Skip to main content
SpringerLink
Log in

Präparation

  • Chapter
Raster-Elektronenmikroskopie

Zusammenfassung

In der Raster-Elektronenmikroskopie kann man Oberflächen fester Objekte direkt abbilden, wenn sie

  1. 1.

    sauber (frei von Belegungen) sind,

  2. 2.

    hoehvakuumbeständig sind (ihre Form nicht verändern und nicht gasen),

  3. 3.

    sich unter Elektronenbeschuß nicht verändern,

  4. 4.

    keine störenden Aufladungen zeigen sowie

  5. 5.

    eine hinreichend hohe Sekundärelektronen-Ausbeute liefern.

This is a preview of subscription content, log in via an institution to check access.

Access this chapter

Log in via an institution
Chapter
USD 29.95
Price excludes VAT (USA)
  • Available as PDF
  • Read on any device
  • Instant download
  • Own it forever
eBook
USD 69.99
Price excludes VAT (USA)
  • Available as PDF
  • Read on any device
  • Instant download
  • Own it forever
Softcover Book
USD 89.99
Price excludes VAT (USA)
  • Compact, lightweight edition
  • Dispatched in 3 to 5 business days
  • Free shipping worldwide - see info

Tax calculation will be finalised at checkout

Purchases are for personal use only

Institutional subscriptions

Preview

Unable to display preview. Download preview PDF.

Unable to display preview. Download preview PDF.

Literatur zu §8

  • Abraham, J. L., De Nee, P. B.: IITRI/SEM/1974, 251

    Google Scholar 

  • Anderson, T. F.: Trans. N. Y. Acad. Sci. Ser. II, 13, 130 (1951)

    Google Scholar 

  • Ashraf, M., Livingston, L. HL, Bloor, C. M.: IITRI/SEM/1976 II, 179

    Google Scholar 

  • Bach, H.: J. Non-Cryst. Sol. 3, 1 (1970)

    Article  ADS  MathSciNet  Google Scholar 

  • Bach, H.: BEDO 5, 479 (1972)

    Google Scholar 

  • Bach, H., Blaschke, R., Bode, M., Pfefferkorn, G., Umrath, W.: BEDO 4/2, 363 (1971)

    Google Scholar 

  • Bach, H., Schröder, H.: Z. Physik 224, 122 (1969)

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Barber, V. C., Boyde, A.: Z. Zellforsch. 84, 269 (1968)

    Article  Google Scholar 

  • Barnes, I. E.: Brit. Dent. J. 133, 337 (1972)

    Article  Google Scholar 

  • Barnes, I. E.: Brit. J. Dermat. 89, 277 (1973)

    Article  Google Scholar 

  • Bartlett, A. A., Burstyn, H. P.: IITRI/SEM/1975, 305

    Google Scholar 

  • Becker, R. P., De Bruyn, P. P. H.: IITRI/SEM/1976 II, 171

    Google Scholar 

  • Blaha, J., Grasenick, F., Horn, H., Jakopié, E.: Radex-Rundschau 1960, 429

    Google Scholar 

  • Blaschke, R.: Fortschr. Miner. 47, 197 (1970a)

    Google Scholar 

  • Blaschke, R.: BEDO 3, 17 (1970b)

    Google Scholar 

  • Böhm, E.: BEDO 4/2, 563 (1971 a)

    Google Scholar 

  • Böhm, E.: BEDO 4/2, 549 (1971b)

    Google Scholar 

  • Bollmann, W.: Phys. Rev. 103, 1588 (1956)

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Boyde, A.: IITRI/SEM/1972, 257

    Google Scholar 

  • Boyde, A.: IITRI/SEM/1974, 1043

    Google Scholar 

  • Boyde, A.: IITRI/SEM/1975, 295

    Google Scholar 

  • Boyde, A., Echlin, P.: IITRI/SEM/1973, 759

    Google Scholar 

  • Boyde, A., Vesely, P.: IITRI/SEM/1972, 265

    Google Scholar 

  • Boyde, A., Wood, C.: J. Microscopy 90, 221 (1969)

    Article  Google Scholar 

  • Brooks, S. E. H., Haggis, G. H.: Lab. Invest. 29, 60 (1973)

