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Infrarotspektrometrische Gasanalytik

Verfahren und Anwendungen
  • H. M. Heise
Chapter

Zusammenfassung

Für die Gasanalytik kommen neben chemischen Untersuchungsmethoden vielfach physikalisch-chemische und rein physikalische Meßverfahren in Frage [1–4]. Zu der letztgenannten Gruppe gehört die Infrarotspektro-metrie. Für alle mehratomigen Gase, mit Ausnahme der homöonuklearen zweiatomigen Gase, für die jedoch über die vielfach komplementäre Raman-Spektroskopie Spektren erhalten werden können, liefert die IR-Spektroskopie Meßsignale, die Bestimmungen vom extremen Spurenbereich bis zu Volumenanteilen von 100% ermöglichen. Die IR-Spektro-metrie erlaubt, zerstörungsfrei und häufig auch über größere Entfernungen hinweg zu messen, und in bestimmten Fällen können neben Konzentrationen sogar Meßparameter wie Druck und Temperatur geliefert werden. Weiterhin lassen sich zeitabhängige Vorgänge in einer weiten Zeitskala verfolgen.

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Literatur

  1. 1.
    Leithe, W.: Die Analyse der Luft und ihrer Verunreinigungen in der freien Atmosphärc und am Arbeitsplatz, Wiss. Verlagsges., Stuttgart 1974Google Scholar
  2. 2.
    Birkle, M.: Meßtechnik für den Immissionsschutz, R. Oldenbourg Verlag, München, Wien 1979Google Scholar
  3. 3.
    Leichnitz, K.: „Prüfröhrchen“ in: Analytiker-Taschenbuch, Bd. 1, S. 205, Springer-Verlag, Berlin 1980CrossRefGoogle Scholar
  4. 4.
    Runge, H.: „Gasspurenanalyse. Messen von Emissionen und Immissionen“ in: Analytiker-Taschenbuch, Bd. 3, S. 317, Springer-Verlag, Berlin 1983Google Scholar
  5. 5.
    Bock, H.: „Infrarot-Spektroskopie“ in: Analytiker-Taschenbuch. Bd. 4, S. 201, Springer-Verlag, Berlin 1984CrossRefGoogle Scholar
  6. 6.
    Schiel, D., Richter, W.: Fresenius Z. Anal. Chem. 327:355 (1987)CrossRefGoogle Scholar
  7. 7.
    Herzberg, G.: Molecular Spectra and Molecular Structure, I. Spectra of Diatomic Molecules, Van Nostrand, New York 1950Google Scholar
  8. 8.
    Barrow, G. M.: Introduction to Molecular Spectroscopy, McGraw-Hill, New York 1962Google Scholar
  9. 9.
    Herzberg, G.: Molecular Spectra and Molecular Structure, II. Infrared and Raman Spectra of Polyatomic Molecules, Van Nostrand, New York 1945Google Scholar
  10. 10.
    Cole, A. R. H.: Tables of Wavenumbers for the Calibration of Infrared Spectrometers, 2nd Ed., Pergamon Press, Oxford 1977Google Scholar
  11. 11.
    Heise, H. M., Lutz, H., Dreizier, H.: Z. Naturforsch. 29a: 1345 (1974)Google Scholar
  12. 12.
    Heise, H. M., Winther, F., Lutz, H.: J. Mol. Spectrosc. 90: 531 (1981)CrossRefGoogle Scholar
  13. 13.
    Seth-Paul, W. A.: J. Mol. Structure 3:403 (1969)CrossRefGoogle Scholar
  14. 14.
    Gordy, W., Cook, R. L.: Microwave Molecular Spectra, Interscience Publishers, New York 1970Google Scholar
  15. 15.
    Penner, S.S.: Quantitative Molecular Spectroscopy and Gas Emissi-vities, Addison-Wesley Publishing Comp., Reading 1959Google Scholar
  16. 16.
    Demtröder, W.: Grundlagen und Techniken der Laserspektroskopie, Springer-Verlag, Berlin 1977Google Scholar
  17. 17.
