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Part of the book series: IPA-IAO Forschung und Praxis ((IPA,volume 98))

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Literaturverzeichnis

  1. Autorenkollektiv Tribologie in the 80’s NASA Conference Publication 2300 Volume 1+2, Cleveland, Ohio, April 1983

    Google Scholar 

  2. Autorenkollektiv Oberflächentechnik. Vorträge der SURTEC Kongresse 1981,1983 VDI-Verlag, Düsseldorf (1981,1983).

    Google Scholar 

  3. Warnecke, H.-J.; Dutschke, W.: Fertigungsmeßtechnik — Handbuch für Industrie und Wissenschaft. Springer-Verlag, Berlin, Heidelberg, New York, Tokyo, 1984.

    Google Scholar 

  4. Hoffmann, D.: Handbuch Meßtechnik und Qualitätssicherung. Verlag F. Vieweg & Sohn, Braunschweig, Wiesbaden, 1983.

    Google Scholar 

  5. Autorenkollektiv Technische Qualitätssicherung heute und morgen. Technische Akademie Esslingen, Nov. 1985.

    Google Scholar 

  6. Melchior, K.W.: Rationalization in visual inspection: the task of the eighties. Sensor Review, April 1982, S. 64–67.

    Google Scholar 

  7. Hayes-Roth, F.; Watermann, D.A.; Lenat, D.B.: Building Expert Systems. Addison-Wesley Publishing Co. Inc. 1983.

    Google Scholar 

  8. Winston, P.H.; Horn, B.K.P.: LISP. Reading, Mass. Addison Wesley (1981).

    Google Scholar 

  9. Autorenkollektiv: Oberflächenatlas Beuth-Verlag (1983)

    Google Scholar 

  10. Henzold, G.: Oberflächenmaß, Abschnitt 4.2.5 in /1.3/

    Google Scholar 

  11. Schmutz, W.: Fluoreszenzmeßverfahren zur Schmierfilm dickenmessung in Wälzlagern. Dissertation, Universität Stuttgart, 1984.

    Google Scholar 

  12. Whitehouse, D.J.: Surfaces — A link between manufacture and function. Proc.Instn.Mech.Eng. Vol. 192, 19 (1978)

    Google Scholar 

  13. Hillmann, W.: Forschung und Entwicklung auf dem Gebiet der Rauheitsmessung. Technisches Messen 5/6/7/8, 1980.

    Google Scholar 

  14. Thomas, T.R.: Rough Surfaces, Longman Group Limited (1982).

    Google Scholar 

  15. Autorenkollektiv: Aussprachetag Oberflächenmeßtechnik, VDI/VDE-GMR, Berlin (1978)

    Google Scholar 

  16. DIN 4760 06.82: Gestaltsabweichungen; Be griffe, Ordnungssystem.

    Google Scholar 

  17. DIN 4761 17.78 Oberflächencharakter; Geometrische Oberflächentextur — Merkmale, Begriffe, Kurzzeichen.

    Google Scholar 

  18. DIN 4762 Teil 1 05.78 (Entwurf) Oberflächenrauheit; Begriffe.

    Google Scholar 

  19. DIN 4768 Teil 1 08.74: Ermittlung der Rauheitsmeßgrößen Ra, Rz, Rmax mit elektrischen Tastschnittgeräten; Grundlagen.

    Google Scholar 

  20. DIN 4775 06.82: Prüfen der Rauheit von Werkstück- oberflächen.

    Google Scholar 

  21. DIN 3141 03.60 (Vornorm) Oberflächenzeichen in Zeichnungen; Zuordnung der Rauhtiefen.

    Google Scholar 

  22. DIN ISO 1302 06.80: Technische Zeichnungen; Angabe der Oberflächenbeschaffenheit in Zeichnungen.

    Google Scholar 

  23. DIN 4769 Teil 1 05.72: Oberflächen-Vergleichsmuster Technische Lieferbedingungen, Anwendung.

    Google Scholar 

  24. ISO 3274–1975: Geräte zum Messen der Oberflächenrauheit nach dem Profil-Meßverfahren — Tastschnitt geräte mit fortlaufender Profilübertragung Tastschnittgeräte nach dem M-System.

