Skip to main content
SpringerLink
Log in
Book cover

Grundlagen der Optik / Fundamentals of Optics pp 461–554Cite as

Optik dünner Schichten

  • Chapter

Part of the book series: Handbuch der Physik / Encyclopedia of Physics ((PHYSIK 5,volume 5 / 24))

Zusammenfassung

1. Die Optik dünner Schichten ist heute in stürmischer Entwicklung. Technische Anwendungen in erster Linie sind der Anlaß.

This is a preview of subscription content, log in via an institution.

Chapter
USD   29.95
Price excludes VAT (USA)
  • Available as PDF
  • Read on any device
  • Instant download
  • Own it forever
eBook
USD   64.99
Price excludes VAT (USA)
  • Available as PDF
  • Read on any device
  • Instant download
  • Own it forever
Softcover Book
USD   84.99
Price excludes VAT (USA)
  • Compact, lightweight edition
  • Dispatched in 3 to 5 business days
  • Free shipping worldwide - see info

Tax calculation will be finalised at checkout

Purchases are for personal use only

Learn about institutional subscriptions

Preview

Unable to display preview. Download preview PDF.

Unable to display preview. Download preview PDF.

Literatur

Die aufgeführten Originalarbeiten sind ohne Titel zitiert; ihr Inhalt ist jeweils durch einige Stichworte umrissen. Bei Büchern ist der volle Titel angegeben

  • Abelès, F.: C. R. Acad. Sci. Paris 227, 553 (1949). Determination des indices et des epaisseurs des couches minces.

    Google Scholar 

  • Abelès, F.: Rev. Opt. 28, 11 (1949). Couches minces simples ou multiples (Travaux theoriques).

    Google Scholar 

  • Abelès, F.: C. R. Acad. Sci. Paris 234, 198 (1952). Proprietes des couches metalliques tres minces.

    Google Scholar 

  • Abelès, F.: C. R. Acad. Sci. Paris 234, 2053 (1952). Sur les dephasages que subit une onde plane par reflexion ou par transmission ä travers une couche metallique tres minces.

    MATH  Google Scholar 

  • Abelès, F.: Proc. Phys. Soc. Lond. B 65, 996 (1952). Measurement of optical constants by reflection.

    ADS  Google Scholar 

  • Abelès, F.: J. Phys. Radium 14, 5 (1953). Methode nouvelle pour determiner indices et epaisseurs.

    Google Scholar 

  • Abelès, F.: C. R. Acad. Sci. Paris 236, 1412 (1953). Zwei neue Methoden zur Messung des Brechungsindexes und der Dicke dünner durchsichtiger Schichten.

    Google Scholar 

  • Airy, G. B.: Phil. Mag. (3) 2, 20 (1833) u. Pogg. Ann. 41, 512 (1837). AiRYsche Formeln.

    Google Scholar 

  • Aitchison, P.M.: Nature, Lond. 166, 522 (1950). Differential phase change at reflection.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Alkemade, R. van: Wied. Ann. 20, 22 (1883). Polarisationsmethode zur Feststellung einer dünnen Schicht auf massiver Unterlage.

    Google Scholar 

  • Amy, M. P.: Rev. Opt. 6, 305 (1927). Reflexminderung chemisch.

    Google Scholar 

  • Anderson, S., and D. D. Kimpton: J. Amer. Ceram. Soc. 34, 141 (1951). Interference films on glass.

    Article  Google Scholar 

  • Astoin, N., et M. B. Vodar: J. Phys. Radium 14, 424 (1953). Couches minces transparentes dans l’ultraviolet lointain. (SiC- und AI-Schichten.)

    Article  Google Scholar 

  • Avery, D. G.: Nature, Lond. 163, 916 (1949). Interferometric determination of the apparent thickness of thin metallic films.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Avery, D. G.: Phil. Mag. (7) 41, 1018 (1950). Optical properties of evaporated layer of silver, copper and tin.

    Google Scholar 

  • Avery, D. G.: Proc. Phys. Soc. Lond. B 65, 425 (1952). An improved method for measurements of optical constants by reflection. (Aus dem Reflexions Verhältnis für beide Polarisationen bei verschiedenen Einfallswinkeln.)