    Google Scholar 

  • Brown, A. C., Swift, J. A.: BEDO 3, 299 (1970)

    Google Scholar 

  • Carpenter, G. J. C.: Rev. Sci. Instr. 42, 531 (1971)

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Castaing, R.: Proc. 3rd Intern. Conf. Electron Microscopy, p. 379. London 1954

    Google Scholar 

  • Cohen, A. L., Marlow, D. P., Garner, G. E.: J. Microscopic 7, 331 (1968)

    Google Scholar 

  • Christenhusz, R., Bode, M.: BEDO 1, 177 (1968)

    Google Scholar 

  • De Bault, L. E.: IITRI/SEM/1973, 317

    Google Scholar 

  • De Nee, P. B.: IITRI/SEM/1971, 209

    Google Scholar 

  • De Nee, P. B., Abraham, J. L., Willard, P. A.: IITRI/SEM/1974, 259

    Google Scholar 

  • De Nee, P. B. Walker, E. R.: IITRI/SEM/1975, 225

    Google Scholar 

  • Dingley, D. J.: IITRI/SEM/1970, 329

    Google Scholar 

  • Echlin, P.: IITRI/SEM/1971, 225

    Google Scholar 

  • Echlin, P.: IITRI/SEM/1975, 217

    Google Scholar 

  • Echlin, P., Paden, R., Dronzek, B., Wayte, R.: IITRI/SEM/1970, 49

    Google Scholar 

  • Erlandsen, S. L., Thomas, A., Wendelschafer, G.: IITRI/SEM/1973, 349

    Google Scholar 

  • Flechon, J. E., Bergström, S., Jaszczak, S., Hafez, E. S. E.: IITRI/SEM/1975, 325

    Google Scholar 

  • Flood, P. R.: IITRI/SEM/1975, 287

    Google Scholar 

  • Frisch, B., Lewis, S. M., Stuart, P. R., Osborn, J. S.: IITRI/SEM/1975, 165

    Google Scholar 

  • Fromme, H. G., Pfautsch, M., Pfefferkorn, G., Bystricky, V.: Microscopica Acta 73, 29 (1972)

    Google Scholar 

  • Fromme, H. G., Riedel, H., Vahl, J.: DZZ 22, 395 (1967)

    Google Scholar 

  • Fujita, T., Miyoshi, M., Tokunaga, J.: Z. Zeilforsch. 105, 483 (1970)

    Article  Google Scholar 

  • Fujita, T., Tokunaga, J., Inoue, H.: Atlas of Scanning Electron Microscopy in Medicine. Tokyo: Igaku Shoin Ltd. and Amsterdam-London-New York: Elsevier Publ. Comp. 1971

    Google Scholar 

  • Fulker, M. J., Holland, L., Hurley, R. E.: IITRI/SEM/1973, 379

    Google Scholar 

  • Grundy, J. R.: Brit. Dent. J. 130, 113 (1971)

    Article  Google Scholar 

  • Gullasch, J.: Electron Microscopy 1974, Vol. II, p. 658. Canberra 1974

    Google Scholar 

  • Haggis, G. H., Bond, E. F., Phipps, B.: IITRI/SEM/1976 I, 281

    Google Scholar 

  • Hall, T. A., Hale, A. J., Switsur, V. R.: The Electron Microprobe (eds. T. D. McKinley, K. F. J. Heinrich, D. B. Wittry), p. 805. New York 1966

    Google Scholar 

  • Hayat, M. A. (ed.): Principles and Techniques of Electron Microscopy. Biological Applications, Vol. 1. New York: Van Nostrand Reinhold Comp. 1970

    Google Scholar 

  • Heslop-Harrison, Y.: Science 167, 173 (1970)

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Heslop-Harrison, Y., Heslop-Harrison, J.: IITRI/SEM/1969, 117

    Google Scholar 

  • Hodges, G. M., Carbonell, A. W., Muir, M. D., Grant, P. R.: IITRI/SEM/1974, 159

    Google Scholar 

  • Hodges, G. M., Muir, M. D., Winkler, H. H., Carbonell, A. W., Grant, P. R.: Electron Microscopy 1974, Vol. II, 660. Canberra 1974

