Skip to main content
SpringerLink
Log in

Schrifttum

  • Chapter
Konturantastende und optoelektronische Koordinatenmeßgeräte für den industriellen Einsatz

Part of the book series: IPA-IAO Forschung und Praxis ((IPA,volume 178))

  • 36 Accesses

This is a preview of subscription content, log in via an institution to check access.

Access this chapter

Log in via an institution
Chapter
USD 29.95
Price excludes VAT (USA)
  • Available as PDF
  • Read on any device
  • Instant download
  • Own it forever
eBook
USD 54.99
Price excludes VAT (USA)
  • Available as PDF
  • Read on any device
  • Instant download
  • Own it forever
Softcover Book
USD 69.99
Price excludes VAT (USA)
  • Compact, lightweight edition
  • Dispatched in 3 to 5 business days
  • Free shipping worldwide - see info

Tax calculation will be finalised at checkout

Purchases are for personal use only

Institutional subscriptions

Preview

Unable to display preview. Download preview PDF.

Unable to display preview. Download preview PDF.

Schrifttum

  1. Bässmann, H.; Konturorientierte Verfahren in der Bildverarbeitung. Besslich, P.W.: Berlin: Springer, 1989.

    Book  Google Scholar 

  2. Berner, P: Rechnergesteuerte Beleuchtungseinrichtung mit gepulsten Infrarot-Leuchtdioden für die industrielle Bildverarbeitung. Stuttgart, Universität, Institut für Physikalische Elektrotechnik, Studienarbeit, 1991.

    Google Scholar 

  3. Castleman, K.R.: Digital Image Processing. Englewood Cliffs, NJ, USA: Prentice Hall, 1979.

    Google Scholar 

  4. Christoph, R.: Bestimmung von geometrischen Größen mit Photoempfängeranordnungen. Jena, Friedrich-Schiller-Universität, Dissertation, 1987.

    Google Scholar 

  5. Christoph, R.: Optoelektronische Bildauswertung zur Objekt vermessung. In: Bild und Ton 43 (1990) 5, S. 133–143.

    Google Scholar 

  6. CCD: The Solid State Imaging Technology. Firmenschrift der Fa. Fairchild, USA, 1984.

    Google Scholar 

  7. Frölich, U.: Vorteile und Möglichkeiten durch programmierbare Optik. In: VDI-Seminar “Berührungslose Koordinatenmeßtechnik”, 28. Sep. 1988, Stuttgart.

    Google Scholar 

  8. Dunham, J.D.: Optimum Uniform Piecewise Linear Approximation of Planar Curves. In: IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence, 8 (1986) 1, S. 67–75.

    Article  Google Scholar 

  9. Fukunaga, K.: Introduction to Statistical Pattern Recognition. New York: Academic Press, 1972.

    Google Scholar 

  10. Geise, G.; Ausgleichsgerade, -kreis, -ebene und -kugel im Raum. Schippke, S.: In: Mathematische Nachrichten, 62 (1974), S. 65–75.

    Article  Google Scholar 

  11. Gerblich, K.: Schnelle Autofokussierung mit Hilfe einer Einzeilenkamera. Stuttgart, Universität, Institut für Physikalische Elektrotechnik, Studienarbeit, 1988.

    Google Scholar 

  12. Goodman, J.: Introduction to Fourier-optics. San Francisico, USA: McGraw-Hill, 1968.

    Google Scholar 

  13. C 4742-High Performance CCD-Kamera mit digitalem Signalausgang. Firmenschrift der Fa. Hamamatsu Photonics Deutschland GmbH, Herrsching, 1992.

    Google Scholar 

  14. Hantke, D.; Untersuchungen geometrischer Eigenschaften u.a.: der CCD-Zeile L133 C. In: Feingerätetechnik, 35 (1987), S. 536–540.

    Google Scholar 

  15. Hopwood, R.K.: Design considerations for a solid state image sensing system. In: SPIE-Proceedings, Vol. 230 (1980), S. 72–82.

    Google Scholar 

  16. Howah, L.: Ein Beitrag zum Aufbau visueller, autonomer Geometriesensoren und zu ihrer Integration in computerunterstützte Fertigungssysteme. Bochum, Ruhr-Universität, Dissertation, 1990.

