Skip to main content
SpringerLink
Log in

ESCA. Eine Methode zur Bestimmung von Elementen und ihren Bindungszuständen in der Oberfläche von Festkörpern

  • Chapter
Analytiker-Taschenbuch

Part of the book series: Analytiker-Taschenbuch ((ANALYTIKERTB,volume 4))

  • 209 Accesses

Zusammenfassung

ESCA (nach K. Siegbahn:ElectronSpectroscopy forChemicalAnalysis) beruht auf dem Photoeffekt an inneren Atomorbitalen und ist auf alle Substanzen anwendbar. Die Routineuntersuchungen werden überwiegend an Festkörpern durchgeführt. Informationsträger sind Photo- und Auger- Elektronen, die verlustfrei von der Festkörperoberfläche emittiert wer¬den. Aufgrund der Oberflächenempfindlichkeit gehört ESCA zu den mikrochemischen Verfahren. Die erfaßte Schichtdicke ist gegeben durch die Austrittstiefe der Photo- und Auger-Elektronen. Sie beträgt einige Mono- lagen, maximal 10 nm. Man kann davon ausgehen, daß bei einer untersuchten Fläche von 0,5 cm2 und homogener Verteilung eines Elementes in den obersten 10 nm eine Konzentration von 1% noch sicher nachgewiesen sind. Die Empfindlichkeitsunterschiede von Element zu Element liegen innerhalb eines Faktors 10. Matrixeffekte sind noch wesentlich geringer. Deshalb sind gute Voraussetzungen für eine quantitative Analyse gegeben. ESCA ist zwar nicht direkt ein Verfahren zur Spurenanalyse, wohl aber nach geeigneter Anreicherung. Der besondere Vorteil von ESCA’ liegt darin, daß man nicht nur Elemente nachweist, sondern an Hand von chemischen Verschiebungen, Linienaufspaltungen und Shake-up-Satel-

This is a preview of subscription content, log in via an institution to check access.

Access this chapter

Log in via an institution
Chapter
USD 29.95
Price excludes VAT (USA)
  • Available as PDF
  • Read on any device
  • Instant download
  • Own it forever
eBook
USD 59.99
Price excludes VAT (USA)
  • Available as PDF
  • Read on any device
  • Instant download
  • Own it forever
Softcover Book
USD 79.99
Price excludes VAT (USA)
  • Compact, lightweight edition
  • Dispatched in 3 to 5 business days
  • Free shipping worldwide - see info

Tax calculation will be finalised at checkout

Purchases are for personal use only

Institutional subscriptions

Preview

Unable to display preview. Download preview PDF.

Unable to display preview. Download preview PDF.

Literatur

  1. Czanderna, A. W. (Ed.): Methods of Surface Analysis, Amsterdam: Elsevier 1975

    Google Scholar 

  2. Holm, R., Storp, S.: Methoden zur Untersuchung von Oberflächen, in Ullmanns Encyclopädie der techn. Chemie, 4. Aufl., Bd. 5, S. 519 bis 576, Weinheim: Verlag Chemie 1980

    Google Scholar 

  3. Anderson, R. B., Dawson, P. T. (Eds.): Experimental Methods in Catalytic Research, III, New York: Academic Press 1976

    Google Scholar 

  4. Hofmann, S.: Analytiker-Taschenbuch Bd. 1, Berlin, Heidelberg, New York: Springer-Verlag, 1980.

    Google Scholar 

  5. Brewis, D. M. (Ed.): Surface Analysis and Pretreatment of Plastics and Metals, London: Applied Science Publ. 1982

    Google Scholar 

  6. Siegbahn, K. und Mitarbeiter: ESCA, Atomic, Molecular and Solid State Structure Studied by Means of Electron Spectroscopy. Almquist and Wiksells, Uppsala 1967

    Google Scholar 

  7. Wagner, C. D., Riggs, W. M., Davies, L. E., Moulder, J. F., Muilenberg, G. E.: Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy, Perkin Elmer ( Physical Electronics Div.) Eden Prairie 1979 ( Spektrensammlung )

    Google Scholar 

  8. Carlson, T. A.: Photoelectron and Augerelectron Spectroscopy, New York: Plenum Press 1975

    Google Scholar 

  9. Shirley, D. A . (Ed.): Electron Spectroscopy, Amsterdam: North Holland Publ. Comp. 1972

    Google Scholar 

  10. Hercules, D. M.: Anal. Chem. 48, 294 (1976)

    Article  Google Scholar 

  11. Brundle, C. R., Baker, A. D. (Eds.): Electron Spectroscopy, London: Academic Press 1977

    Google Scholar 

  12. Briggs, D. (Eds.): Handbook of X-ray and Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy, London: Heyden 1977

    Google Scholar 

  13. Clark, D. T., Adams, D. B., Dilks, A., Peeling, J., Thomas, H. R.: J. Electron Spectr. 8, 51 (1976)

    Article  CAS  Google Scholar 

  14. Olefjord, J.: Mat. Sei. Engrg. 42, 161 (1980)

    Article  CAS  Google Scholar 

  15. Asami, K., Hashimoto, K., Shimodaira, S.: Corr. Sei. 18, 151 (1978)

    Article  CAS  Google Scholar 

  16. Castle, J. E.: Application of XPS Analysis to Research into the Causes of Corrosion, in: T. L. Barr, L. E. Davies (Eds.) ASTM STP 699 (1978) p. 182

