Zusammenfassung
Das emittierte Röntgenspektrum (Beispiel s. Abb. 6.7 a) besteht aus einer Überlagerung der Bremsstrahlung (Kontinuum) und des Linienspektrums (charakteristische Strahlung) (ausführliche Diskussion von Theorie und Experiment s. Dyson, 1973). Zwischen Wellenlänge λ und Quantenenergie E x = hv besteht die Beziehung
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Literatur zu § 6
Albert, L.: BEDO 5, 109 (1972)
Albert, L.: BEDO 6, 13 + 19 (1973)
Amrehn, H., Kulenkampff, H.: Z. Physik 140, 452 (1955)
Andersen, C. A., Hasler, M. F.: X-Ray Optics and Microanalysis, p. 310. Paris 1966
Arthurs, A. M., Moiseiwitsch, B. L.: Proc. Roy. Soc. A 247, 550 (1958)
Aven, M., Devine, J. Z., Bolon, R. B., Ludwig, G. W.: J. Appl. Phys. 43, 4136 (1972)
Balk, L. J., Kubalek, E.: BEDO 6, 559 (1973)
Balk, L. J., Kubalek, E., Menzel, E.: BEDO 7, 245 (1974)
Balk, L. J., Kubalek, E., Menzel, E.: IITRI/SEM/1976 I, 257
Barbi, N. C., Sandborg, A. O., Russ, J. C., Soderquist, C. E.: IITRI/SEM/1974, 151. Chicago 1974
Barnett, W. A., Jones, E. C., Wise, M. L. H.: Micron 6, 93 (1975)
Beaman, D. R., Isasi, J. A.: Anal. Chem. 42, 1540 (1970)
Bence, A. E., Albee, A.: J. Geol. 76, 382 (1968)
Bevis, M., Fearon, E. O., Rowlands, P. C.: phys. stat. sol. (a) 1, 653 (1970)
Bevis, M., Swindells, N.: phys. stat. sol. 20, 197 (1967)
Blaschke, R., Pfefferkorn, G.: BEDO 5, 269 (1972)
Boersch, H., Dobberstein, P., Fritzsche, D., Sauerbrey, G.: Z. Physik 187, 97 (1965)
Boersch, H., Radeloff, C., Sauerbrey, G.: Z. Physik 165, 464 (1961)
Bolon, R. B., Lifshin, E.: IITRI/SEM/1973, 285
Bolon, R. B., Lifshin, E.: Proc. 8th National Conf. Electron Probe Analysis, EP AS A paper 31 (1973)
Bond, E. F., Beresford, D., Haggis, G. H.: J. Microscopy 100, 271 (1974)
Brandis, E. K.: IITRI/SEM/1975, 141
Bröcker, W.: Microscopica Acta 78, 105 (1976)
Bröcker, W., Blaschke, R., Reimer, L.: BEDO 5, 97 (1972)
Bröcker, W., Krefting, E. R., Reimer, L.: BEDO 7, 75 (1974)
Bröcker, W., Schmidt, E. H., Pfefferkorn, G., Belier, F. K.: IITRI/SEM/1975, 243
Brown, J. D.: Electron Probe Microanalysis (eds. Tousimis and Marton), p. 45. New York-London: Academic Press 1969
Büchner, A. R.: Quantitative Analysis with Electron Microprobes and Secondary Ion Mass Spectrometry, Jül-Conf-8, p. 26, Kernforschungsanlage Jülich 1973
Burhop, E. H. S.: Proc. Camb. Phil. Soc. 36, 43 (1940)
Burhop, E. H. S.: The Auger Effect and Other Radiationless Transitions. Cambridge: University Press 1952
Butz, R., Wagner, H.: Surface Sci. 34, 693 (1973)
Calverley, A., Wight, D. R.: Solid State Electron. 13, 382 (1970)
Carlsson, L., Essen, C. G., van: J. Phys. E 7, 98 (1974)
Casey, H. C.: J. Electrochem. Soc. 114, 153 (1967)
Casey, H. L., Jayson, J. S.: J. Appl. Phys. 42, 2774 (1971)
Casey, H. C., Kaiser, R. H.: J. Electrochem. Soc. 114, 149 (1967)
Castaing, R., Descamps, J.: J. Phys. Radium 16, 304 (1955)
Castaing, R., Henoc, J.: X-Ray Optics and Microanalysis, p. 120. Paris 1966
