Zusammenfassung
Während die Erstellung qualitativ hochwertiger Testsätze für Schaltungen kleineren Integrationsgrades (z.B. SSI-, MSI-Schaltungen) manuell durchgeführt werden konnte, ist dies für hochintegrierte Schaltungen nur unter Zuhilfenahme von Rechnerunterstützung möglich. Aus diesem Grund kommt der Syntheseaufgabe der automatischen Testmustergenerierung ständig wachsende Bedeutung in Bezug auf die Qualitätssicherung der gefertigten Schaltkreise zu. Ihre Zielsetzung besteht in der Generierung eines Testsatzes, der eine möglichst vollständige Erkennung der Fehler, die durch das zugrundegelegte Fehlermodell berücksichtigt werden, sicherstellt. Wie bei der Fehlersimulation beschränkt man sich auch bei der automatischen Testmustergenerierung aus Aufwands- und Komplexitätsgründen auf einfache Fehlermodelle.
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Schulz, M.H. (1988). Automatische Testmustergenerierung in kombinatorischen Schaltungen. In: Testmustergenerierung und Fehlersimulation in digitalen Schaltungen mit hoher Komplexität. Informatik-Fachberichte, vol 173. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-73910-1_4
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