Skip to main content

Einsatz von Halbleiter-Lasern in der Meßtechnik — Optische Rauheitsmessung mittels Speckle-Kontrast-Verfahren

  • Conference paper
Book cover Optoelektronik in der Technik / Optoelectronics in Engineering
  • 228 Accesses

Zusammenfassung

Beim Betrachten oder Befühlen einer Oberfläche neigen wir sehr schnell dazu,diese subjektiv als „schön“,„häßlich“,“angenehm” usw. zu bewerten. In diese Bewertung fließt-ohne daß wir uns dessen bewußt werdenein wichtiges geometrisches Qualitätsmerkmal mit ein:die jeweils vorliegende Oberflächenrauheit.

This is a preview of subscription content, log in via an institution to check access.

Access this chapter

Chapter
USD 29.95
Price excludes VAT (USA)
  • Available as PDF
  • Read on any device
  • Instant download
  • Own it forever
eBook
USD 84.99
Price excludes VAT (USA)
  • Available as PDF
  • Read on any device
  • Instant download
  • Own it forever
Softcover Book
USD 109.99
Price excludes VAT (USA)
  • Compact, lightweight edition
  • Dispatched in 3 to 5 business days
  • Free shipping worldwide - see info

Tax calculation will be finalised at checkout

Purchases are for personal use only

Institutional subscriptions

Preview

Unable to display preview. Download preview PDF.

Unable to display preview. Download preview PDF.

Schrifttum

  1. T.Asakura: In Speckle Metrology ed. by R.K.Erf (Academic Press,New York 1978 )

    Google Scholar 

  2. J.W.Goodman: In Laser Speckle and Related Phenomena ed. by J.C.Dainty (Springer Verlag,Berlin New York 1975 )

    Google Scholar 

  3. N.Rau;K.Leonhardt: Bestimmen der Oberflächenrauheit im Granulationsmuster HGF 79/94

    Google Scholar 

  4. N.Rau: Untersuchung eines kohärent-optischen Verfahrens zur Rauheitsmessung BMFT-Forschungsbericht T 81-o65,Februar 1981 (Fraunhofer-Institut für Produktionstechnik und Automatisierung)

    Google Scholar 

  5. H.M.Pedersen: Object-Roughness Dependence of Partially Developed Speckle Patterns in Coherent Light Optics Communications,Vol.16 N[stack] 1,January 1976

    Google Scholar 

Download references

Author information

Authors and Affiliations

Authors

Editor information

Editors and Affiliations

Rights and permissions

Reprints and permissions

Copyright information

© 1982 Springer-Verlag Berlin, Heidelberg

About this paper

Cite this paper

Ahlers, RJ. (1982). Einsatz von Halbleiter-Lasern in der Meßtechnik — Optische Rauheitsmessung mittels Speckle-Kontrast-Verfahren. In: Waidelich, W. (eds) Optoelektronik in der Technik / Optoelectronics in Engineering. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-81693-2_33

Download citation

  • DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-642-81693-2_33

  • Publisher Name: Springer, Berlin, Heidelberg

  • Print ISBN: 978-3-540-10969-3

  • Online ISBN: 978-3-642-81693-2

  • eBook Packages: Springer Book Archive

Publish with us

Policies and ethics