Chang, C. C.: Surface Science 25, 53 (1971)
Christou, A.: IITRI/SEM/1975, 149
Christou, A., Day, H. M.: IITRI/SEM/1976 I, 207
Colby, J. W., Wonsidler, D. R., Conley, D. K.: Proc. 4th National Conf. Electron Probe Analysis EPASA, paper 9 (1969)
Colliex, C., Jouffrey, B.: Phil. Mag. 25, 491 (1972)
Cosslett, V. E., Nixon, W. C.: X-Ray Microscopy. Cambridge University Press 1960
De Mets, M.: Microscopica Acta 76, 405 (1975)
De Mets, M., Howlett, K. J., Yoffe, A. D.: J. Microscopy 102, 125 (1974)
De Mets, M., Lagasse, A.: J. Micr. 94, 151 (1971)
Dingley, D. J.: Proc. 25th Ann. Meeting of EMAG, p. 206. London-Bristol: Institute of Physics 1971
Dingley, D. J.: IITRI/SEM/1975, 173
Doffin, H., Kulenkampff, H.: Z. Physik 148, 496 (1957)
Duncumb, P.: Proc. 25th Ann. Meeting of EMAG, p. 132. London-Bristol: Institute of Physics 1971
Duncumb, P., Reed, S. J. B.: Quant. Electron Probe Microanalysis, NBS Special Publ. 298, 133 (1968)
Duncumb, P., Shields, P. K.: The Electron Microprobe, p. 284. New York 1966
Dyson, N. A.: X-Rays in Atomic and Nuclear Physics. London: Longman Group Ltd. 1973
Egerton, R. F., Whelan, M. J.: Electron Microscopy 1974, Vol. I, p. 384. Canberra 1974
Esquivel, A. L., Lin, W. N., Wittry, D. B.: Appl. Phys. Letters 22, 414 (1973)
Garlick, G. F. J.: Luminescent Materials. Oxford 1949
Garlick, G. F. J.: Advan. Electronics 2, 152 (1950)
Garlick, G. F. J.: Luminescence. In Handbuch der Physik (Hrsg. S. Flügge), Bd. XXVI, S. 1. Berlin-Göttingen-Heidelberg: Springer 1958
Gerlach, R. L., MacDonald, N. C.: IITRI/SEM/1976 I, 199
Goldstein, J. I., Ogilvie, R. E.: X-Ray Optics and Microanalysis, p. 594. Paris 1966
Gould, R. W., Healey, J. T.: Rev. Sci. Instr. 46, 1427 (1975)
Green, M.: X-Ray Optics and X-Ray Microanalysis, p. 361. New York: Academic Press 1963
Green, M., Cosslett, V. E.: Proc. Phys. Soc. 78, 1206 (1961)
Green, M., Cosslett, V. E.: J. Phys. D 1, 425 (1968)
Hall, T. A.: Physical Techn. in Biological Research, Vol. I, Part A, p. 157. New York-London: Academic Press 1971
Hall, T. A., Höhling, H. J., Rosenstiel, A. P. von: BEDO 4/2, 125 (1971)
Hansen, H., Weigmann, H., Flammersfeld, H.: Nucl. Phys. 58, 241 (1964)
Harmer, P. R., Ford, S. D., Dugdale, R. A.: J. Phys. E 1, 59 (1968)
Heinrich, K. F. J., Yakowitz, H.: Mikrochim. Acta 5, 905 (1968)
Heinrich, K. F. J.: NBS Technical Note 521 (1969)
Heinrich, K. F. J., Yakowitz, H., Vieth, D. L.: Proc. 7th Nat. Conf. in Electron Probe Analysis EPASA, paper 3, 1972
Henke, B. L.: Advan. X-Ray Anal. 7, 460 (1964)
Henoc, J.: Quant. Electron Probe Analysis. NBS Special Publ. 298, 197 (1968)
Henoc, J., Heinrich, K. F. J., Myklebust, R. L.: NBS Techn. Note 769, 127 (1973)
Herbst, R., Hörl, E. M., Multier-Lajours, A. M.: BEDO 6, 169 (1973)
Hersener, J., Ricker, Th.: BEDO 4/2, 523 (1971)
Hess, F. D., Bayer, D. E., Falk, R. H.: Weed Science 22, 394 (1974)
Heyl, G., Holm, R.: BEDO 3, 193 (1970)
Hinrichs, H.: Z. Naturforsch. 9a, 625 (1954)