    Schrader, B.: „Infrarot und Ramanspektrometrie“ in: Ullmanns Ency-klopädie der technischen Chemie, 4. Aufl., Verlag Chemie, Weinheim 1980Google Scholar
  18. 18.
    Pugh, L. A., Rao, K. N.: „Intensities from Infrared Spectra“ in: Molecular Spectroscopy: Modern Research, Hrsg. K. N. Rao, Bd. 2, S. 165, Academic Press, New York 1976Google Scholar
  19. 19.
    Park, J. H., et al.: Atlas of Absorption Lines From 0 to 17 900 cm-1, NASA Reference Publication 1188 (1987)Google Scholar
  20. 20.
    Rothman, L. S., et al.: Appl. Opt. 26:4058 (1987)CrossRefGoogle Scholar
  21. 21.
    Spectra-Physics GmbH, 6100 Darmstadt-KranichsteinGoogle Scholar
  22. 22.
    Husson, N., et al.: Ann. Geophys. 4:185 (1986)Google Scholar
  23. 23.
    Brown, L. R., Farmer, C. B., Rinsland, C. P., Toth, R. A.: Appl. Opt. 26:5154 (1987)Google Scholar
  24. 24.
    Blass, W. E., Chin, V. W. L.: J. Quant. Spectrosc. Radiat. Transfer 38:185 (1987)CrossRefGoogle Scholar
  25. 25.
    Eng, R. S., Calawa, A. R., Harman, T. C., Kelley, P. L.: Appl. Phys. Lett. 21:303 (1972)CrossRefGoogle Scholar
  26. 26.
    Günzler, H., Böck, H.: IR-Spektroskopie, Verlag Chemie, Weinheim, 2. Auflage, 1983Google Scholar
  27. 27.
    Stewart, J. E.: Infrared Spectroscopy, Marcel Dekker, New York 1970Google Scholar
  28. 28.
    Griffiths, P. R., de Haseth, J. A.: Fourier Transform Infrared Spectroscopy, John Wiley & Sons, New York 1986Google Scholar
  29. 29.
    Dereniak, E. L., Crowe, D. G.: Optical Radiation Detectors, John Wiley & Sons, New York 1984Google Scholar
  30. 30.
    Tietze, U., Schenk, Ch.: Halbleiter-Schaltungstechnik, Springer-Verlag, Berlin, 8. Auflage, 1986Google Scholar
  31. 31.
    White, J. U.: J. Opt. Soc. Am. 32:285 (1942)CrossRefGoogle Scholar
  32. 32.
    Dalton, W. S., Sakai, H.: Appl. Optics 19:2413 (1980)CrossRefGoogle Scholar
  33. 33.
    Hanst, P. L.: Appl. Optics 17:1360 (1978)CrossRefGoogle Scholar
  34. 34.
    VDI-Richtlinien, Messen von Gasen — Prüfgase, VDI 3490, 1980Google Scholar
  35. 35.
    Rössel, H., Buchholz, N., Hartkamp, H.: Fresenius Z. Anal. Chem. 316:142 (1983)CrossRefGoogle Scholar
  36. 36.
    Heise, H. M., Kirchner, H.-H., Richter, W.: Fresenius Z. Anal. Chem. 322:397 (1985)CrossRefGoogle Scholar
  37. 37.
    Park, J. H., Kendall, D. J. W., Buijs, H. L.: J. Geophys. Research 89:11645 (1984)CrossRefGoogle Scholar
  38. 38.
    Mankin, W. G.: Opt. Engineering 17:39 (1978)Google Scholar
  39. 39.
    Herget, W. F., Brasher, J. D.: Appl. Optics 18:3404 (1979)CrossRefGoogle Scholar
  40. 40.
    Herres, W., Gronholz, J.: Comp. Anw. Lab. 5/84:352: 6/84:418; 5/85:230Google Scholar
  41. 41.
    Molt, K.: „Marktübersicht Infrarot-Spektroskopie“ in: Nachr. Chem. Techn. Lab. 33, 10/1985Google Scholar
  42. 42.
    Gilby, A. C., Syrjala, R. J., Schlicht, G.: Chem. Techn. 9:189 (1980)Google Scholar
  43. 43.