    Google Scholar 

  • Holland, V. F.: IITRI/SEM/1976 I, 71

    Google Scholar 

  • Holm, R., Heyl, G., Morbitzer, L.: BEDO 2, 153 (1969)

    Google Scholar 

  • Horstmann, D.: BEDO 4/2, 605 (1971)

    Google Scholar 

  • Huber, H.: BEDO 1, 229 (1968)

    Google Scholar 

  • Humphreys, W. J., Spurlock, B. O., Johnson, J. S.: IITRI/SEM/1974, 275

    Google Scholar 

  • Humphreys, W. J., Spurlock, B. O., Johnson, J. S.: Stain Technol. 50, 119 (1975)

    Google Scholar 

  • Ingram, P., Morosoff, N., Pope, L., Allen, F., Tisher, C.: IITRI/SEM/1976 I, 75

    Google Scholar 

  • Iriono, S., Ono, T., Watanabe, K., Toyota, K., Uno, J., Takasugi, N., Murakami, T.: IITRI/SEM/1975, 267

    Google Scholar 

  • Jakopić, E.: Proc. European Regional Conf. Electron Microscopy, Vol. I, p. 559. Delft 1960

    Google Scholar 

  • Johari, O., Corvin, I., Dragen, R., Parikh, N. M.: IITRI/SEM/1969, 277

    Google Scholar 

  • Joy, D. C., Newbury, D. E.: IITRI/SEM/1971, 113

    Google Scholar 

  • Kassenbeck, P.: Jahrb. Fraunhofer-Gesellschaft 1971, 21

    Google Scholar 

  • Kaufman-Arenberg, I., Marovitz, W. F., MacKenzie, A. P.: 3rd Ann. Stereoscan SEM Coll., Cambridge Proc., p. 121

    Google Scholar 

  • Kay, D.: Techniques for Electron Microscopy, 2nd ed. Oxford: Blackwell Scientific Publ. 1965

    Google Scholar 

  • Kelley, R. O., Dekker, R. A. F., Bluemink, J. G.: J. Ultrastruct. Res. 45, 254 (1973)

    Article  Google Scholar 

  • Klainer, A. S., Jernigan, S., Allender, P.: IITRI/SEM/1974, 313

    Google Scholar 

  • Koehler, J. K. (ed.): Advanced Techniques in Biological Electron Microscopy. Berlin-Heidelberg-New York: Springer 1973

    Google Scholar 

  • Kotval, P. S.: IITRI/SEM/1969, 309

    Google Scholar 

  • Kubalek, E., Schaaber, O.: BEDO 1, 185 (1968)

    Google Scholar 

  • Kumon, H., Uno, F., Tawara, J.: IITRI/SEM/1976 II, 85

    Google Scholar 

  • Lechner, G.: Electron Microscopy 1974, Vol. II, p. 58. Canberra 1974

    Google Scholar 

  • Ledbetter, M. C.: IITRI/SEM/1976 II, 453

    Google Scholar 

  • Lewis, E. R., Jackson, L., Scott, T.: IITRI/SEM/1975, 317

    Google Scholar 

  • Lewis, E. R., Nemanic, M. K.: IITRI/SEM/1973, 767

    Google Scholar 

  • Malick, L. E., Wilson, R. B.: IITRI/SEM/1975, 259

    Google Scholar 

  • Marszalek, D. S., Small, E. B.: IITRI/SEM/1969, 231

    Google Scholar 

  • Mc Callister, L. P., Mumaw, V. R., Munger, B. L.: IITRI/SEM/1974, 713

    Google Scholar 

  • Meek, G.: Practical Electron Microscopy for Biologists. London-New York-Sydney-Toronto: Wiley Interscience 1971

    Google Scholar 

  • Miyai, K., Wagner, R. M., Richardson, A. L.: IITRI/SEM/1974, 283

    Google Scholar 

  • Moor, H.: Z. Zellfofsch. 62, 546 (1964)

    Article  Google Scholar 

  • Moreton, R. B., Echlin, P., Gupta, B. L., Hall, T. A., Weiss-Fogh, T.: Nature 247, 113 (1974)

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Multier, A. M., Herbst, R.: BEDO 3, 281 (1970)

