134
Moxnes, N. H.: Z. Phys. Chem. A 152 (1931) 380 (Erdöl).
15. Mikrosonde. Zusammenfassende Darstellungen
Belk, J. A., Davies, A. L.: Electron Microscopy and Microanalysis of Metals, Amsterdam: Elsevier 1968, 254 S.
Birks, L. S.: Electron Probe Microanalysis, New York/London: Interscience Publishers 1963, 253 S.
Castaing, R.: Electron Probe Microanalysis, Advances in Electronics and Electron Physics, New York/London: Academic Press XIII (1960) 317.
Cosslett, N. E., Nixon, W. C.: X-Ray Microscopy, Cambridge: Univ. Press 1960.
Dewey, R. D., Mapes, R. S., Reynolds, T. W.: Handbook of X-Ray and Microprobe Data. With Tables of X-Ray Data, Oxford: 1969, 353 S. (Tabellen von Röntgenwellenlängen, Strahlungsausbeute, Massenabsorptionskoeffizienten, Auswertefunktionen für Mikrosonde).
Duncumb, P., Long, I. V. P., Melford, D. A.: Electron Probe Microanalysis, London: Hilger & Watts 1965.
Elion, H. A.: Instrument and Chemical Analysis Aspects of Electron Microanalysis and Macroanalysis, Oxford/London: Pergamon Press 1966, 256 S.
Engström, A.: X-Ray Microanalysis in Biology and Medicine, Amsterdam: Elsevier 1962, 92 S.
Engström, A., Coslett, V. E., Pattee, H. H.: X-Ray Microscopy and X-Ray Microanalysis, Amsterdam: Elsevier 1960.
Malissa, H.: Elektronenstrahl-Mikroanalyse, Handbuch der mikrochemischen Methoden, Bd. 4, Wien: Springer 1966, 154 S.
Metallkundliche Analyse mit besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl-mikroanalyse. Mikrochim. Acta, Wien 1. Kolloquium 1964, 236 S., 2. Kolloquium 1966, 248 S., 3. Kolloquium 1967, 350 S.
Möllenstedt, G., Gaukler, K. H.: Vth Internation Congress on X-Ray Optics and Microanalysis, Berlin/Heidelberg/New York: Springer 1969, 612 S.
Pattee, H. H., Cosslett, V. E., Engstböm, A.: X-Ray Optics and X-Ray Microanalysis, New York/London: Academic Press 1963, 622 S.
Philibert, J.: L’analyse quantitative en microanalyse par sonde électronique in: Métaux, Corrosion, Industries 40 (1964) 157–176, 40 (1964) 216–240, 40 (1964) 325–342.
Stickler, R.: Einführung in die Grundlagen und Arbeitsmethoden der Elektronen-strahlmikroanalyse; Kontron GmbH und Co. KG, München, 1966, 232 S.
Symposium on X-Ray and Electron Probe Analysis (ASTM Special Techn. Publ. Nr. 349) Amer. Soc. for Testing and Materials, Philadelphia 1964, 209 S.
Theisen, R.: Quantitative Electron Microprobe Analysis, Berlin/Heidelberg/New York: Springer 1965, 170 S.
Theisen, R., Vollath, D.: Tabellen der Massenschwächungskoeffizienten von Röntgenstrahlen, Düsseldorf: Verlag Stahleisen 1967, 40 S.
van Olphen, H., Parrish, W.: X-Ray and Electron Methods of Analysis, New York: Plenum Press 1968, Kap. III, 164 S.
15. Mikrosonde. Einzelhinweise
Berge, S. A.: Z. Instrumentenkde 70 (1962) 37 (Cambridge-Gerät).
Birks, L. S.: J. Appl. Phys. 33 (1962) 233 (Berechnungen).
Birks, L. S.: Anal. Chem. 32 (1960) 19 (Berechnungen).
Birks, L. S.: J. Appl. Phys. 36 (1959) 1825 (Berechnungen).
Birks, L. S., Bbooks, E. I.: Rev. Sci. Instr. 28 (1957) 709 (Gerätebeschreibung).
Birks, L. S., Seebold, R. E.: Anal. Chem. 33 (1961) 687 (Diskussion des Abnahmewinkels).
Birks, L. S., Siomkails, I. M., Koh, P. K.: Trans. Met. Soc. AIME 218 (1960) 806 (χ- und σ-Phase von nichtrostenden Stählen).
Castaing, R.: Rev. Mét. 50 (1953) 624 (Dissertation).
Castaing, R., Descamps, J.: J. Phys. et Radium 16 (1955) 304 (Grundlagen).
Christian, H., Schaaber, O.: Härterei-Techn. Mitt. 21 (1966) 210 (Informationsgehalt des Flächenrasterbildes).
Duncumb, P.: J. Inst. Met. 90 (1961/62) 154 (Gerätebeschreibung).
Duncumb, P.: Br. J. Appl. Phys. 10 (1959) 420, 11 (1960) 169 (Scanning).
Duncumb, P.: J. Appl. Phys. 31 (1960) 1927, 32 (1961) 387 (Berechnung).
Gerloff, U.: Siemens-Rev. 32 (1967) 27 (Analyse kosmischen Staubes).
Guinier, A., Castaing, R.: Compt. Rend. 232 (1951) 1948.
Kimoto, S., Hantsche, H.: Mikrochim. Acta, Suppl. II, (1967) 133 (Makrosonde).
Kimoto, S., Kohinata, H.: Jeol-Sonderdruck PX-67014, Nov. 1967.
de Laffolie, H., Lennartz, G.: Arch. Eisenhüttenw. 37 (1966) 291 (Nachweisgrenze).
Lennartz, G., de Laffolie, H.: DEW Techn. Berichte 6 (1966) 201.
Melford, D. A.: J. Inst. Met. 90 (1961/62) 217 (Anwendung in Metallkunde).
Melford, D. A.: Rev. Univ. Mines 18 (1961) 247 (Industrielle metallkundliche Anwendung).
Mebz, D., Wassebmann, G.: Metall 19 (1965) 10 (Anwendung in Metallkunde).
Ogilvie, R. E.: Rev. Sci. Instrum. 34 (1963) 1344 (Gekrümmtes Präparat).
Pfister, H., Uzel, G.: Praktische Metallographie 3 (1966) 205 (Quantitative Untersuchungen).
Philibert, J.: J. Inst. Met. 90 (1961/62) 241 (Anwendungen in Metallkunde und Mineralogie).
Philibert, J.: Rev. Univ. Mines 18 (1961) 252 (Anwendungen in Metallkunde).
Philibert, J., Descamps, J.: Rev. Univ. Mines 15 (1959) 50 (Oszillographische Speicherung).
Schaaber, O.: Microchim. Acta, Suppl. I (1966) 117 (Automatische Peakeinstellung).
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Glocker, R. (1971). Spektralanalyse. In: Materialprüfung mit Röntgenstrahlen. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-87421-5_6
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