    Google Scholar 

  25. VDI/VDE 2602 0.5.78 Rauheitsmessung mit elektrischen TastSchnittgeräten.

    Google Scholar 

  26. Blatt 1: Anforderungen an die Oberflächengestalt zur Sicherung der Funktionstauglichkeit spanend hergestellter Flächen; Zusammenstellung der Meßgrößen.

    Google Scholar 

  27. Bodschwinna, H Möglichkeiten der Analyse und Bewertung technischer Oberflächen auf der Grundlage der Tastschnittmeßverfahren. Inst.f. Meßtechnik im Maschinenbau, Universität Hannover.

    Google Scholar 

  28. Autorenkollektiv: Surface Metrology Optical Engineering, 24(1985) 3 371–427

    Google Scholar 

  29. Häsing, J.: Herstellung und Eigenschaften von Referenznormalen für das Einstellen von Oberflächenmeßgeräten. Werkstattstechnik, 55 (1965) 8.

    Google Scholar 

  30. Teague, E.C.; Scire, F. E.; Vorburger, T.V.: Sinusoidal Profile Precision Roughness Specimens. Wear, 83 (1982), 61–73.

    Article  Google Scholar 

  31. Kranz, O.: Untersuchungen des Abtastvorganges bei der Rauheitsmessung. PTB-Bericht, Juli 1980.

    Google Scholar 

  32. Bodschwinna, H.: Oberflächenprüfgeräte, Abschnitt 7.4 in /1.3/.

    Google Scholar 

  33. Garratt, J.D.: A New Stylus Instrument with a wide Dynamic Range for Use in Surface Metrology. Prec. Eng. 4 (1982) 3, 145–151.

    Article  Google Scholar 

  34. Garratt, J.D.: An Interferometric Transducer for Surface Metrology. Disseration, University of Aberdeen, 1977.

    Google Scholar 

  35. Duffin, F.C.: Electronic Interference Fringe Divide and Counter. Disseration, University of Aberdeen, 1975.

    Google Scholar 

  36. Salje, E.: Der Rauheitssensor — Ein Meßgerät zur on-line-Messung der Oberflächenrauheit. VI. Oberflächenkolloqium 1984 Technische Hochschule Karl-Marx-Stadt

    Google Scholar 

  37. Dutschke, W.; Rau, N.: Elektrisches Messen der Oberflächenrauheit während der Bearbeitung am rotierenden Werkstück. Meßtechnische Briefe 13 (1977), S. 1–6.

    Google Scholar 

  38. N.N. Surf-Ex-Capacitance-Based Surface Metrology. Firmenschrift, SurfEx, Irwin, USA

    Google Scholar 

  39. Thurn, G.: Automatisierte Oberflächenprüfung durch rechnergestützes Messen der Streulichtverteilung. Dissertation, TU Berlin, 1984.

    Google Scholar 

  40. Breitinger, R.: Fehlerquellen beim pneumatischen Längenmessen. Dissertation, Universität Stuttgart, 1969.

    Google Scholar 

  41. Binnig, G.; Rohrer, H.: Scanning Tunneling Microscopy. IBM-Research Report, San Jose, Yorktown, Zürich, 1984.

    Google Scholar 

  42. Bijnnig, G.; Rohrer, H.: Das Raster-Tunnel-Mikroskop. Phys. Bl. 39 (1983), Nr. 1.

    Google Scholar 

  43. Schmaltz, G.: Technische Oberflächenkunde, Springer-Verlag, Berlin (1936).

    Google Scholar 

  44. Beckmann, P.; Spizzichino, A.: The Scattering of Electromagnetic Waves from Rough Surfaces. Pergamon-Press, London, New York, 1963.