    Google Scholar 

  17. Hu, M.: Visual Pattern Recognition by Moment Invariants. In: IRE-Transactions on Information Theory, 8 (1962) Feb., S. 179–187.

    Google Scholar 

  18. Johannsen, G., A Threshold Selection Method Using Information Bille, J.: Measures. In: Proceedings of the 6th International Conference on Pattern Recognition, Muchen, 1982. Silver Spring, MD, USA: IEEE Computer Society Press, 1982, S. 140–142.

    Google Scholar 

  19. Justusson, B.I.: Median Filtering: Statistical Properties. in: T.S. Huang (Hrsg.): Two-Dimensional Digital Signal Processing n. Berlin u.a.: Springer, 1981.

    Google Scholar 

  20. Keferstein, C: Geometrieprüfung in der Fertigungsmeßtechnik mit bildverarbeitenden Systemen. Berlin: Springer, 1988. Zugl. Stuttgart, Universität, Dissertation, 1988.

    Google Scholar 

  21. Keferstein, C; Erfahrungen bei der Entwicklung und Einführung Rauh, W.: von Bildverarbeitungssystemen zur automatischen Sichtprüfung. In: VDI-Berichte; 606 (1986), S. 131–146.

    Google Scholar 

  22. l Kille, K.; Integration of an Application Accelerator for High Ahlers, R.J.: Speed Inspection. In: SPDE-Proceedings; 1386 (1991), S. 222–227.

    Article  Google Scholar 

  23. Kittler, J.; Minimum Error Thresholding. Illingworth, J.: In: Pattern Recognition, 19 (1979) 1, S. 62–66.

    Google Scholar 

  24. ProgRes 3000, Ultra-hochauflösende digtale Farb-CCD-Kamera. Firmenschrift der Fa. Kontron Bildanalyse, Eching, 1991

    Google Scholar 

  25. KODAK MEGAPLUS Kamera. Firmenschrift der Fa. KODAK, Stuttgart, 1990.

    Google Scholar 

  26. Kürner, H.: Prozeßrechner-Schnittstellen. In: Regelungstechnische Praxis 17 (1975) 11, S. 331–340.

    Google Scholar 

  27. Lange, M.: Segmentierung von Konturen auf der Basis von Krümmungsberechnungen. In: Radig, B. (Hrsg): Mustererkennung 1991. 13. DAGM-Symposium Berlin: Springer, 1991.

    Google Scholar 

  28. Langer, A.: Elektro-optische Formprüfung an Freiformflächen. In: VDI-Berichte; 836 (1990), S. 185–192.

    Google Scholar 

  29. Lenz, R.: Gewinnung von Bilddaten mit CCD-Sensoren in der Videometrie. In: Bildverarbeitung: Forschen, Entwickeln, Anwenden. Symposium, 8.-10. Nov. 1989, Techn. Akad., Esslingen

    Google Scholar 

  30. Malz, R.: Adaptive Light Encoding for 3-D-Sensing with Maximum Measurement Efficiency. In: Burkhardt, H., Höhne, K.H., Neumann, B. (Hrsg): Mustererkennung 1989. 11. DAGM-Symposium. Berlin: Springer, 1989.

    Google Scholar 

  31. Martin, G.J.; A high resolution CCD-camera for scientific Womack, K.H.; and industrial image applications. Fischer, J.H.: Widec-Advance Product Development.

    Google Scholar 

  32. Menzel, E.; Fourier-Optik und Holographie. Mirande, W.; Berlin: Springer, 1973. Weingärtner, I.:

    Google Scholar 

  33. CNC-gesteuerte Koordinatenmeßmaschinen BN-Serie. Firmenschrift der Fa. Mitutoyo, Neuss, 1986.

    Google Scholar 

  34. Müssigmann, U.: Anwendungen des Integralsatz von Gauß für die Be-rechung von Objektmerkmalen aus Konturdaten. Stuttgart: FhG-IPA, Interne Mitteilung, 1987.

    Google Scholar 

  35. Nalwa, V.; On detecting edges. Binford, T.: In: IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence, 8 (1986) 6, S. 699–704.

