Zusammenfassung
Die Entwicklung der Integrationstechnik macht rasche Fortschritte. Immer mehr Transistoren und andere Bauelemente können auf einem Chip integriert werden. 1-Chip-Computer und 4-Megabit-Chip sind exemplarische Beispiele dafür. Gleichzeitig ist aber bei der Produktion solcher Chips die Ausbeute, d.h. der Anteil fehlerfrei gefertigter Chips, auf nur wenige Prozent abgesunken. Immer mehr physikalische/chemische Defekte, Unreinheiten, und Ungenauigkeiten an den bei der Herstellung verwendeten Materialien und Geräten machen sich bei den zunehmend feineren Strukturen als Funktionsfehler der integrierten Schaltung bemerkbar. Diese Anfälligkeit ist nicht auf die Herstellung beschränkt, sondern wirkt sich auch im Betrieb der Schaltungen aus.
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Marhöfer, M. (1987). Einleitung. In: Fehlerdiagnose für Schaltnetze aus Modulen mit partiell injektiven Pfadfunktionen. Informatik-Fachberichte, vol 139. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-72757-3_1
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