    Google Scholar 

  45. Eckolt, K.: Messung von Oberflächenprofilen mit dem Raster-Elektronenmikroskop — Herstellen und Auswerten von Stereobildpaaren. Universität Hannover, PTB-Me-44, April 1983.

    Google Scholar 

  46. N.N. Lichtschnitt-Mikroskop Gebrauchsanweisung G 60–620/e-d Carl Zeiss, Oberkochen/Württ.

    Google Scholar 

  47. N.N. Automatic Optoelectronic Level Meter. Firmenschrift Tokyo KO-ON. DENPA Co., Ltd., Japan.

    Google Scholar 

  48. Schreiber, L.: 3D-Messung mit Hilfe kodierender Beleuchtung; aus /I.5/

    Google Scholar 

  49. Wyant, J.C.: Interferometric Optical Metrology. Basic Principles and New Systems. Laser Focus 5 (1982), 65–71.

    Google Scholar 

  50. N.N. Microfringe — Video Interferogram Analysis System. Firmenschrift Applied Micro Technology, Tucson, Arizona, USA.

    Google Scholar 

  51. Ertl, F.: Aufbau und Untersuchung eines berührungslos optisch arbeitenden Längenmeßverfahrens für den Einsatz in der Fertigung. Dissertation TH Darmstadt 1978.

    Google Scholar 

  52. Ahlers, R.-J.; Thiel, S.: Optisches Antasten. DGaO, VDI-VDE Gesellschaft für Feinwerktechnik. Tagung 12.-16. Juni 1984, Isny/Allgäu.

    Google Scholar 

  53. Teague, E.C.: Surface finish measurements an overview Technical Paper of SME, IQ75–137, Dearborn, Michigan, 1975.

    Google Scholar 

  54. Teague, E.C.; Vorburger, T.V.; Maystre, D.: Light Scattering from Manufactured Surfaces. Annals of the CIRP Vol. 30, 1981, 563.

    Article  Google Scholar 

  55. Vorburger, T.V.; Teague, E.C.: Optical Tecchniques for on-line measurement of surface topography. Precision Engineering 3, 61 1981.

    Article  Google Scholar 

  56. Vorburger, T.V.; Teague, C.E.; Scire, F.E.; McLay, M.J.; Gilsinn, D.E.: Surface Roughness Studies with DALLAS-Detector. Array of Laser Light Angular Scattering. Journal of Research on NBS, Vol. 89, No. 1, Jan.-Feb. 1984.

    Google Scholar 

  57. Vorburger, T.V.; Luderna, K.C.: Ellipsometry of Rough Surfaces. Appl. Optics, Vol. 19 (1980), No. 4.

    Article  Google Scholar 

  58. Grabe, M.: Optische Prüfung mikroskopisch rauher Oberflächen. Dissertation, TH Braunschweig, 1970.

    Google Scholar 

  59. Piwonka, F.; Gast, Th.: On-line Messung der Rauhtiefe voil periodisch zerspanten Oberflächen über die Rückstreuindikatrix. Technisches Messen 9 (1979), 339–347.

    Google Scholar 

  60. Thurn, G.; Gast, TH.; Feutlinske, K.: Optische Meßverfahren zur Bestimmung von Maß, Form und Oberflächengüte. VDI-Bericht Nr. 408, 1981.

    Google Scholar 

  61. Brodmann, R. Optisches Rauheitsmeßgerät für die Fertigung. Feinwerktechnik und Meßtechnik 91, 1983, 3

    Google Scholar 

  62. Brodmann, R.; Hübner, G.; Rauh, N.; Staiger, W.: Überwachung der Oberflächen in der Schwinghebelfertigung mit optischem Rauheitsmeßgerät. Werkstatt und Betrieb 116, (983), 11.

    Google Scholar 

  63. Brodmann, R.; Gast, Th.; Thurn, G.: An Optical Instrument for Measuring the Surface Roughness in Production Control. Annals of the CIRP, Vol. 33/1/1984.