    ADS  Google Scholar 

  • Avery, D. G.: Proc. Phys. Soc. Lond. B 66, 134 (1953). Optical constants of lead sulphide, lead selenide and lead telluride in the 0.5–3 fx region.

    ADS  Google Scholar 

  • Bahn, R., u. O. Böttger: Z. Physik 135, 376 (1953). Die Brechzahl und die Dicke dünner anodisch erzeugter Aluminiumoxydschichten. [Kösters Interferometer benutzt. S. Mönch, Optik 8, 550 (1951).]

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Banning, M.: Phys. Rev. 59, 914 (1941). Reflectivity of thin AI- and Cu-Films in the ultraviolett. (Interferenzpolarisatoren.)

    Google Scholar 

  • Banning, M.: J. Opt. Soc. Amer. 37, 792 (1947). Interferenzpolarisatoren.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Bannon, J., and C. E. Curnow: Nature, Lond. 161, 136 (1948). Structure of calcium fluoride film.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Barnes, R. B., and M. Czerny: Phys. Rev. 38, 338 (1931). Reflection power of metals in thin layers for the infrared.

    Article  ADS  MATH  Google Scholar 

  • Barr, E. E.: J. Opt. Soc. Amer. 39, 634 (1949). Experimental study of Dennison-Hadley infrared reflection filters.

    Google Scholar 

  • Barell, H., and J. S. Preston: Proc. Phys. Soc. Lond. B 64, 97 (1951). Die Titanoxydschicht als Strahlenteiler.

    ADS  Google Scholar 

  • Bauer, G.: Ann. Phys. (5) 19, 434 (1934). Optische Absorptionskonstanten von Alkalihalo- genidkristallen im Gebiet ihrer ultravioletten Eigenfrequenzen.

    Article  Google Scholar 

  • Bauer, J.: Ann. Phys. (5) 20, 481 (1934). Die Dispersion des Phasensprungs bei der Lichtreflexion an dünnen Metallschichten.

    Article  Google Scholar 

  • Betz, W.: Ann. Phys. (4) 18, 590 (1905). Eine Methode zur Bestimmung der Dicke und optischen Konstanten durchsichtiger Metallschichten.

    Article  MATH  Google Scholar 

  • Billings, B. H., and M. Hyman: J. Opt. Soc. Amer. 37, 119 und 395 (1947). The infra-red refractive index and dispersion of evaporated stibnite films.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Billings, B. H., and M. Hyman: J. Opt. Soc. Amer. 39, 634 (1949). An experimental study of Turner frustrated total reflection filters in the infra-red.

    Google Scholar 

  • Billings, B. H., and M. A. Pittman: J. Opt. Soc. Amer. 39, 978 (1949). Frustrated total reflection filter for the infra-red.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Blackman, M.: Phil. Mag. 18, 262 (1934). The optical properties of thin films.

    Google Scholar 

  • Blodgett, K.: J. Amer. Chem. Soc. 57, 1007 (1935). Erfassung des Polarisationswinkels durch Beobachtung des hier auftretenden Phasenumschlags.

    Article  Google Scholar 

  • Blodgett, K.: Phys. Rev. 55, 391 (1939). Use of interference to extinguish reflection of light from glass.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Blodgett, K.: Phys. Rev. 57, 921 (1940). Nonreflecting films.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Blout, E. R., R. S. Corley and P. L. Snow: J. opt. Soc. Amer. 39, 634 (1949). Infra-red transmitting-filters.

    Google Scholar 

  • Bor, J., and B. G. Chapman: Nature, Lond. 163, 183 (1949). Simultaneous measurement of the optical constants of metals over a wide wave-length range. (Polarisationsmethode, photographisch.)

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Bousquet, P.: J. Phys. Radium 13, 294 (1952). Determination graphique des coefficients de Fresnel.

    Article  MATH  Google Scholar 

  • Bousquet, P.: C. R. Acad. Sci. Paris 237, 516 (1953). Sur un systeme de franges se produissant dans une lame transparente an voisinage de l’angle limite de reflexion totale.

    Google Scholar 

  • Bousquet, P.: C. R. Acad. Sci. Paris 238, 1485 (1954). Facteurs de reflexion et de fluorure de calcium.

    Google Scholar 

  • Bousquet, P.: C. R. Acad. Sci. Paris 239, 406 (1954). Lames minces de fluorure de calcium dans la zone de reflexion totale.

