Quantitative mikroskopische Untersuchungen mit Hilfe aufgedampfter Interferenzschichten

Zusammenfassung

Neben der Aufgabe der Auflichtmikroskopie, den Gefügeaufbau von Werkstoffen, Mineralien usw. möglichst „wirklichkeitstreu“ und ausreichend kontrastreich zu entwickeln, wird das Ziel angestrebt, quantitative Angaben über die einzelnen Bestandteile des Gefüges zu gewinnen, und zwar nicht nur hinsichtlich geometrischer, formaler Größen, wie Form und Menge der Bestandteile, sondern vor allem über die Art der einzelnen Kristallite und ihre chemische Zusammensetzung. Der naheliegende Gedanke, quantitative Beziehungen herzustellen zwischen den optischen Eigenschaften der Gefügebestandteile und deren Struktur, deren chemischer Zusammensetzung usw., hat wiederholt dazu angeregt, Reflexionsmessungen an einzelnen Gefügebestandteilen mit Hilfe eines Mikroskop-Photometers durchzuführen, in der Hoffnung, mit diesen Zahlenwerten eine Kennzeichnung der Bestandteile zu erreichen (17, 44, 61). Solche Messungen dürften aber keine hinreichend eindeutige quantitative Beschreibung ermöglichen, da die Reflexionsunterschiede häufig nur gering sind und Meßfehler, die von Oberflächenstörungen (Rauhigkeiten, Kratzer, Einschlüsse usw.) herrühren, diese Unterschiede erheblich verfälschen können, ja diese zum Teil überdecken. Durch das Reflexionsvermögen allein wird das optische Verhalten absorbierender Stoffe — wie in Abschnitt II dargestellt — nicht vollständig beschrieben: Gleichen Reflexionsvermögen können sehr verschiedene optische Konstanten, d. h. verschiedene Wertepaare der Brechzahlen und Absorptionskoeffizienten, zugrunde liegen.