    Article  Google Scholar 

  64. Thum, G.: Automatisierte Oberflächenprüfung durch rechnergestütztes Messen der Streulichtverteilung. Dissertation, TU-Berlin, 1984.

    Google Scholar 

  65. Brodmann, R.; Gerstorfer, O. Paisdzior, H.: Roughness and Waviness Measurement of Fine-Machined Surfaces by Means of Light Scattering. Conference ASNT, Las Vegas, Nov. 1985.

    Google Scholar 

  66. Azzam, R.M.A; Bashara, N.M.: Ellipsometry and Polarized Light North Holland, Amsterdam (1977)

    Google Scholar 

  67. Vorburger, T.V.; Luderna, K.C.: Ellipsometry of Rough Surfaces. Appl. Opt. 19 (1980), 4. 521–573.

    Article  Google Scholar 

  68. Thwaite, E.G.: The Extension of Optical Angular Scattering Techniques to the Measurement of Intermediate Scale Roughness. Annals of the CIRP, Vol. 31/1/1982.

    Article  Google Scholar 

  69. Gabor, D.: A New Microscope Principle. Nature, 161 (1948), 777.

    Article  Google Scholar 

  70. Leith, E.N.; Upatnieks, J.: Reconstructed Wavefronts and Communication Theory. J.Opt.Soc.Am., 52 (1962), 1123.

    Google Scholar 

  71. Goodman, J.W.: Introduction to Fourier Optics. Mc Graw — Hill Book Company, New York 1968.

    Google Scholar 

  72. Dainty, J.C.: Laser Speckle and Related Phenomena. Topics in Applied Physics, Vol. 9 Springer-Verlag, 1975.

    Google Scholar 

  73. Erf, R.K.: Speckle Metrology. Quantum Electronics — Principles and Applications. Academic Press, 1978.

    Google Scholar 

  74. Francon, M.: Laser Speckle and Applications in Optics. Academic Press, 1979.

    Google Scholar 

  75. Goodman, J.W.: Statistical Properties of Laser Speckle Pattern. aus /4.4/, Kapitel 2.

    Google Scholar 

  76. Parry, G.: Speckle Pattern in Partially Coherent Light. aus /4.4/, Kapitel 3.

    Google Scholar 

  77. Asakura, T.: Surface Roughness Measurement, aus /4.5/, Kapitel 3.

    Google Scholar 

  78. Leger, D.; Perrin, J.C.: Real Time Measurement of Surface Roughness by Correlation of Speckle. J.Opt.Soc.Am. 66 (1976), 1210.

    Article  Google Scholar 

  79. Tribillon, G. Garcia, M.: Speckle Image a deux Longueurs d’onde. Opt. Comm. 20 (1977) 229.

    Article  Google Scholar 

  80. Bitz, G.: Verfahren zur Bestimmung von Rauheitskenngrößen durch Speckle-Korrelation. Fortschritt-Berichte der VDI-Zeitschriften Reihe 8, Nr. 47, VDI-Verlag, Düsseldorf (1982).

    Google Scholar 

  81. Sprague, R.A.: Surface Roughness Measurement Using White Light Speckle. Appl. Optics 11 (1972) 12, 2, 811.

    Google Scholar 

  82. Rau, A.: Untersuchung eines kohärent-optischen Verfahrens zur Rauheitsmessung. Forschung und Praxis, Schriftenreihe aus dem Fraunhofer-Institut für Produktionstechnik und Automatisierung, Krausskopf-Verlag, (1979).

    Google Scholar 

  83. Pfister, B.: Sensor zur berührungsfreien Messung der Rauheit technischer Oberflächen und Digitalisierung der Auswertung. Diplomarbeit, Universität Stuttgart, 1980.

    Google Scholar 

  84. Leonhardt, K.; Pfister, B.: Ein neues optisches Verfahren zur schnellen berührungslosen Rauheitsmessung technischer Oberflächen. Optik, 58 (1981) 5, 297–319.