    Google Scholar 

  • Bousquet, P.: C. R. Acad. Sci. Paris 240, 2502 (1955). Facteurs de reflexion de lames minces de cryo- lithe.

    Google Scholar 

  • Bousquet, P.: C. R. Acad. Sci. Paris 241, 478 (1955). fitude spectrophotometrique de lames minces transparentes en incidence oblique.

    Google Scholar 

  • Brein, R.: Optik 10, 492 (1953). Interferenzeinrichtungen an Neigungsmessern.

    Google Scholar 

  • Buch, S.: Z. wiss. Photogr. 45, 212 (1951). Über die Farbe reflexionsmindernder Schichten.

    Google Scholar 

  • Burridge, J. C., H. Kuhn and A. Pevy: Proc. Phys. Soc. Lond. B 66, 963 (1953). Reflectivity of thin aluminium films and their use in interferometry.

    ADS  Google Scholar 

  • Caballero, D. L.: J. Opt. Soc. Amer. 37, 176 (1947). A theoretical development of exact solution of reflectance of multiple layer optical coatings.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Cabrera, N.: C. R. Acad. Sci. Paris 234, 1045 (1952). Sur les proprietes optiques des couches multiples alternees.

    Google Scholar 

  • Cabrera, N.: C.R.Acad. Sci. Paris 234, 1146 (1952). Systeme periodisch wechselnder Schichten.

    Google Scholar 

  • Cario, G., u. J. H. Kallweit: Z. Physik 140, 47 (1955). Zum Wachstum dünner Schichten.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Cartwright, C. H., and A. F. Turner: Phys. Rev. 55, 595 A (1939). Reducing the reflection from glass by evaporated films.

    Google Scholar 

  • Cartwright, C. H., and A. F. Turner: Phys. Rev. 55, 1128 (1939). Multilayer films of high reflecting power.

    Google Scholar 

  • Cau, M.: C. R. Acad. Sci. Paris 186, 1293 (1928); 188, 57; 246 (1929).

    Google Scholar 

  • Cau, M.: Ann. Phys. 11, 354 (1929). Anisotrope Schichten (in diesem Handbuchartikel nicht behandelt).

    Google Scholar 

  • Charbonnier, W.: Dickemessung an nichtabsorbierenden Schichten. Diss. Hamburg 1930.

    Google Scholar 

  • Cirkler, W., u. J. Euler: Phys. Bl. 3, 105 (1954). Die Vergütung optischer Systeme.

    Google Scholar 

  • Coleman, H. S., A.F. Turner and O. A. Ulbrich: J. Opt. Soc. Amer. 37, 521 (1947). (Dicke Mg F2-Schichten.) Crystal orientation and refractive index of thick evaporated Mg F2-films.

    Google Scholar 

  • Coleman, H. S., and G.W. Crawford: J. Opt. Soc. Amer. 43, 326 (1953). In Zweikomponentenschichten beeinflussen die Komponenten gegenseitig ihre Eigenschaften wesentlich.

    Google Scholar 

  • Collger, P. W.: J. Opt. Soc. Amer. 41, 285 (1951). A method for sharpening Fizeau fringes.

    Google Scholar 

  • Cotton, P., et P. Rouard: J. Phys. Radium 11, 461 (1950). Proprietes optiques des lames minces solides.

    Article  MathSciNet  Google Scholar 

  • Crawford, M. F., W. M. Gray, A. L. Schawlow and F. M. Kelly: J. Opt. Soc. Amer. 39, 888 (1949). Reflexion und Durchlässigkeit von AI-Schichten verschiedener Auf- dampfgeschwindigkeit.

    Article  Google Scholar 

  • Czerny, M.: Z. Physik 65, 600 (1930). Steinsalz im Ultraroten.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • David, E.: Z. Physik 114, 389 (1939). Deutung der Anomalien der optischen Konstanten dünner Metallschichten.