Hörl, E. M.: Micron 3, 540 (1972)
Hörl, E. M., Mügschl, E.: BEDO 5, 313 (1972)
Hörl, E. M., Mügschl, E.: Proc. Fifth Europ. Congr. Electr. Micr. 1972, p. 502. London: Institute of Physics 1972
Holt, D. B., Chase, B. D., Censlive, M.: phys. stat. sol. (a) 20, 459 (1973)
Honerjäger, R.: Ann. Phys. 38, 33 (1940)
Horn, H., Waltinger, H.: BEDO 6, 163 (1973)
Horn, H., Sixl, W., Waltinger, H.: BEDO 7, 197 (1974)
Isaacson, M.: J. Chem. Phys. 56, 1803 + 1813 (1972)
Isaacson, M., Johnson, D.: IITRI/SEM/1975, 157
Isaacson, M., Johnson, D.: J. Ultramicroscopy 1, 33 (1975)
Ishikawa, A., Mizuno, F., Uchikawa, Y., Maruse, S.: Japan. J. Appl. Phys. 12, 286 (1973)
Jones, G. A. C., Nag, B. R., Gopinath, A.: J. Phys. D 7, 183 (1974)
Joy, D. C., Booker, G. R., Fearon, E. O., Bevis, M: IITRI/SEM/1971, 497
Judge, F. J., Stubbs, J. M., Philp, J.: J. Phys. E 7, 173 (1974)
Kaius, C.: Quant. Analysis with Electron Microprobes and Secondary Ion Mass Spectrometry, Jüi-Conf-8, 233, Kernforschungsanlage Jülich 1973
Kelly, T. K.: Trans. Inst. Min. Metall B75, 59 (1966)
Kerscher, R., Kulenkampff, H.: Z. Physik 140, 632 (1955)
Kirkpatrick, P., Wiedmann, L.: Phys. Rev. 67, 321 (1945)
Korda, E. J., Prüden, L. H., Williams, J. P.: Appl. Phys. Letters 10, 205 (1967)
Kossel, W.: Ann. Physik 25, 512 (1936);
Kossel, W.: Ann. Physik 26, 533 (1936)
Kossel, W., Voges, H.: Ann. Physik 23, 677 (1935)
Kozaki, S., Ohkawa, T.: J. Appl. Phys. 39, 3967 (1968)
Kramers, H. A.: Phil. Mag. 46, 836 (1923)
Kynaston, D., Stewart, A. D. G.: IITRI/SEM/1969, 467
Leamy, H. J., Ferris, S. D.: IITRI/SEM/1972, 81
Leapman, R. D., Cosslett, V. E.: Phil. Mag. 33, 1 (1976)
Le Poole, J. B., Bok, A. B., Boogerd, W. J.: Geologie Mijn. 47, 443 (1968)
Leys, J. A., McKinney, J. T.: IITRI/SEM/1976 I, 231. Chicago 1976
MacDonald, N. C.: IITRI/SEM/1971, 89
MacDonald, N. C., Waldrop, J. R.: Appl. Phys. Letters 19, 315 (1971)
Maurice, F., Seguin, R., Henoc, J.: X-Ray Optics and Microanalysis, p. 357, Paris: Hermann 1966
Metchnik, V., Tomiin, S. G.: Proc. Phys. Soc. 81, 956 (1963)
Middleman, L. M., Geller, J. D.: IITRI/SEM/1976 I, 171
Morabito, J. M., Hall, P. M.: IITRI/SEM/1976 I, 221
Mott, N. F., Massey, H. S. W.: The Theory of Atomic Collisions. Oxford: Clarendon Press 1949
Motz, J. W., Placious, R. C.: Phys. Rev. A 136, 662 (1964)
Muir, M. D., Grant, P. R., Hubbard, G., Mundell, J.: IITRI/SEM/1971, 401
Muster, W. J.: BEDO 7, 557 (1974)
Myklebust, R. L., Yakowitz, H., Heinrich, K. F. J.: Proc. 5th Nat. Conf. Electron Probe Analysis EPASA, paper 11, 1970
Oda, Y., Nakajima, K.: J. Jap. Inst. Met. 37, 673 (1973)
Ogilvie, R. E.: IITRI/SEM/1969, 21
Ong, B. Y., Falk, R. H., Bayer, D. E.: Plant Physiol. 51, 415 (1973)
Pease, R. F. W., Hayes, T. L.: Nature 210, 1049 (1966)
Perlman, H. S.: Proc. Phys. Soc. 76, 623 (1960)
Peters, E. T., Qgilvie, R. E.; Trans. Met. Soc. AIME 223, 89 (1965)
Pfefferkorn, G., Blaschke, R.: IITRI/SEM/1974, 143