    Google Scholar 

  85. Leonhardt, K.; Tiziani, H.J.: Removing Ambiguities in Surface Roughness Measurement. Optica Acta, 29 (1982) 4, 493–499.

    Article  Google Scholar 

  86. Leonhardt, K.; Kaufmann, E.; Tiziani, H.J.: Determination of Average Roughness and Profile Autocorrelation Width of Metallic Surfaces With a White Light Sensor. Optics Communications, 51 (1984), 6, S. 363–367.

    Article  Google Scholar 

  87. Born, M.; Wolf, E.: Principles of Optics Pergamon Press (1980).

    Google Scholar 

  88. Lutz, E.; Tröndle, K.: Systemtheorie der optischen Nachrichtentechnik. Oldenbourg-Verlag, München (1983).

    Google Scholar 

  89. Hecht, E.; Zajac, A.: Optics. Addison-Wesley-Publsihing Company. Reading, London, Tokyo, (1980).

    Google Scholar 

  90. Berant, M.J.; Parrent, G.B.: Theory of Partial Coherence. Prentice-Hall Inc. Englewood. Cliffs (1964).

    Google Scholar 

  91. Menzel, E.; Mirande, W.; Weingärtner, I.: Fourier-Optik und Holographie. Springer-Verlag, Wien, New York, 1983.

    Google Scholar 

  92. Papoulis, A.: Systems and Transforms with Applications in Optics. Mc Graw-Hill Book Company, New York, London (1968).

    Google Scholar 

  93. Frieden, B.R.: Probability, Statistical Optics and Data Testing. A Problem Solving Aproach. Springer-Verlag, Berlin, Heidelberg, New York (1983).

    Google Scholar 

  94. Bloerabergen, N.: Nonlinear Optics. Benjamin Inc. New York 1965.

    Google Scholar 

  95. Jackson, J.D.; Classical Eletrodynamics John Wiley and Sons (1962).

    Google Scholar 

  96. Pedersen, H.M.: On the Contrast of Polychromatic Speckle Patterns und its Dependence on Surface Roughness. Optica Acta, 1975, Vol. 22, No. 1.

    Article  Google Scholar 

  97. Pedersen, H.M.: Object-Roughness Dependence of Partially Developed Speckle Patterns in Coherent Light. Optics Communications, Vol. 16, No. 1 (1976), 63–67.

    Article  Google Scholar 

  98. Fujii, H.; Uozumi, J.; Asakura, T.: Computer simulation study of image speckle patterns with relation to object surface profile. J.Opt.Soc.Am.; 66 (1976) 11, 1222–1236.

    Article  Google Scholar 

  99. Mesch, F.: Beschreibung rauher Oberflächen durch zweidimensionale Korrelationsfunktionen und Spektren. V. Oberflächen Kolloquium, 3.-7. März 1980, Dresden.

    Google Scholar 

  100. Tiziani, H.J.: aus /4.5/, Kapitel 2.

    Google Scholar 

  101. Whitehouse, D.J.; Phillips, M.J.: Two dimensional discrete properties of random surfaces. Phil. Trans.R.Soc. London A305 (1982) 441–468.

    Google Scholar 

  102. Maystre, D.: Electromagnetic Scattering from Perfectly Conducting Rough Surfaces in the Resonance Region. IEEE Transaction on Antennas and Propagation, Vol. AP-31, No.6 (1983)

    Google Scholar 

  103. Maystre, D.: Rigorous Theory of Light Scattering from Rough Surfaces. J. Optics (Paris), 15 (1984) 1, 43–51.

    Google Scholar 

  104. Garcia, N.; Celli, V.; Nieto-Vesperinas, M.: Exact Multiple Scattering of Waves from Random Rough Surface. Optics Comm. 30 (1979) 3, 279–281.

