Einleitung

Zusammenfassung

Fortschritte in der VLSI-Technologie haben eine große Steigerung der Komplexität von Halbleiterchips zur Folge. Ganze Systeme können nun in einen einzigen Chip integriert werden. Die Entwicklung der Technik zum Entwurf und zur Herstellung integrierter Schaltkreise ist dadurch gekennzeichnet, daß die Programme zum Entwurf und zur Verifizierung der raschen Entwicklung der Halbleitertechnologie nicht folgen können. Es bestehen Engpässe sowohl bei der Simulation von Schaltkreisen als auch bei ihrer Verifikation. Als wahrscheinlich gravierendster Engpaß in der VLSI-Welt hat sich seit einigen Jahren der Bereich “Test” herausgestellt. Gerade die hochkomplexen Schaltkreise und Systeme, welche besonders anfällig für technologische Fehler sind, lassen sich nach der Fertigung nur sehr schwer prüfen.