    Nielsen, J. R., Thornton, V., Dale, E. B.: Rev. Modem Phys. 16:307 (1944)CrossRefGoogle Scholar
  44. 44.
    Anderson, R. J., Griffiths, P. R.: Anal. Chem. 47:2339 (1975)CrossRefGoogle Scholar
  45. 45.
    Luther, H., Germershausen, R.: Ber. Bunsenges. physik. Chem. 67:571 (1963)Google Scholar
  46. 46.
    Heise, H. M.: Fresenius Z. Anal. Chem. 323:368 (1986)CrossRefGoogle Scholar
  47. 47.
    Griffiths, P. R.: Appl. Spectrosc. 29:11 (1975)CrossRefGoogle Scholar
  48. 48.
    Haaland, D. M., Easterling, R. G.: Appl. Spectrosc. 34:539 (1980)CrossRefGoogle Scholar
  49. 49.
    Maris, M. A., Brown, C. W., Lavery, D. S.: Anal. Chem. 55:1694 (1983)CrossRefGoogle Scholar
  50. 50.
    Donahue, S. M., Brown, C. W., Caputo, B., Modell, M. D.: Anal. Chem. 60:1873(1988)CrossRefGoogle Scholar
  51. 51.
    Park, J. H.: Appl. Opt. 23:2604 (1984)CrossRefGoogle Scholar
  52. 52.
    Beer, R., Norton, R. H.: Appl. Optics 27:1255 (1988)CrossRefGoogle Scholar
  53. 53.
    Wiens, R. H., Zwick, H. H.: „Trace Gas Detection by Correlation Spectrosclpy“, in: Infrared, Correlation and Fourier Transform Spectroscopy, Hrsg. Mattson, J. S., Mark Jr., H. B., MacDonald Jr., H. C., Marcel Dekker, New York 1977Google Scholar
  54. 54.
    Deutsche Forschungsgemeinschaft: Maximale Arbeitsplatzkonzentration und biologische Arbeitsstofftoleranzwerte, Verlag Chemie, Weinheim 1987Google Scholar
  55. 55.
    Bencsath, F. A., Drysch, K., Weichardt, H.: Anaesthesist 29:30 (1980)Google Scholar
  56. 56.
    Drysch, K., Woiwode, W.: Beckman Report 1/1980, 6Google Scholar
  57. 57.
    Zeller, M. V., Juszli, M. P.: „IR-Vergleichsspektren mit Dämpfen an den OSHA-Konzentrationsgrenzen mit variablen Langweg-Gasküvet-ten“, in: Angewandte Infrarot-Spektroskopie, Hrsg. Perkin-Elmer, Heft 17 (1975)Google Scholar
  58. 58.
    Smith, B. T., GiUespie, R. E.: Industrial Res. 19:86 (1977)Google Scholar
  59. 59.
    Mantz, A. W.: Appl. Spectrosc. 30:539 (1976)CrossRefGoogle Scholar
  60. 60.
    Alexander, A. J., Goggin, P. L., Cooke, M.: Anal. Chim. Acta 151:1 (1983)CrossRefGoogle Scholar
  61. 61.
    Ripperger, S., Germerdonk, R.: Chem.-Ing.-Techn. 55:558 (1983)CrossRefGoogle Scholar
  62. 62.
    Grupinski, L.: Staub-Reinhalt. Luft 46:490 (1986)Google Scholar
  63. 63.
    Samimi, B. S.: Am. Ind. Hyg. Assoc. J. 44:40 (1983)CrossRefGoogle Scholar
  64. 64.
    Diaz-Rueda, J., Sloane, H. J., Obremski, R. J.: Appl. Spectrosc. 31:298 (1977)CrossRefGoogle Scholar
  65. 65.
    Hanst, P. L.:,,Spectroscopic Methods for Air Pollution Measurement“ in: Advances in Environmental Science and Technology, Hrsg. Pitts, Jr., J. N. und Metcalf, R. L., Bd. 2, Wiley-Interscience, New York 1971Google Scholar
  66. 66.
