Zusammenfassung
Im wesentlichen sind Maßnahmen zur Erhöhung der Testbarkeit sequentieller Schaltungen darauf ausgerichtet, die Speicherelemente so umzukon-figurieren, daß Testmuster leicht in sie eingebracht und Testantworten aus ihnen ausgelesen werden können, um so den Test sequentieller Schaltungen auf den einfacheren Test kombinatorischer Schaltungen zurückzuführen. Durch extern vorzugebende Steuersignale wird es ermöglicht, die Schaltung vom Systembetrieb in einen oder mehrere spezielle Testbetriebsarten umzuschalten. Zum Test können außer der Systemfunktion auch die dadurch erreichbaren speziellen Testfunktionen genutzt werden. Betrachtet man ein Steuerwerk als endlichen Automaten, so zerfallt dieser nach der Modifikation zur Erhöhung der Testbarkeit in zwei Teilautomaten: Ein Teilautomat Ss implementiert die Systemfunktion des Steuerwerks, während ein Teilautomat ST die nur während des Tests verfügbare Funktionalität realisiert. Beide Automaten benutzen die gleichen Speicherelemente; die hauptsächliche Funktion von ST ist es ja, die Zustände von SS Steuer- und beobachtbar zu machen. Damit erhält man die allgemeine Struktur eines testfreundlichen Steuerwerks von Bild 3.1 [AgCh 90]. Einige Ein- und Ausgänge eT bzw. aT sind nur dem Test vorbehalten und erfüllen im Normalbetrieb keine Funktion.
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Notes
Erste Ansätze zur Evaluierung solcher initialer Syntheseschritte unter Berücksichtigung der Testbarkeit findet man z. B. in [Abad 89].
In diesem wie auch in allen weiteren Abschnitten wird wie schon in Abschnitt 2.3.4.3 meist auf die explizite Angabe von Schaltungen zur Mustererzeugung für primäre Eingaben bzw. zur Signaturanalyse für primäre Ausgaben des Steuerwerks verzichtet, um die graphischen Darstellungen zu vereinfachen.
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© 1992 Springer-Verlag Berlin Heidelberg
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Eschermann, B. (1992). Testfreundliche Steuerwerksstrukturen. In: Testfreundliche Synthese hochintegrierter Schaltungen. FZI-Berichte Informatik. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-77639-7_3
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