Zusammenfassung
In diesem Abschnitt werden zwei Ansätze vorgestellt, um Steuerwerke mit Prüfpfad durch geeignete Syntheseverfahren so zu entwerfen, daß sie weniger Fläche benötigen oder mit größerer Geschwindigkeit arbeiten als Steuerwerke mit konventionellen Prüfpfadstrukturen. Um dies zu erreichen, wird die Schiebefunktion in die Systemlogik des Steuerwerks integriert.
This is a preview of subscription content, log in via an institution to check access.
Access this chapter
Tax calculation will be finalised at checkout
Purchases are for personal use only
Preview
Unable to display preview. Download preview PDF.
Notes
Da die Schiebe ausgabe nur vom Zustand des Schaltwerks abhängt, werden Moore-Schaltwerke durch eine solche Modifikation nicht in Mealy-Schaltwerke umgewandelt.
Es soll angemerkt werden, daß es für die Logikminimierung völlig unerheblich ist, wie die Zustandsspeicher geometrisch angeordnet sind; in dieser Hinsicht wird hier auch keine Vorentscheidung getroffen. Da die Schiebeübergänge in die Systemlogik integriert werden, entfallt auch die Notwendigkeit, die Flipflops so anzuordnen, daß im Schieberegister aufeinanderfolgende Flipflops im Layout benachbart liegen, um die Verdrahtungslänge zu minimieren.
Ein Euler-Zyklus in einem gerichteten Graphen ist ein Zyklus, der alle Kanten des Graphen genau einmal enthält.
Dies gilt unter der Voraussetzung, daß Fehler nicht die Anzahl der Zustände über n hinaus erhöhen
Die mit einem Stern gekennzeichneten Beispiele wurden mit separatem Schiebeausgang SDO realisiert.
Author information
Authors and Affiliations
Rights and permissions
Copyright information
© 1992 Springer-Verlag Berlin Heidelberg
About this chapter
Cite this chapter
Eschermann, B. (1992). Steuerwerke mit integriertem Prüfpfad. In: Testfreundliche Synthese hochintegrierter Schaltungen. FZI-Berichte Informatik. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-77639-7_6
Download citation
DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-642-77639-7_6
Publisher Name: Springer, Berlin, Heidelberg
Print ISBN: 978-3-540-55661-9
Online ISBN: 978-3-642-77639-7
eBook Packages: Springer Book Archive