    Hanst, P. L.: Fresenius Z. Anal. Chem. 324:579 (1986)CrossRefGoogle Scholar
  67. 67.
    Tuazon, E. C., Graham, R. A., Winer, A. M., Easton, R. R., Pitts Jr., J. N., Hanst, P. L.: Atmos. Environ. 12:865 (1978)CrossRefGoogle Scholar
  68. 68.
    Hàllam, H. E.: Vibrational Spectroscopy of Trapped Species, Wiley, New York 1973Google Scholar
  69. 69.
    Ewing, G. E., Thompson, W. E., Pimentel, G. C.: J. Chem. Phys. 32: 927 (1960)CrossRefGoogle Scholar
  70. 70.
    Rochkind, M. M.: Anal. Chem. 39:567 (1967)CrossRefGoogle Scholar
  71. 71.
    Carr, B. R., Chadwick, B. M., Edwards, C. S., Long, D. A., Warton, F. C.: J. Mol. Struct. 62:291 (1980)CrossRefGoogle Scholar
  72. 72.
    Reedy, G. T., Ettinger, D. G., Schneider, J. F.: Anal. Chem. 57:1602 (1985)CrossRefGoogle Scholar
  73. 73.
    Griffith, D. W. T., Schuster, G.: J. Atmos. Chem. 5:59 (1987)CrossRefGoogle Scholar
  74. 74.
    Berger, E., Griffith, D. W. T., Schuster, G., Wilson, S. R.: Mikrochim. Acta II: 239 (1988)CrossRefGoogle Scholar
  75. 75.
    Park, J. H., Carli, B.: Appl. Opt. 25:3490 (1986)CrossRefGoogle Scholar
  76. 76.
    Shaffer, W. A., Kunde, V. G., Conrath, B. J.: Appl. Optics 27:3482 (1988)CrossRefGoogle Scholar
  77. 77.
    NASA Conference Publication 10014, Proceedings of the Polar Ozone Workshop (Snowmass, Colorado U.S.A., 9.—13. Mai 1988)Google Scholar
  78. 78.
    Fink, U., Larson, H. P.: „Astronomy: Planetary Atmospheres“ in: Fourier Transform Infrared Spectroscopy, Hrsg. Ferraro, J. R., Basile, L. J.; Academic Press, New York 1979Google Scholar
  79. 79.
    Allen, P. V., Vanderwielen, A. J.: Anal. Chem. 49:1602 (1977)CrossRefGoogle Scholar
  80. 80.
    Lefers, J. B., van den Berg, P. J.: Anal. Chem. 52:1424 (1980)CrossRefGoogle Scholar
  81. 81.
    Shakar, J. J., Mann, C. K., Vickers, T. J.: Anal. Chem. 58:1460 (1986)CrossRefGoogle Scholar
  82. 82.
    Firth, S., Viktorin, M.: DUNG in Tagungsband InCom ′89, GIT-Verlag, Darmstadt 1989Google Scholar
  83. 83.
    Herget, W. F., Fa. Nicolet (1985)Google Scholar
  84. 84.
    Staab, J., Klingenberg, H.: Automobil-Industrie Heft 3, Meßtechnik, 359 (1986)Google Scholar
  85. 85.
    Staab, J., Klingenberg, H., Herget, W. F., Riedel, W. J.: Progress in the Prototype Development of a New Multicomponent Exhaust Gas Sampling and Analyzing System, SAE paper No. 840470 (1984)Google Scholar
  86. 86.
    Herget, W. F.: Appl. Opt. 21:635 (1982)CrossRefGoogle Scholar
  87. 87.
    Pruss, D.: Materials Sc. Forum 32–33: 321 (1988)CrossRefGoogle Scholar
  88. 88.
    Sadtler IR-Gasphasenbibliothek, Sadtler Research Labs., Philadelphia USA (wird in Deutschland von Heyden, Rheine, vertrieben)Google Scholar
  89. 89.
    Herres, W.: HRGC-FTIR: Capillary Gas Chromatography-Fourier Transform Infrared Spectroscopy, Dr. Alfred Hüthig Verlag, Heidelberg 1987Google Scholar
  90. 90.
