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Schaltungsarten

  • Karlheinrich Horninger
Chapter
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Part of the Halbleiter-Elektronik book series (HALBLEITER, volume 14)

Zusammenfassung

Aus den im Kap. 4 beschriebenen Grundschaltungen werden Funktionsblöcke und daraus großintegrierte Bausteine hergestellt. Es zeigt sich, daß neben der Entwicklung der Schaltelemente zu höheren Packungsdichten und besseren elektrischen Eigenschaften auch die Schaltungstechnik weiterentwickelt und Verfahren zum raschen Entwurf von LSI- und VLSI-Schaltungen gefunden werden müssen. Diese Entwicklung führte im wesentlichen bis jetzt zu drei Schaltungsarten: festverdrahtete, programmierbare und programmgesteuerte Schaltungen. Über diese Schaltungen wird im folgenden berichtet. Außerdem werden abschließend diese Schaltungsarten gegeneinander abgewogen, sowie Entwicklungsaufwand und Ausbeute abgeschätzt.

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Literatur zu 6

  1. 6.1.
    Koller, K.; Lauther, K.: Siemens Forsch. u. Entwickl.-Ber. 5 (1976) 350Google Scholar
  2. 6.2.
    Braeckelmann, N., et al.: ISSCC Dig. of Tech. Papers (1977) 108Google Scholar
  3. 6.3.
    Burkard, W.D.; VLSI Design. II (1981) 14Google Scholar
  4. 6.4.
    Fleisher, H.; Maissel, L.I.: IBM J. Res. Dev. 19 (1975) 98CrossRefGoogle Scholar
  5. 6.5.
    Horninger, K.: IEEE J. Solid State Circuits SC 10 (1975) 331CrossRefGoogle Scholar
  6. 6.6.
    Schmookler, M.S.: IBM J. Res. Dey. 24 (1980) 2CrossRefGoogle Scholar
  7. 6.7.
    Weinberger, A.: IBM J. Res. 23 (1979) 163zbMATHCrossRefGoogle Scholar
  8. 6.8.
    Cook, P.W.; Ho, W.C.; Schuster, S.E.: IEEE J. Solid State Circuits SC 14 (1979) 833CrossRefGoogle Scholar
  9. 6.9.
    Hilburn, J.L.; Julich, P.M.: Microcomputers/Microprocessors. Englewood Cliffs: Prentice-Hall 1976Google Scholar
  10. 6.10.
    Greenfield, S.E.: The architecture of microcomputers. Cambridge: Winthrop Publ. 1980Google Scholar
  11. 6.11.
    Mudge, C.: NATO Advanced Study Institute July 1980Google Scholar
  12. 6.12.
    Murphy, B.T.: Proc. IEEE 52 (1964) 1537Google Scholar
  13. 6.13.
    Warner, R.M. IEEr J. Solid State Circuits SC 9 (1974) 86CrossRefGoogle Scholar
  14. 6.14.
    Stapper, Fr.C.H.: IEEE J. Solid State Circuits SC 9 (1974) 537Google Scholar
  15. 6.15.
    Murrmann, H.; Kranzer, D.: Siemens Forsch. u. Entwickl.Ber. 9 (1980) 38Google Scholar
  16. 6.16.
    Sud, R.; Hardee, K.C.: Electronics 11 (1980) 117Google Scholar
  17. 6.17.
    Cenker, R.P, et al.: ISSCC Dig. of Tech. Papers (1979) 150Google Scholar
  18. 6.18.
    Bouricius, W.G., et al.: IEEE Trans. Comput. C 20 (Nov. 1971)Google Scholar
  19. 6.19.
    Stewart, J.H.: Proc. Sem. Test Conf. 1978Google Scholar
  20. 6.20.
