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3D-Vermessungen im Nahbereich mit Abbildungsfunktionen

  • Conference paper
Mustererkennung 1992

Part of the book series: Informatik aktuell ((INFORMAT))

  • 100 Accesses

Zusammenfassung

Im Nahbereich werden 3D-Messungen von Oberflächen mit Hilfe von photogrammetrischen Verfahren durch die nur wenige Millimeter betragende Schärfentiefe stark eingeschränkt. Sind die Aufnahmekameras zudem gegeneinander geneigt, um beim Strahlschnitt höhere Genauigkeiten in der Tiefenrichtung zu erreichen, dann reduziert sich der in allen Kameras gemeinsam scharf abgebildete Bereich noch einmal beträchtlich. Hat man überwiegend ebene Flächen zu untersuchen, wie z.B. bei der Verformungsanalyse oder bei der Qualitätskontrolle von Oberflächen, dann kann man die Bildebenen bzw. den CCD-Chip in den Kameras soweit neigen, daß in allen Bildern eine gleichgroße scharfe Zone abgebildet wird (Scheimpflug-Aufnahme). Dadurch ergibt sich andererseits eine kompliziertere Aufnahmegeometrie. Insbesondere sind die Linsenverzeichnungen nicht mehr radialsymmetrisch, was in den Standardprogrammen zur Orientierungsberechnung [1] üblicherweise vorausgesetzt wird. Wendet man sie dennoch an, weisen die Orientierungsparameter große Varianzen auf oder es tritt keine Konvergenz ein.

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Andresen, K. (1992). 3D-Vermessungen im Nahbereich mit Abbildungsfunktionen. In: Fuchs, S., Hoffmann, R. (eds) Mustererkennung 1992. Informatik aktuell. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-77785-1_37

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  • DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-642-77785-1_37

  • Publisher Name: Springer, Berlin, Heidelberg

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