Zusammenfassung
Eine numerische Bestimmung von Dehnungs- und Spannungsfeldern aus holografisch interferometrischen Verformungsmessungen erfordert eine Meßgenauigkeit bis zu 1/100 Interferenzstreifenordnung und eine hohe Auflösung mit gleichabständigen Meßpunkten /1/. Weiter müssen die Meßwertaufnahme und die Auswertung automatisiert erfolgen. Eine Detektion der Helligkeitsextrema der Interferenzstreifen und anschließende lineare Interpolation zwischen diesen Orten /2/ erreicht nicht die geforderte Genauigkeit. Erfüllt werden die Anforderungen jedoch von dem auch unter dem Namen Zeilen-Scan bekannten Phase-Step-Verfahren /3, 4, 5/.
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Schrifttum
Kreis, Th., Kreitlow, H., Jüptner, W.: Die holografische Interferometrie als Dienstleistung für eine wirtschaftliche Spannungsanalyse, Proc. Laser 85 Conf., Springer-Verlag, 301–306 (1985)
Kreitlow, H., Kreis, Th.: Entwicklung eines Gerätesystems zur automat isierten statischen und dynamisehen Auswertung holografischer Interferenzmuster, Proc. Laser 79 Conf., IPC Science and Technology Press, 426–436 (1979)
Fischer, B., Geldmacher, J., Jüptner, W.: Untersuchungen zur automatisierten Erkennung und Verarbeitung holografischer Interferenzmuster mit dem Zeilen-Scan-Verfahren, Proc. Laser 79 Conf., IPC Science and Technology Press, 412–425 (1979)
Kreis, Th., Fischer, B., Juptner, W., Sepold, G.: Automatisierte Auswertung holografischer Interferenzmuster bei der Untersuchung von Zugproben, Proc. Laser 81 Conf., Springer-Verlag, 105–110 (1981)
Jüptner, W., Kreis, Th., Kreitlow, H.: Automatic evaluation of holographic interferograms by reference beam phase shifting,Proc. SPIE, vol. 398, 22 – 29 (1983)
Kreis, Th., Roesener, K., Jüptner, W.: Holografisch interferometrische Verformungsmessung mit dem Fourier-Transformations-Verfahren, Proc. Laser 87 Conf., Springer-Verlag (1987)
Jüptner, W., Ringer, K., Welling, H.: Auswertung von Interferenzstreifensystemen bei holografischer Translations- und Dehnungsmessung,Optik vol. 38, 437–448 (1973)
Kreis, Th., Jüptner, W.: Bestimmung von Bauteilfehlern durch ein kombiniertes Verfahren von holografischer Interferometrie und Finite-Elemente-Methode,VDI Berichte Nr. 631, 139 –151 (1987)
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© 1987 Springer-Verlag Berlin Heidelberg
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Roesener, K., Kreis, T., Jüptner, W. (1987). Holografisch interferometrische Verformungsmessung mit dem Phase-Step-Verfahren. In: Waidelich, W. (eds) Laser/Optoelektronik in der Technik / Laser/Optoelectronics in Engineering. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-83174-4_37
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Publisher Name: Springer, Berlin, Heidelberg
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