    Google Scholar 

  • Munger, B. L., Mumaw, V. R.: IITRI/SEM/1976 I, 275

    Google Scholar 

  • Murakami, T.: Arch. histol. Jap. 32, 445 (1971)

    Article  Google Scholar 

  • Murakami, T., Unehira, M., Kawakami, H., Kubotsu, A.: Arch. histol. Jap. 36, 119 (1973)

    Article  Google Scholar 

  • Nei, T., Yotsumoto, H., Hasegawa, Y., Nagasawa, Y., Nakahira, A.: JEOL News 9e, 35 (1971)

    Google Scholar 

  • Nemanic, M. K.: IITRI/SEM/1972, 297

    Google Scholar 

  • Nemanic, M. K.: IITRI/SEM/1975, 341

    Google Scholar 

  • Nowell, J. A., Lohse, C. L.: IITRI/SEM/1974, 267

    Google Scholar 

  • Orth, H.: BEDO 3, 205 (1970)

    Google Scholar 

  • Pameijer, C. H., Stallard, R. E.: IITRI/SEM/1973, 357

    Google Scholar 

  • Parducz, B.: Intern. Rev. Cytol. 21, 91 (1967)

    Article  Google Scholar 

  • Pawley, J., Dole, S.: IITRI/SEM/1976 I, 287

    Google Scholar 

  • Pawlowitzki, I. H., Blaschke, R.: BEDO 1, 249 (1968)

    Google Scholar 

  • Pease, D. C.: Histological Techniques for Electron Microscopy, 2nd ed. New York-London: Academic Press 1964

    Google Scholar 

  • Pelloux, R. M., Erhardt, K., Grant, N. J.: IITRI/SEM/1970, 281

    Google Scholar 

  • Peters, K. R., Gschwender, H. H., Haller, W., Rutter, G.: IITRI/SEM/1976 II, 75

    Google Scholar 

  • Peveling, E., Vahl, J.: BEDO 1, 205 (1968)

    Google Scholar 

  • Pfautsch, M., Fromme, H. G., Forck, G., Wichelmann, F., Tegtbauer, Chr.: Kongreßband Deutsche Dermatolog. Gesellsch. Berlin-Heidelberg-New York: Springer 1971

    Google Scholar 

  • Pfefferkorn, G.: IITRI/SEM/1970, 89

    Google Scholar 

  • Pfefferkorn, G., Blaschke, R.: Staub 28, 440 (1968)

    Google Scholar 

  • Pfefferkorn, G., Boyde, A.: IITRI/SEM/1974, 75

    Google Scholar 

  • Pfefferkorn, G., Desler, H., Blaschke, R.: BEDO 1, 165 (1968)

    Google Scholar 

  • Raith, H., Echlin, P., Hyde, P.: BEDO 3, 217 (1970)

    Google Scholar 

  • Rebhun, L. I.: Principles of Electron Microscopy, Vol. 2, p. 1. New York: Van Nostrand Reinhold Comp. 1972

    Google Scholar 

  • Reimer, L.: Elektronenmikroskopische Untersuchung s- und Präparationsmethoden, 2. Aufl. Berlin-Heidelberg-New York: Springer 1967

    Google Scholar 

  • Reimer, L., Schulte, C.: Naturwiss. 53, 489 (1966)

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Richter, I. E.: BEDO 2, 213 (1969)

    Google Scholar 

  • Richter, I. E.: Kursus für biolog. Präparation. Münster 1972

    Google Scholar 

  • Richter, I. E., Vogel, K., Huber, H. J.: Z. wiss. Mikroskopie 69, 94 (1968/69)

    Google Scholar 

  • Riviere, G. R., Cotton, W. R., Derkowski, J. L.: IITRI/SEM/1976 II, 67

    Google Scholar 

  • Saubermann, A. J., Echlin, P.: J. Microscopy 105, 155 (1975)

    Article  Google Scholar 

  • Schimmel, G.: Elektronenmikroskopische Methodik. Berlin-Heidelberg-New York: Springer 1969

    Google Scholar 

  • Schneider, G. B.: Am. J. Anat. 146, 93 (1976)

    Article  Google Scholar 

  • Schwindling, R.: Zahnärztl. Welt, Zahnärztl. Rundschau, Zahnarztl. Reform 79, 771 (1970)

