Zusammenfassung
Die Ellipsometrie ist im UV/VIS-Bereich eine verbreitete Meβmethode, speziell für die Charakterisierung von Schichten (z.B. in der Halbleiterphysik). Im Infrarotgebiet wurde die spektroskopische Ellipsometrie seit 1980 routinemäβig durch die Kopplung eines photometrischen Eilipsometers mit einem. Fourier Spektrometer realisiert. Erste Ansätze seit 1955 [1] konnten sich nicht durchsetzen, da die intensitätsschwachen Dispersionsspektrometer verwendet wurden.
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Röseler, A. (1996). Spektroskopische Infrarotellipsometrie. In: Günzler, H., et al. Analytiker-Taschenbuch. Analytiker-Taschenbuch, vol 14. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-60995-4_2
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