Zusammenfassung
Die zuverlässige Detektion von Oberflächen oder Konturen in verrauschten Bildern erfordert den Einsatz von globalem Kontextwissen. Während bestehende Ansätze dieses Wissen für die Objektidentifikation in Merkmalsräumen einsetzen, die in unabhängigen Vorverarbeitungsschritten berechnet wurden, stellen wir einen Ansatz vor, der das Kontextwissen bereits bei der Extraktion lokaler Bildmerkmale verwenden kann. Zur Beschreibung des globalen Kontextes kommt dabei ein aktives Oberflächenmodell zum Einsatz, das mittels FEM realisiert wurde. Es wird exemplarisch die Anwendung auf Ultraschalldaten vorgestellt.
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Literatur
Mclnerney T, Terzopoulos D: A dynamic finite element surface model for segmentation and tracking in multidimensional medical images with application to cardiac 4D image analysis, Computerized Medical Imaging and Graphics, Vol. 19, No. 1, pp. 69–83, 1995
Cohen L, Cohen I: Finite-Elemente Methodes for Active Contour Models and Balloons for 2-D and 3-D Images, IEEE Trans. PAMI, Vol. 15, No. 11, 1993
Leymarie L, Levine MD: Tracking Deformable Objects in the Plane Using an Active Contour Model, IEEE Trans. PAMI, Vol. 15, No. 6, 1993
Chalana V et al.: A Multiple Active Contour Model for Cardiac Boundary Detection on Echocardiographic Sequences, IEEE Trans. Med. Img., Vol. 15, No. 3, 1996
Ronfard R: Region-Based Strategies for Active Contour Models, International Journal of Computer Vision, 13: 2, 229–251 (1994)
Dhatt G:Finite Elemente Methode Displayed, Wiley & Sons 1985, ISBN 047190110 5
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© 1998 Springer-Verlag Berlin Heidelberg
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Schuckenberg, M., von Dziembowski, G., Meyer-Ebrecht, D. (1998). Erkennung deformierbarer Konturen und Oberflächen in verrauschten Bilddaten durch Einsatz modellgekoppelter anisotroper Merkmalsextraktoren. In: Levi, P., Schanz, M., Ahlers, RJ., May, F. (eds) Mustererkennung 1998. Informatik aktuell. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-72282-0_23
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