    Article  Google Scholar 

  36. Nalwa, V.S.; Edgel Aggregation and Edge Description. Pauchon, E.: In: Computer Vision, Graphics, And Image Processing, 40 (1987), S. 79–94 (1987).

    Article  Google Scholar 

  37. Niemann, H.: Klassifikation von Mustern. Berlin: Springer, 1983.

    Google Scholar 

  38. Dimensional Measuring Interface Specification. Arlington, USA: Computer Aided Manufacturing International, Inc., 1986.

    Google Scholar 

  39. Otsu, N.: A Threshold selection method from gray level histogramms. In: IEEE Trans. Systems Man. Kybernetics, 9 (1979) 1, S. 62–66.

    Article  Google Scholar 

  40. Parker, J.R.: Gray Level Thresholding in Badly Illuminated Images. In: IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence, 13 (1991) 8, S. 813–819.

    Article  Google Scholar 

  41. Peli, T.; A study of edge detection algorithms. Malah, D.: In: Computer Graphics and Image Processing, 20 (1982), S. 1–21.

    Article  Google Scholar 

  42. Press, W.; Numerical Replices in C. Flannery, B.; Cambridge, UK: Cambridge University Press, 1988. Teukolsky, S; Vetterling, W.:

    Google Scholar 

  43. Pun, T.: A New Method for Gray Level Picture Thresholding Using the Entropy of the Histogram. In: Signal Processing 2 (1980), S. 223–237.

    Article  Google Scholar 

  44. Rauh, W.; Kombination optischer und mechanischer Schreiber, L.; Antastung in der Koordinatenmeßtechnik. Koch, K.P.; In: VDI-Berichte; 711 (1988), S. 153–165.

    Google Scholar 

  45. Rauh, W.; Opto-elektronische Koordinatenmeßgeräte und ihre Ahlers, R.-J.: Einbindung in Qualitätssicherungssysteme. In: VDI-Berichte; 836 (1990), S. 99–111.

    Google Scholar 

  46. Rauh, W.; Opto-elektronisches Koordinatenmeßgerät für Janczer, P.: die Vermessung von KfZ-Teilen. In: VDI-Z 130 (1988) Special Messen und Überwachen in der Fertigung, S. 16–19.

    Google Scholar 

  47. JenScan 4500, Höchstauflösende CCD-Spezialkamera für die indutrielle Videogrammetrie. Firmenschrift der Fa. Rheinmetall Jenoptik, Jena, 1992.

    Google Scholar 

  48. Roberge, J.: A Data Reduction Algorithm for Planar Curves. In: Computer Vision, Graphics, And Image Processing, 29 (1985), S. 168–195.

    Article  Google Scholar 

  49. Reseau-Scanning-Camera. Firmenschrift der Fa. Rollei fototechnic, Braunschweig, 1990

    Google Scholar 

  50. Rosenfeld, A.; Digital Picture Processing, Vol. 1, 2. Kak, A.C.: Orlando, Fl, USA: Academic Press, 1982.

    Google Scholar 

  51. Rosin, P.L.; Segmentation of edges into lines and arcs. West, A.W.: In: Image and vision computing, 7 (1989) 2, S. 109–114.

    Article  Google Scholar 

  52. Rousseeuw, P.; Robust Regression and Outlier Detection. Leroy, A.: New York: Wiley, 1987.

    Book  Google Scholar 

  53. Sachs, L.: Angewandte Statistik. 7.Auflage. Berlin: Springer, 1992.

    Google Scholar 

  54. Sachs, L.: Statistische Methoden. 5. Auflage. Berlin: Springer, 1982.

    Google Scholar 

  55. Schilling, A., Kopplung von bildverarbeitenden Koordinaten-Rauh, W.: meßgeräten und CAD-Anlagen. In: Tagungsband IDENT/VISION, 1990, Stuttgart.

    Google Scholar 

  56. Schneider, N.: Kantenhervorhebung und Kantenverfolgung in der industriellen Bildverarbeitung. Braunschweig: Vieweg, 1990.

    Google Scholar 

  57. Schreiber, L.: Messung gekrümmter Flächen mit berührungslosen Verfahren. Berlin: Springer, 1989. Zugl. Stuttgart, Universität, Dissertation, 1989.