    Pitts Jr., J. N., Finlayson-Pitts, B. J., Winer, A. M.: Environ. Sc. & Techn. 11:568 (1977)CrossRefGoogle Scholar
  91. 91.
    Durana, J. F., Mantz, A. W.: „Laboratory Studies of Reacting and Transient Systems“, in: Fourier Transform Infrared Spectroscopy, Hrsg. Ferraro, J. R., Basile, L. J., Academic Press, New York 1979Google Scholar
  92. 92.
    Schaefer, W.: PTB-Mitteilungen, Heft 2, 84 (1974)Google Scholar
  93. 93.
    Rosenfeld, E. Z., Boasson, H.: Eur. Pat. Appl. EP 231639 A2, 12. Aug. 1987Google Scholar
  94. 94.
    Lehrer, E., Luft, K. F.: Verfahren zur Bestimmung von Bestandteilen in Stoffgemischen mittels Strahlenabsorption, DRP 730478 v. 9. 3. 1938, BASF;Google Scholar
  95. 94a.
    Luft, K. F.: Z. Tech. Physik 24:97 (1943)Google Scholar
  96. 95.
    Hill, D.W., Powell, T.: Non-dispersive Infra-red Gasanalysis in Science, Medicine and Industry, Adam Hilger, London 1968Google Scholar
  97. 96.
    Leybold AG, Meß- und Analysentechnik, 6450 Hanau 1Google Scholar
  98. 97.
    Siemens AG, Bereich Meß- und Prozeßtechnik, 7500 Karlsruhe 21Google Scholar
  99. 98.
    Luft, K. F., Kessler, G., Zörner, K. H.: Chem. Ing. Techn. 39:937 (1967)CrossRefGoogle Scholar
  100. 99.
    Maihak AG, 2000 Hamburg 60Google Scholar
  101. 100.
    van Damme, S., Slemever, A., Wendt, K.: Techn. Messen — tm 54:416 (1987)Google Scholar
  102. 101.
    Fabinski, W., Aschcrsfeld, M.: Techn. Messen — tm 47:257 (1980)Google Scholar
  103. 102.
    Griffith, D. W. T.: Tellus 34:376 (1982)CrossRefGoogle Scholar
  104. 103.
    Griffith, D. W. T., Keeling, C. D., Adams, J. A., Guenther, P. R., Bacastow, R. B.: Tcllus 34:385 (1982)Google Scholar
  105. 104.
    Sensorlab GmbH, 8000 München 19Google Scholar
  106. 105.
    Bodenseewerk Grrateteehnik GmbH, Geschäftsbereich Geosystem, 7770 ÜberlingenGoogle Scholar
  107. 106.
    Beckman Industrial Prozess-Geräte GmbH, 8000 München 46Google Scholar
  108. 107.
    Schaefer, W.: Z. angew. Phys. 19:55 (1965)Google Scholar
  109. 108.
    Cha, S., Gabcle, P. A.: Opt. Engineer. 25:1299 (1986)Google Scholar
  110. 109.
    Galais, A., Fortunato, G., Chavel, P.: Appl. Opt. 24:2127 (1985)CrossRefGoogle Scholar
  111. 110.
    VDI-Handbuch Reinhaltung der Luft, Bd. 5, Hrsg. VDI-Kommission Reinhaltung der Luft, Stand 1988Google Scholar
  112. 111.
    Birkle, M.: GIT Fachz. Lab. 7/1988, 772Google Scholar
  113. 112.
    13. Verordnung zur Durchführung des Bundes-Immissionsschutzgesetzes (Verordnung über Großfeuerungsanlagen) vom 22. 6. 1983Google Scholar
  114. 113.
    Allgemeine Verwaltungsvorschrift zum Bundes-Immissionsschutzgesetz, Technische Anleitung zur Reinhaltung der Luft (TAL) 1974/ 1983/1986Google Scholar
  115. 114.
    Gemeinsames Ministerialblatt, herausgegeben vom Bundesminister des Inneren, Bereich UmweltangelegenheitenGoogle Scholar
  116. 115.
