Zusammenfassung
In den letzten Jahren sind die funktionellen Anforderungen an Leiterplatten-Baugruppen beträchtlich gestiegen. Damit haben sich auch Art und Anzahl der im Produktionsprozeß entstehenden Fehler verändert. Ohne rechnergesteuerte Prüfeinrichtungen ist die umfangreiche Prüfung komplexer Leiterplatten-Baugruppen nicht mehr denkbar.
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Bildlegende
Bild 1: Integration der Fertigungs-und Prüfstufen
Bild 2: Prüfen der Leiterplatten-Baugruppen im Produktionsablauf
Bild 3: Aufgabenschwerpunkte einer Prüfvorbereitungsabteilung
Bild 4: Arbeitsflug: Prüfen, Fehlerdiagnose, Reparatur und nochmaliges Prüfen von Leiterplatten-Baugruppen
Bild 5: Test Engineering Workstation als CIM-Modul zwischen CA0 und CAT
Bild 6: Wareneingangsprüfung von VLSI-Bauelementen
Bild 7: Rechnergestütztes Erzeugen von Bohr-und Verdrahtungsdaten für Prüfaufnahmen
Bild 8: TEWS als Simulationsstation für Prüfprogramme
Bild 9: Rechnergestützte Megdaten-Erfassung und -Weiterverwendung
Bild 10: Fehlerdiagnose mit Expertensystem
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© 1989 Springer-Verlag, Berlin, Heidelberg
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Vömel, P.G. (1989). Rechnereinsatz in der Prüftechnik. In: Warnecke, H.J. (eds) Herausforderung Qualität. IPA-IAO — Forschung und Praxis, vol 14. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-84096-8_10
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Publisher Name: Springer, Berlin, Heidelberg
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