    Article  Google Scholar 

  105. Nieto-Vesperinas, M.; Garcia, N.: Non-circular speckle contrast in the exact theory of multiple scattering of waves from random rough surfaces. Optics. Comm. 35 (1980) 1, 25–30.

    Article  Google Scholar 

  106. Beckmann, P.: Shadowing of Random Rough Surfaces. IEEE Trans.Ant.Prop. AP-13 (1965), 384–388.

    Article  Google Scholar 

  107. Wagner, R.J.: Shadowing of Randomly Rough Surfaces. J. Acoust Soc.Am. 41 (1967) 1.

    Article  Google Scholar 

  108. Brockelman, R.: Hagfors, T.: Effect of Shadowing on the Back-scattering of Waves from a Random Rough Surface. IEEE, Transactions on antennas and propagation,AP-14 (1966) 5,621–626

    Article  Google Scholar 

  109. Stansberg, C.T.: Surface Roughness Measurement by Means of Polychromatic Speckle Patterns. Appl. Opt. 18 (1979) 4051.

    Article  Google Scholar 

  110. Frieden, B.R.: The Computer in Optical Research — Methods and Applications. Springer Verlag, Berlin (1980).

    Google Scholar 

  111. Brigham, E.O.: FFT-Schnelle Fourier-Transformation. Oldenbourg-Verlag, (198).

    Google Scholar 

  112. Bracewell, R.M.: The Fourier Transform and its Applications. Mc Graw Hill, New York (1965)

    Google Scholar 

  113. Ahlers, R.-J.: Einsatz von Halbleiter-Lasern in der Meßtechnik — Optische Rauheitsmessung mittels Speckle-Kontrast-Verfahren. Optoelektronik in der Technik, Hrsg. Prof. W. Waidelich, Springer-Verlag, Berlin, Heidelberg (1982).

    Google Scholar 

  114. Mandelbrot, B.B.: Fractals: Form, Chance and Dimension. W.H. Freeman and Co, San Francisco, 1977.

    Google Scholar 

  115. Mandelbrot, B.B.: The Fractal Geometry of Nature. W.H. Freeman and Co, San Francisco, 1983.

    Google Scholar 

  116. Farmer, J.D.: Dimension, Fractal Measure and Chaotic Dynamics, in Evolution in Order and Chaos. Series in Synergetic, H. Haken, ed., Springer, Berlin, New York, 1982.

    Google Scholar 

  117. Müssigmann, U.; Rueff, M.: Interne Mitteilungen des Fraunhofer-Instituts für Produktions-technik und Automatisierung, (1985).

    Google Scholar 

  118. Jakeman, E.: Scattering by fractal objects. Nature, Vol. 397, No. 5947, p. 110, January 12, 1984.

    Article  Google Scholar 

  119. Jakeman, E.: Fresnel scattering by a corrugated random surface with fractal slope. J. Opt. Soc. Am., Vol. 72, No. 8, August 1982.

    Google Scholar 

  120. Berry, M.V.: J. Phys. A 12, 781 (1979).

    Article  Google Scholar 

  121. Rueff, M.; Müssigmann, U.; Rauh, W.: White light optical study of the U.; roughness of metallic surfaces. Some new aspects for the interpretation of the optical signals. (Veröffentlichung ist in Vorbereitung)

    Google Scholar 

  122. Gardner, M.: Weiße und braune Melodien. Schachtelkurven und 1/f Fluktuationen, Spektrum der Wissenschaften, Juni 1980

    Google Scholar 

  123. Press, W.H.: Flicker Noises in Astronomy and Elsewhere. Comments on Modern Physics, Gordon and Breach, London, 1978.

    Google Scholar 

  124. Müssigmarm, U.: Fraktale und Selbstähnlichkeit, Diplomarbeit, Universität Stuttgart, Mai 1985.

    Google Scholar 

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Ahlers, RJ. (1986). Literaturverzeichnis. In: Die optische Rauheitsmessung in der Qualitätstechnik. IPA-IAO Forschung und Praxis, vol 98. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-82950-5_7

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