    Wiegleb, G.: Techn. Messen 51:385 (1984)Google Scholar
  117. 116.
    Ascherfeld, M., Fabinski, W.: Techn. Messen 54:195 (1987)Google Scholar
  118. 117.
    Berkhahn, W., Wiedeking, E.: Chem. Techn. 10:829 (1981)Google Scholar
  119. 118.
    Berkhahn, W., Wiedeking, E.: VGB Kraftwerkstechn. 63:801 (1983)Google Scholar
  120. 119.
    Fabinski, W., Eckmann, F.: VBG Kraftwerkstechn. 67:143 (1987)Google Scholar
  121. 120.
    Applikationsbericht Nr. 26/85 Bodenseewerk, ÜberlingenGoogle Scholar
  122. 121.
    Herget, W. F., Jahnke, J. A., Burch, D.E., Gryvnak, D. A.: Appl. Optics 15:1222 (1976)CrossRefGoogle Scholar
  123. 122.
    Antechnika GmbH, 7505 EttlingenGoogle Scholar
  124. 123.
    Becker, K. H.: „Physikalisch-chemische Eigenschaften der reinen und verschmutzten Atmosphäre“, in: Atmosphärische Spurenstoffe und ihr physikalisch-chemisches Verhalten, Hrsg. Becker, K. H., und Löbel, J., Springer-Verlag, Berlin 1985CrossRefGoogle Scholar
  125. 124.
    Mayer, H., Sajonz, D.: Siemens-Energietechnik 5:6 (1983)Google Scholar
  126. 125.
    Ward, T. V., Zwick, H. H.: Appl. Optics 14:2896 (1975)CrossRefGoogle Scholar
  127. 126.
    Fabian, P.: Atmosphäre und Umwelt, Springer-Verlag, Berlin 1984Google Scholar
  128. 127.
    Nather, E., Schorpp, K.: Siemens-Energietechnik 4:141 (1982)Google Scholar
  129. 128.
    Richter, J.: Analysentechnische Meßeinrichtungen für die Zementindustrie, Hartmann & Braun, Einzelbericht (02 PY 3604)Google Scholar
  130. 129.
    Richter, J.: Kontinuierliche Gasanalyse in der Biotechnologie — eine Methode zur Bilanzierung des Stoffwechsels in Produktionsfermenten, Hartmann & Braun, Einzelbericht (02 PY 3603)Google Scholar
  131. 130.
    Schilling, H., Hinz, W.: Aufbereitung von Deponiegasen und Faulgasen für verschiedene Verwendungszwecke, Leybold, Arbeitsbericht 1987Google Scholar
  132. 131.
    Staab, J., Klingenberg, H., Schürmann, D.: SAE Techn. Paper Series 830437, S. 2212, Society of Automotive Engineers. 1984Google Scholar
  133. 132.
    Richter, W., Schiel, D.: PTB-Mitteilungen 91:421 (1981)Google Scholar
  134. 133.
    Pierburg GmbH, 4040 Neuss 1Google Scholar
  135. 134.
    Pockrand, L: Techn. Messen tm 52:247 (1985)Google Scholar
  136. 135.
    Drägerwerk AG, 2400 Lübeck 1Google Scholar
  137. 136.
    Rothe, K. W., Walter, H.: „Remote Sensing Using Tunable Lasers“ in: Tunable Lasers and Applications, Hrsg. Mooradian, A., Jaeger, T., und Stockseth, P., Springer, Berlin 1976Google Scholar
  138. 137.
    Beck, R., Englisch, W., Gürs, K.: Table of Laser Lines in Gases and Vapours, Springer Series in Optical Sciences, Vol. 2, 3. Aufl., Springer-Verlag, Berlin 1980Google Scholar
  139. 138.
    Jaeger, T., Wang, G.: „Tunable High-Pressure Infrared Lasers“ in: Tunable Lasers, Topics in Appl. Phys., Vol. 59, Hrsg. Mollenauer, L. F., and White, J. C., Springer, Berlin 1987Google Scholar
  140. 139.
    Grisar, R.: Quantitative Gasanalyse mit abstimmbaren IR-Dioden-lasern, IPM Forschungsbericht 11–10-88, 1988Google Scholar
  141. 140.