    Book  Google Scholar 

  58. Schuster, J.: Entwicklung eines Subpixelalgorithmus für die Kantenantastung mit bildverarbeitenden Systemen. Weingarten: Fachhochschule Weingarten Ravensburg, Diplomarbeit, 1991.

    Google Scholar 

  59. Seitz, K.: Lasergestützte Triangulationsmeßverfahren für Produktions-und Montageanwendungen. Stuttgart, Universität, Dissertation, 1990.

    Google Scholar 

  60. Seitz, P.: Optical superresolution using solid state cameras and digital signalprocessing. In: Optical Engineering, 27 (1988) 7, S. 535–540.

    Google Scholar 

  61. Späth, H.: Algorithmen für multivariable Ausgleichsmodelle. München, Wien: Oldenbourg, 1974.

    Google Scholar 

  62. Talmi, Y.; Self-scanned photodiode array: A multichannel Simpson, R.W.: spectrometry detector. In: Applied optics, 19 (1980) 9, S. 1401–1414.

    Article  Google Scholar 

  63. Teh, C; On the Detection of Dominant Points on Digital Curves. Chin, R.T.: In: IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence, 11 (1989) 8, S. 859–872.

    Article  Google Scholar 

  64. CCD Data Book. Firmenschrift der Fa. Thomson Composants, Courbevoie Cedex, 1988.

    Google Scholar 

  65. Tian, Q.; Algorithms for Subpixel Registration. Huhns, M.: In: Computer Vision, Graphics, And Image Processing, 35 (1986), S. 220–233.

    Article  Google Scholar 

  66. Voss, K.; Praktische Bildverarbeitung. Süße, H.: München, Wien: Hanser, 1991.

    Google Scholar 

  67. Wang, S.; Automatic Multithreshold Selection. Haralick, R.M.: In: Computer Vision, Graphics, And Image Processing, 25, (1984), S. 46–67.

    Article  Google Scholar 

  68. Warnecke, H.J.; Fertigungsmeßtechnik. Dutschke, W.: Berlin: Springer, 1984.

    Google Scholar 

  69. Warnecke, HJ.; Verfahren räumlicher Szenenanalyse und ihre Schmidberger, E.J.; Anwendungen in der Qualitätstechnik. Rauh, W.; In: Qualität und Zuverlässigkeit, 33 (1988) 5, Lu, J.: S. 233–237.

    Google Scholar 

  70. Watrasiewicz, B.M.: Theoretical calculations of images of straight edges in partially coherent illumination. In: Optica Acta 12 (1965) 2, S. 391–400.

    Article  Google Scholar 

  71. van Wezel, R.: Video-Handbuch. München: Franzis, 1977.

    Google Scholar 

  72. Williams, C: An Efficient Algorithm for the Piecewise Linear Approximation of Planar Curves, In: Computer Graphics and Image Processing, 8 (1978), S. 286–293.

    Article  Google Scholar 

  73. Wuescher, D.M.; Robust Contour Decomposition Using a Constatnt Boyer, K.L.: Curvature Criterion. In: IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence, 13 (1991) 1, S. 41–51.

    Article  Google Scholar 

Download references

Author information

Authors and Affiliations

  1. Fraunhofer-Institut für Produktionstechnik und Automatisierung (IPA), Stuttgart, Deutschland

    Dipl.-lng. Wolfgang Rauh

Authors
  1. Dipl.-lng. Wolfgang Rauh
    View author publications

    You can also search for this author in PubMed Google Scholar

Rights and permissions

Reprints and permissions

Copyright information

© 1993 Springer-Verlag, Berlin, Heidelberg

About this chapter

Cite this chapter

Rauh, W. (1993). Schrifttum. In: Konturantastende und optoelektronische Koordinatenmeßgeräte für den industriellen Einsatz. IPA-IAO Forschung und Praxis, vol 178. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-47864-2_9

Download citation

  • DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-642-47864-2_9

  • Publisher Name: Springer, Berlin, Heidelberg

  • Print ISBN: 978-3-540-56876-6

  • Online ISBN: 978-3-642-47864-2

  • eBook Packages: Springer Book Archive

Publish with us

Policies and ethics

Search

Navigation