Philibert, J.: Int. Conf. X-Ray Optic and X-Ray Microanalysis. New York 1963, p. 379
Philibert, J., Tixier, R.: Quant. Electron Probe Microanalysis. NBS Techn. Publ. 298, 13 (1968)
Pinard, P.: PhD Thesis, Lyon 1964
Plattner, R., Schimemann, D.: BEDO 4/2, 77 (1971)
Preuss, E.: Berichte der Kernforschungsanlage Jülich Jül-856-TP (1973)
Preuss, E.: Quant. Analysis with Electron Microprobes and Secondary Ion Mass Spectrometry, Jül-Conf-8, 80, Kernforschungsanlage Jülich 1973
Rao-Sahib, T. S., Wittry, D. B.: J. Appl. Phys. 40, 3745 (1969)
Reed, S. J. B.: Brit. J. Appl. Phys. 16, 913 (1965)
Reed, S. J. B.: J. Phys. D 4, 1910 (1971)
Reed, S. J. B., Long, J. V. P.: X-Ray Optics and Microanalysis, p. 317. New York 1963
Remond, G., Kimoto, S., Okuzumi, H.: IITRI/SEM/1970, 33
Russ, J. C.: IITRI/SEM/1971, 65
Russ, J. C., Kabaya, A.: IITRI/SEM/1969, 57
Ryder, P., Baumgartl, S.: Arch. Eisenhüttenwesen 42, 635 (1971a)
Ryder, P. L., Baumgartl, S.: BEDO 4/2, 33 (1971b)
Schmidt, E. H., Bröcker, W., Pfautsch, M.: IITRI/SEM/1976 II, 327
Seiler, H.: BEDO 7, 1 (1974)
Shaw, D. A., Thornton, P. R.: J. Mater. Sci. 3, 507 (1968)
Shaw, D. A., Wayte, R. C., Thornton, P. R.: Appl. Phys. Letters 8, 289 (1966)
Sippel, R. F.: Proc. Int. Conf. Luminescence 2, 2079 (1968)
Soni, S. L., Kalnins, V. I., Haggis, G. H.: Nature 255, 717 (1975)
Springer, G.: Quant. Analysis with Electron Microprobes and Secondary Ion Mass Spectrometry, Jül-Conf-8, 42, Kernforschungsanlage Jülich 1973
Steyn, J. B., Holt, D. B.: Scanning Electron Microscopy: Systems and Applications, p. 272. London-Bristol: Institute of Physics 1973
Sutfin, L. V., Ogilvie, R. E.: IITRI/SEM/1970, 17
Theisen, R.: Quantitative Electron Microprobe Analysis. Berlin-Heidelberg-New York: Springer 1965
Tixier, R., Wache, C.: J. Appl. Cryst. 3, 466 (1970)
Vignes, A., Dez, G.: J. Phys. D 1, 1309 (1968)
Weihrauch, J.: BEDO 1, 121 (1968)
Williams, P. M., Yoffe, A. D.: Nature 221, 952 (1969)
Wittry, D. B., Ferrier, R. P., Cosslett, V. E.: J. Phys. D 2, 1767 (1969)
Wittry, D. B., Kyser, D. F.: J. Appl. Phys. 35, 2439 (1964)
Wittry, D. B., Kyser, D. F.: J. Appl. Phys. 36, 1387 (1965)
Wittry, D. B., Kyser, D. F.: J. Phys. Soc. Japan 21, Suppl, 312 (1966)
Wittry, D. B., Kyser, D. F.: J. Appl. Phys. 38, 375 (1967)
Worthington, C. R., Tomiin, S. G.: Proc. Phys. Soc. A 69, 401 (1956)
Yakowitz, H.: Advan. Electron. Electron Phys., Suppl. 6. Electron probe microanalysis, p. 361. New York-London 1969
Yakowitz, H., Newbury, D. E.: IITRI/SEM/1976 I, 151
Yoffe, A. D., Howlett, K. J., Williams, P. M.: IITRI/SEM/1973, 301
Ziebold, T. O., Ogilvie, R. E.: Anal. Chem. 36, 323 (1964)
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Reimer, L., Pfefferkorn, G. (1977). Elementanalyse und Abbildung mit emittierten Quanten und Augerelektronen. In: Raster-Elektronenmikroskopie. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-81112-8_6
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