    Mooradian, A.: „Scalable Tunable IR Lasers“; Byer, R. L.: „Parametric Oscillators“ in: Tunable Lasers and Applications, Hrsg. Mooradian, A., Jaeger, T., and Stockseth, P., Springer, Berlin 1976Google Scholar
  142. 141.
    Hinkley, E.-D., (Hrsg.), Laser Monitoring of the Atmosphere, Springer, Berlin 1976Google Scholar
  143. 142.
    Reid, J., Garside, B. K., Shewchun, J., El-Sherbiny, M., Ballik, E. A.: Appl. Opt. 17:1806 (1978)CrossRefGoogle Scholar
  144. 143.
    Eng, R. S., Butler, J. F., Linden, K. J.: Opt. Engineer. 19:945 (1980)Google Scholar
  145. 144.
    Reich, M., Schieder, R., Clar, H. J., Winnewisser, G.: Appl. Opt. 25: 130 (1986)CrossRefGoogle Scholar
  146. 145.
    Valentin, A., Nicolas, C., Henry, L., Mantz, A. W.: Appl. Opt. 26:41 (1987)CrossRefGoogle Scholar
  147. 146.
    Jennings, D. E.: Appl. Phys. Lett. 33:493 (1978)CrossRefGoogle Scholar
  148. 147.
    Riedel, W. J.: Proc. SPIE 99:17 (1976)Google Scholar
  149. 148.
    Reid, J., Shewchun, J., Garside, B. K., Ballik, E. A.: Appl. Opt. 17: 300 (1978)CrossRefGoogle Scholar
  150. 149.
    Wilson, G. V. H.: J. Appl. Phys. 34:3276 (1963)CrossRefGoogle Scholar
  151. 150.
    Mucha, J. A.: Appl. Spectrosc. 38:68 (1984)CrossRefGoogle Scholar
  152. 151.
    Weitkamp, C.: Appl. Opt. 23:83 (1984)CrossRefGoogle Scholar
  153. 152.
    Ku, R. T., Hinkley, E. D., Sample, J. O.: Appl. Opt. 14:854 (1975)CrossRefGoogle Scholar
  154. 153.
    Hager, R. K., Stäudner, R.: Techn. Messen atm 43:329 (1976)Google Scholar
  155. 154.
    Heise, H. M.: Proceedings SPIE 553:247 (1985)Google Scholar
  156. 155.
    Grisar, R., Tacke, M., Schmidtke, G., Restelli, G., (Hrsg.), Monitoring of Gaseous Pollutants by Tunable Diode Lasers, Bd. 2, D. Reidel Publ. Comp., Dordrecht 1989Google Scholar
  157. 156.
    Cassidy, D. T., Reid, J.: Appl. Opt. 21:1185 (1982)CrossRefGoogle Scholar
  158. 157.
    Webster, C. R., Grant, W. B.: Appl. Opt. 22:1952 (1983)CrossRefGoogle Scholar
  159. 158.
    Eng, R. S., Mantz, A. W., Todd, T. R.: Appl. Opt. 18:3438 (1979)CrossRefGoogle Scholar
  160. 159.
    Murray, E. R., Williams, M. F., van der Laan, J. E.: Appl. Opt. 17: 296 (1978)CrossRefGoogle Scholar
  161. 160.
    Murray, E. R.: Opt. Engineer. 17:30 (1978)Google Scholar
  162. 161.
    Edner, H., Fredriksson, K., Sunesson, A., Svanberg, S., Unéus, L., Wendt, W.: Appl. Opt. 26:4330 (1987)CrossRefGoogle Scholar
  163. 162.
    Rothe, K. W., Walther, H.: „Remote Sensing using Tunable Lasers“ in: Tunable Lasers, and Applications, Hrsg. Mooradian, A., Jaeger, T., Stockseth, P., Springer, Berlin 1976Google Scholar
  164. 163.
    Bell, A. G.: Philos. Mag. 11:510 (1881);Google Scholar
  165. 163a.
