Zusammenfassung
Durch die Fehlersimulation wird für eine gegebene Schaltung, ein gegebenes Fehlermodell und eine gegebene Testmusterfolge ermittelt, welche Fehler an den Schaltungsausgängen beobachtet werden können. Das Verhältnis der Zahl der durch die gegebene Testmusterfolge erkennbaren Fehler zur Gesamtzahl der modellierten Fehler wird als Fehlererkennungsgrad FE bezeichnet.
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© 1997 Sringer-Verlag Berlin Heidelberg
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Daehn, W. (1997). Fehlersimulation. In: Daehn, W. (eds) Testverfahren in der Mikroelektronik. Mikroelektronik. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-60559-8_4
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DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-642-60559-8_4
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Online ISBN: 978-3-642-60559-8
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