    Breuer, M.A.; Friedman, A.D.: Diagnosis and reliable design of digital systems. Woodland Hills: Pitman Publ. 1976Google Scholar
  21. 6.21.
    Hayers, J.P.; Friedman, A.D.: IEEE Trans. Comput. C 23 (Juli 1974 )Google Scholar
  22. 6.22.
    Williams, M.J.Y.; Angell, J.B.: IEEE Trans. Comput. C. 22 (Jan. 1973)Google Scholar
  23. 6.23.
    Eichelberger, E.B.; Williams, T.W.: Proc. 14th Design Autom. Conf. 1977Google Scholar
  24. 6.24.
    Bottorf, P.S., et al.: Proc. 14th Design Autom. Conf. 1977Google Scholar
  25. 6.25.
    Ostapko, D.L.; Hong, S.J.: Digest 8th Int. Conf. on Fault Tolerant Computing 1978Google Scholar
  26. 6.26.
    Clary, J.B.; Sacane, R.A.: Computer (Okt. 1979 )Google Scholar
  27. 6.27.
    Bennetts, R.G.: Microproc. and Microsyst. 3 (1979) Nr. 8Google Scholar
  28. 6.28.
    Koppel, R.: Comput. Des. (März 1979 )Google Scholar
  29. 6.29.
    Boney, J.: Electron. Des. 18 (Sept. 1979)Google Scholar
  30. 6.30.
    Gordon, G.; Nadig, H.: Electronics 50 (1977) Nr. 5Google Scholar
  31. 6.31.
    Könemann, B., et al.: NTG-Fachber. 68 (1979)Google Scholar
  32. 6.32.
    Zwiehoff, G., et al.: NTG-Fachber. 68 (1979)Google Scholar
  33. 6.33.
    Mucha, J.: Nachrichtentech. Z. 32 (1979) Nr. 7Google Scholar
  34. 6.34.
    Grassi, G.: NATO Advanced Study Institute, Juli 1980Google Scholar
  35. 6.35.
    Feuerbaum, H.-P.; Kubalek, E.: BEDO 8 (1975)Google Scholar
  36. 6.36.
    Reimer, L.; Pfefferkorn, G.: Raster-Elektronenmikroskopie, 2. Aufl. Berlin, Heidelberg, New York: Springer 1977Google Scholar
  37. 6.37.
    Fazekas, P.; Feuerbaum, H.-P.; Lindner, R.; Wolfgang, E.: NTG-Fachber. 68 (1979) 149Google Scholar
  38. 6.38.
    Feuerbaum, H.-P.: SEM, 1 (1979) 285Google Scholar
  39. 6.39.
    Gopinath, A.; Gopinathan, K.G.; Thomas, P.R.: SEM 1 (1978) 375Google Scholar
  40. 6.40.
    Plows, G.S.; Nixon, W.C.: J. Phys. E.: Sci. Instrum. 11 (1968) 595CrossRefGoogle Scholar
  41. 6.41.
    Wolfgang, E.; Otto, J.; Kantz, D.; Lindner, R.: SEM 4 (1976) 625Google Scholar
  42. 6.42.
    Feuerbaum, H.-P.; Kantz, D.; Wolfgang, E.; Kubalek, E.: IEEE J. Solid State Circuits SC 13 (1978) 319CrossRefGoogle Scholar
  43. 6.43.
    Fazekas, P.: Tech. Messen 48 (1981) 29Google Scholar
  44. 6.44.
    Molloy, H.: Eur. Electronics 14 (1981) Nr. 1Google Scholar
  45. 6.45.
    Hörbst, E., et al.: Elektronik. H. 19, 20, 21, 22 (1984) 65, 79, 85, 129Google Scholar
  46. 6.46.
    Vollmer, H., et al.: ESSCIRC Dig. of Techn. Papers (1985) 263Google Scholar
  47. 6.47.
    Hörbst, E., et al.: VENUS, Entwurf von VLSI-Schaltungen. Berlin, Heidelberg, New York, Tokyo: Springer 1986Google Scholar

Copyright information

© Springer-Verlag, Berlin, Heidelberg 1987

Authors and Affiliations

  • Karlheinrich Horninger
    • 1
  1. 1.Zentrale Aufgaben InformationstechnikSiemens AGMünchenDeutschland

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