    Tyndau, J.: Proc. Roy. Soc. (London) 31:307 (1881)Google Scholar
  166. 163b.
    Röntgen, W. C.: Philos. Mag. 11:308 (1881)Google Scholar
  167. 164.
    Patel, C. K. N., Kerl, R. J.: Appl. Phys. Lett. 30:578 (1977)CrossRefGoogle Scholar
  168. 165.
    Grisar, R., Preier, H., Schmidtke, G., Restelli, G., (Hrsg.), Monitoring of Gaseous Pollutants by Tunable Diode Lasers, D. Reidel Publ. Comp., Dordrecht 1987Google Scholar
  169. 166.
    Cassidy, D. T., Bonnell, L. J.: Appl. Opt. 27:2688 (1988)CrossRefGoogle Scholar
  170. 167.
    Gertz, M., Lenth, W., Young, A. T., Johnston, H. S.: Opt. Lett. 11: 132 (1986)CrossRefGoogle Scholar
  171. 168.
    Beckwith, P. H., Brown, C. E., Danagher, D. J., Smith, D. R., Reid, J.: Appl. Opt. 26:2643 (1987)CrossRefGoogle Scholar
  172. 169.
    Mütek GmbH, 8036 HerschingGoogle Scholar
  173. 170.
    Glenar, D. A., Hill, A.: Rev. Sci. Instrum. 57:2493 (1986)CrossRefGoogle Scholar
  174. 171.
    Sams, R., Fried, A.: Appl. Spectrosc. 40:24 (1986)CrossRefGoogle Scholar
  175. 172.
    Svanberg, S.: Appl. Phys. B 46:271 (1988)CrossRefGoogle Scholar
  176. 173.
    Slemr, F., Harris, G. W., Hastie, D. R., Mackay, G. I., Schiff, H. I.: J. Geophys. Res. 91:5371 (1986)CrossRefGoogle Scholar
  177. 174.
    Schiff, H. L., Hastie, D. R., Mackay, G. L., Iguchi, T., Ridley, B. A.: Environ. Sci. Technol. 17:352A (1983)Google Scholar
  178. 175.
    Silver, J. A., Stanton, A. C.: Appl. Opt. 26:2558 (1987)CrossRefGoogle Scholar
  179. 176.
    Fried, A., Sams, R., Dorko, W., Elkins, J. W., Cai, Z.: Anal. Chem. 60:394 (1988)CrossRefGoogle Scholar
  180. 177.
    Sigrist, M. W.: J. Appl. Phys. 60:R83 (1986)CrossRefGoogle Scholar
  181. 178.
    Grant, W. B., Brothers, A. M., Bogan, J. R.: Appl. Opt. 27:1934 (1988)CrossRefGoogle Scholar
  182. 179.
    Menyuk, N., Killinger, D. K.: Appl. Opt. 26:3061 (1987)CrossRefGoogle Scholar
  183. 180.
    Koga, R., Kosaka, M., Sano, H.: Opt. Laser Techn. 6/1985, 139Google Scholar
  184. 181.
    Grisar, R., Ball, D., Riedel, W. J.: Techn. Messen 52:367 (1985)Google Scholar
  185. 182.
    Stanton, A. C., Silver, J. A.: Appl. Opt. 27:5009 (1988)CrossRefGoogle Scholar
  186. 183.
    Ladish, U., Rotter, S., Adler, E., El-Hanany, IT.: Rev. Sci. Instrum. 58:923 (1987)CrossRefGoogle Scholar
  187. 184.
    Rosier, B., Gicquel, P., Henry, D., Coppalle, A.: Appl. Opt. 27:360 (1988)CrossRefGoogle Scholar
  188. 185.
    Kreuzer, L. B.: Anal. Chem. 50:597A (1978)Google Scholar
  189. 186.
    Fung, K. H., Lin, H.-B.: Appl. Opt. 25:749 (1986)CrossRefGoogle Scholar

Copyright information

© Springer-Verlag Berlin Heidelberg 1996

Authors and Affiliations

  • H. M. Heise
    • 1
  1. 1.Institut für Spektrochemie und angewandte SpektroskopieDortmundDeutschland

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