    Google Scholar 

  17. Diekmann, H., Grafen, H., Holm, R., Horn, E. M., Storp, S.: Z. Werk- stofftechn. 9, 37 (1978)

    CAS  Google Scholar 

  18. Storp, S., Holm, R.: Surface Sei. 68, 10 (1977)

    Article  CAS  Google Scholar 

  19. Holm, R., Horn, E. M., Storp, S.: VDI-Z 123, 513 (1981)

    CAS  Google Scholar 

  20. Hofmann, J., Michel, R., Holm, R., Zilkens, J.: Surface Interface Anal. 3, 110 (1981)

    Article  CAS  Google Scholar 

  21. Fischer, T. E.: J. Vac. Sei. Technol. 11, 252 (1974)

    Article  CAS  Google Scholar 

  22. Bonzel, H. P.: Surf. Sei. 68, 236 (1977)

    Article  CAS  Google Scholar 

  23. Clark, D. T.: The Modification, Degradation and Synthesis of Polymer Surfaces Studied by ESCA, in: D.W. Dwight, T. J. Fabish, H. R. Thomas (Eds.) ACS Symposium Series Vol. 162, Washington 1981, p. 247

    Google Scholar 

  24. Dilks, A .: Analyt. Chem. 53, 802 A (1981)

    Article  Google Scholar 

  25. Holm, R., Storp, S.: Surface Interface Anal. 2, 96 (1980)

    Article  CAS  Google Scholar 

  26. Riggs, W. M., Beimer, R. G.: Chem. Techn. 1975, 652

    Google Scholar 

  27. Brecht, H., Mayer, F., Binder, H.: Angew. Makromol. Chem. 33, 89 (1973)

    Article  CAS  Google Scholar 

  28. Briggs, D., Kendall, C. R.: Polymer 20, 1053 (1979)

    Article  CAS  Google Scholar 

  29. van Ooij, W. J.: Kautsch., Gummi, Kunstst. 30, 739 (1977)

    Google Scholar 

  30. van Ooij, W. J.: Surface Sei. 68, 1 (1977)

    Article  Google Scholar 

  31. Hammond, J. S., Holubka, J. W., De Vries, J. E., Dickie, R. A.: Corrosion Sei. 21, 239 (1981)

    Article  CAS  Google Scholar 

  32. Holm, R., Storp, S.: Proc. 7th Int. Vac. Congr./3rd Int. Conf. Solid Sur¬faces, Wien 1977, p. 2255

    Google Scholar 

  33. Holm, R., Storp, S.: Appl. Phys. 12, 101 (1977)

    Article  CAS  Google Scholar 

  34. Kim, K. S., Baitinger, W. E., Amy, J. W., Winograd, N.: J. Electron Spectr. 5, 351 (1974)

    Article  CAS  Google Scholar 

  35. Storp, S., Holm, R.: J. Electron Spectr. 16, 183 (1979)

    Article  CAS  Google Scholar 

Download references

Author information

Authors and Affiliations

  1. Bayer AG, Ing.-Bereich Angewandte Physik, D-5090, Leverkusen, Germany

    Dr. R. Holm & Dr. S. Storp

Authors
  1. Dr. R. Holm
    View author publications

    You can also search for this author in PubMed Google Scholar

  2. Dr. S. Storp
    View author publications

    You can also search for this author in PubMed Google Scholar

Editor information

Editors and Affiliations

  1. Institut-Fresenius, Im Maisel, D-6204, Taunusstein, Germany

    Wilhelm Fresenius

  2. ZAM Analytik - M 325, BASF Aktiengesellschaft, D-6700, Ludwigshafen, Germany

    Helmut Günzler

  3. ZAM Analytik - M 320, BASF Aktiengesellschaft, D-6700, Ludwigshafen, Germany

    Walter Huber

  4. Chemieschule Fresenius GmbH, Dambachtal 20, D-6200, Wiesbaden, Germany

    Ingo Lüderwald

  5. Institut für Spektrochemie, Bunsen-Kirchhoff-Str. 11, Postfach 778, D-4600, Dortmund 1, Germany

    Günter Tölg

Rights and permissions

Reprints and permissions

Copyright information

© 1984 Springer-Verlag Berlin Heidelberg

About this chapter

Cite this chapter

Holm, R., Storp, S. (1984). ESCA. Eine Methode zur Bestimmung von Elementen und ihren Bindungszuständen in der Oberfläche von Festkörpern. In: Fresenius, W., Günzler, H., Huber, W., Lüderwald, I., Tölg, G. (eds) Analytiker-Taschenbuch. Analytiker-Taschenbuch, vol 4. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-69343-4_8

Download citation

  • DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-642-69343-4_8

  • Publisher Name: Springer, Berlin, Heidelberg

  • Print ISBN: 978-3-642-69344-1

  • Online ISBN: 978-3-642-69343-4

  • eBook Packages: Springer Book Archive

Publish with us

Policies and ethics

Search

Navigation