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Echtzeitholografie mit BSO-Kristall zum Messen der Schichtdickenänderung beim Aushärten von Zwei-Komponenten-Klebstoffen

  • Conference paper
Laser/Optoelektronik in der Technik / Laser/Optoelectronics in Engineering

Zusammenfassung

Bei Präzisions-Klebeverbindungen empfindlicher Bauteile können infolge der Schichtdickenänderung des Klebstoffs beim Aushärten (Schwinden) neben maßlichen Veränderungen auch erhebliche Spannungen und daraus resultierende unzulässige Bauteildeformationen auftreten.

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Literatur

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Authors and Affiliations

  1. Institut für Technische Optik, Universität Stuttgart, Pfaffenwaldring 9, D-7000, Stuttgart 80, Deutschland

    B. Pfister & H. J. Tiziani

Authors
  1. B. Pfister
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  2. H. J. Tiziani
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Editors and Affiliations

  1. Instituts für Medizinische Optik, Universität München, Neuherberg, Deutschland

    Wilhelm Waidelich (o. Professor, Vorstand, Direktor) (o. Professor, Vorstand, Direktor)

  2. Instituts für Angewandte Optik der Gesellschaft für Stahlen- und Umweltforschung, Neuherberg, Deutschland

    Wilhelm Waidelich (o. Professor, Vorstand, Direktor) (o. Professor, Vorstand, Direktor)

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© 1987 Springer-Verlag Berlin Heidelberg

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Pfister, B., Tiziani, H.J. (1987). Echtzeitholografie mit BSO-Kristall zum Messen der Schichtdickenänderung beim Aushärten von Zwei-Komponenten-Klebstoffen. In: Waidelich, W. (eds) Laser/Optoelektronik in der Technik / Laser/Optoelectronics in Engineering. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-83174-4_34

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  • DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-642-83174-4_34

  • Publisher Name: Springer, Berlin, Heidelberg

  • Print ISBN: 978-3-540-18132-3

  • Online ISBN: 978-3-642-83174-4

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