Zusammenfassung
Die Ausnutzung der Leistungsfähigkeit des Elektronenmikroskops hängt bekanntlich auch von den Eigenschaften des photographischen Aufnahmematerials ab. Wir untersuchten daher — außer einigen Versuchsschichten der Agfa-AG. Leverkusen — zahlreiche handelsübliche Photoemulsionen auf Gradation, Empfindlichkeit, Körnigkeit und Auflösung. Im folgenden soll über den Teil dieser Arbeiten berichtet werden, der sich auf extrem feinkörnige und extrem empfindliche Schichten bezieht. Aus den untersuchten feinkörnigen Schichten wurden die Kodak-MR-Platte (Maximum Resolution) und der Agfa-Mikrat-Film, aus den untersuchten empfindlichen Schichten der Gevaert-Structurix-D4-Film und ein Agfa-Versuchsfilm ausgewählt. Zum Vergleich mit diesen extremen Schichten ist als Aufnahmematerial mittlerer Körnigkeit und Empfindlichkeit, wie es in der Elektronenmikroskopie meist verwendet wird, die Perutz-Kontrast-Platte aufgeführt. Die Punktauflösung δ. dieser Schichten wurde auf zwei Arten bestimmt:
-
a)
aus der Körnigkeit der gleichmäßig bestrahlten Schicht und als Funktion des Bildkontrasts,
-
b)
aus elektronenmikroskopischen Aufnahmen eines aus punktförmigen Teilchen bestehenden Präparates.
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Literatur
Neider, R.: Diplomarbeit, Freie Universität Berlin, 1955.
Wiesenberger, E.: Dieser Band S. 769.
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© 1960 Springer-Verlag Berlin Heidelberg
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D’Ans, A.M., Bergansky, EG., Tochtermann, G. (1960). Punktauflösung von extrem feinkörnigen und extrem empfindlichen Photoemulsionen. In: Möllenstedt, G., Niehrs, H., Ruska, E. (eds) Physikalisch-Technischer Teil. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-50195-1_40
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