    Google Scholar 

  • Sikorski, J., Nott, J. A., Moss, J. S., Buckley, T.: Proc. Roy. Micr. Soc. 2, 431 (1967)

    Google Scholar 

  • Spector, M., Kimzey, S. L., Burns, L.: IITRI/SEM/1974, 665

    Google Scholar 

  • Spit, B. J.: Proc. European Regional Conf. Electron Microscopy, Vol. I, p. 564. Delft 1960

    Google Scholar 

  • Stöber, W., Berner, A., Blaschke, R.: J. Coll. Interf. Science 29, 710 (1969)

    Article  Google Scholar 

  • Stuart, P. R., Osborn, J. S., Lewis, S. M.: IITRI/SEM/1969, 241

    Google Scholar 

  • Sybers, H. D., Ashraf, M.: IITRI/SEM/1973, 341

    Google Scholar 

  • Thomas, R. S.: Adv. Opt. Electron Microscopy 3, 99 (1969)

    Google Scholar 

  • Thomas, R. S., Hollahan, J. R.: IITRI/SEM/1974, 83

    Google Scholar 

  • Thornthwaite, J. T., Thornthwaite, B. N., Cayer, M. L., Hart, M. A., Leif, R. C.: IITRI/SEM/1975, 387

    Google Scholar 

  • Tokunaga, J., Fujita, T., Hattori, A.: Arch. Histol. Japan 31, 21 (1969)

    Article  Google Scholar 

  • Tokunaga, J., Fujita, T., Hattori, A., Müller, J.: IITRI/SEM/1976 I, 301

    Google Scholar 

  • Tyler, W. S., Nowell, J. A., Pangborn, J.: Microscopie électronique 1970, Vol. I, p. 477. Grenoble 1970

    Google Scholar 

  • Ujiiye, N., Kimoto, S., Kawasaki, Y.: IITRI/SEM/1971, 97

    Google Scholar 

  • Umrath, W.: J. Microscopy 101, 103 (1974)

    Article  Google Scholar 

  • Vogel, G., Becker, R. P., Swift, H.: IITRI/SEM/1976 II, 409

    Google Scholar 

  • Watson, J. H. L., Page, R. H., Swedo, J. L.: IITRI/SEM/1975, 417

    Google Scholar 

  • Watters, W. B., Buck, R. C.: J. Microscopy 94, 185 (1971)

    Article  Google Scholar 

  • Wegener, W., Merkle, R.: Chemiefasern 18, 451 (1968 a)

    Google Scholar 

  • Wegener, W., Merkle, R.: BEDO 1, 237 (1968b)

    Google Scholar 

  • Wegmann, L.: Schweizer Arch. Wiss. u. Technik 30, 143 (1964)

    Google Scholar 

  • Zeedijk, H. B.: BEDO 1, 191 (1968)

    Google Scholar 

Download references

Author information

Authors and Affiliations

  1. Elektronenmikroskopischen Abteilung im Physikalischen Institut der Universität, Schloßplatz 7, D-4400, Münster, Deutschland

    Professor Dr. Ludwig Reimer (Leiter)

  2. Instituts für Medizinische Physik der Universität, Hüfferstraße 68, D-4400, Münster, Deutschland

    Professor Dr. Gerhard Pfefferkorn (Direktor)

Authors
  1. Professor Dr. Ludwig Reimer
    View author publications

    You can also search for this author in PubMed Google Scholar

  2. Professor Dr. Gerhard Pfefferkorn
    View author publications

    You can also search for this author in PubMed Google Scholar

Rights and permissions

Reprints and permissions

Copyright information

© 1977 Springer-Verlag Berlin Heidelberg

About this chapter

Cite this chapter

Reimer, L., Pfefferkorn, G. (1977). Präparation. In: Raster-Elektronenmikroskopie. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-81112-8_8

Download citation

  • DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-642-81112-8_8

  • Publisher Name: Springer, Berlin, Heidelberg

  • Print ISBN: 978-3-540-08154-8

  • Online ISBN: 978-3-642-81112-8

  • eBook Packages: Springer Book Archive

Publish with us

Policies and ethics

Search

Navigation