Zusammenfassung
Die Röntgenspektralanalyse mit Elektronenstrahlanregung ist ein leistungsstarkes Verfahren zur mikro-topologischen Multielement-Analyse. Es können Probeninhomogenitäten (Einschlüsse, Ausscheidungen, Entmischungen, Phasenumwandlungen usw.) in praktisch allen anorganischen Matrices, aber auch Mikrobereiche organischer Proben phänomenologisch und in ihrer Elementzusammensetzung untersucht werden. Seit etwa 10 Jahren ergänzt diese ideale Kombination von Rasterelektronenmikroskop (REM) und energiedispersivem Röntgenspektrometer (EDS) die Elektronenstrahlmikrosonde (EMS) Die „energiedispersive“ Spektrometrie löste vielfach die „wellenlängendispersive“ ab, die sich aus der klassischen Technik der EMS entwickelt hat. Die Strahlenzerlegung erfolgt heute mit Hilfe eines Halbleiterdetektors in Verbindung mit Vielkanalanalysatoren (Quantencharakter der Strahlung). Derzeit werden viermal mehr energiedispersive als wellenlängendispersive Spektrometer gebaut, doch bietet die wellenlängendispersive Spektrometrie einige analytische Möglichkeiten, die sie noch unersetzbar erscheinen lassen (vgl. Teil II).
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Literatur
Literatur
Russ, J. C.: X-Ray Spectrom. 6, 37 (1977)
Weiterführende Bücher
Bertin, E. P.: Principles and Practice of X-Ray Spectrometric Analysis, 2nd ed., New York: Plenum Press 1975
Jenkins, R.: Einführung in die Röntgenspektrometrie, London: Heyden 1977 (dt. Übersetzung von M. F. Ebel)
Reimer, L.; Pfefferkorn, G.: Rasterelektronenmikroskopie, Berlin, Heidelberg, New York: Springer 1973
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© 1980 Springer-Verlag, Berlin/Heidelberg
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Klockenkämper, R. (1980). Röntgenspektralanalyse am Rasterelektronenmikroskop I. Energiedispersive Spektrometrie. In: Kienitz, H., Bock, R., Fresenius, W., Huber, W., Tölg, G. (eds) Analytiker-Taschenbuch. Analytiker-Taschenbuch, vol 1. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-67400-6_11
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