    Article  ADS  MATH  Google Scholar 

  • David, E.: Z. Physik 115, 514 (1940). Lichtstreuung an dünnen Metallschichten.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Dörnenburg, G., u. R. Fleischmann: Z. Physik 129, 300 (1951). Änderung des Phasensprung bei der Reflexion an Silber in Abhängigkeit vom Einfallswinkel.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Dreisch, Th., u. E. Rütten: Z. Physik 60, 69 (1930). Ultrarote Absorption und Struktur sehr dünner kathodischer Metallschichten.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Drude, P.: Wied. Ann. 32, 584 (1887). Über die Gesetze der Reflexion und Brechung des Lichtes an der Grenze absorbierender Kristalle. (Metallreflexion ab S. 613.)

    MATH  Google Scholar 

  • Drude, P.: Wied. Ann. 36, 532 (1889). Über Oberflächenschichten I. Erklärung der elliptischen Polarisationen am Brewster-Winkel mit Oberflächenschichten (s. Alkemade).

    Google Scholar 

  • Drude, P.: Wied. Ann. 36, 865 (1889). Über Oberflächenschichten II.

    Google Scholar 

  • Drude, P.: Wied. Ann. 39, 481 (1890). Bestimmung der optischen Konstanten der Metalle (Methodendiskussion).

    Google Scholar 

  • Drude, P.: Wied. Ann. 43, 126 (1891). Polarisation bei Ober flächenschichten.

    Google Scholar 

  • Drude, P.: Wied. Ann. 50, 595 (1893). Monochr. Interferenzverfahren (Fizeau) bei dicken Schichten.

    MATH  Google Scholar 

  • Drude, P.: Wied. Ann. 51, 77 (1894). [Fortsetzung von 50, 595 (1893).]

    Google Scholar 

  • Dufour, Ch.: C. R. Soc. Franc. Phys. 21, Beilage zu J. Phys. Radium 12, Nr. 4 (Apr.) (1951). Sur un procede de reperage des epaisseurs des couches minces dielectriques.

    Google Scholar 

  • Dühmke, M.: Optik 10, 501 (1953). Interferenzoptisches Gerät zur Messung dünner Schichten.

    Google Scholar 

  • Ebeling, J.: Z. Physik 58, 333 (1929). Alkalimetall auf Glas.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Edwards, H. W.: Phys. Rev. 38, 166 (1931). Farben dünner Cu-Filme auf AI oder Ni.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Eisner, E.: Research 4, 183(1951). Phase change of light on reflection at a mica-silver interface.

    Google Scholar 

  • Elliot, A., E. J. Ambrose and R. Temple: J. Opt. Soc. Amer. 38, 212 (1948). Polarisation ultraroter Strahlung durch Se-Schichten und NaF-TeJ-Mehrfachschichten.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Epstein, L. J.: J. Opt. Soc. Amer. 42, 806 (1952). The design of optical filters. (Äquivalent- Indizes für Mehrfachfilter).

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Essers-Rheindorf, G.: Ann. Phys. 28, 297 (1937). Dicke und Konstanten von Träger-schichten aus Polarisationsmessungen.

    Article  Google Scholar 

  • Euler, J.: Z. Physik 137, 318 (1954). Ultrarotoptische Eigenschaften von Metallen und mittlere freie Weglänge der Leitungselektronen.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Falkenhagen, H.: Handbuch der physikalischen Optik (Gehrke), Bd. 1, S. 795, 1927. Struktur aus Dispersion.

    Google Scholar 

  • Faust, R. C.: Phil. Mag. (7) 41, 1238 (1950). Interferometric study of some optical properties of evaporated silver films.

    Google Scholar 

  • Fichter, R.: Helv. phys. Acta 19, 21 (1946). Ultrarotabsorption von Aluminiumoxyd- schichten.

    Google Scholar 

  • Fleischmann, R.: Z. Physik 129, 275 (1951). Interferenzverfahren zur Messung der absoluten Phasen bei der Untersuchung absorbierender Medien.

    Article  MathSciNet  ADS  Google Scholar 

  • Fleischmann, R. u. H. Schopper: Z. Physik 129, 285 (1951). Die Bestimmung der optischen Konstanten und der Schichtdicke absorbierender Schichten mit Hilfe der Messung der absoluten Phasen änderung.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Fleischmann, R.: Z. Physik 130, 304 (1951). Verfahren zur genauen Messung absoluter Lichtphasen an nicht absorbierenden und absorbierenden Schichten.

    Article  MathSciNet  ADS  Google Scholar 

  • Fleischmann, R.: Z. Physik 131, 225 (1952). Ein photometrisches Präzisionsverfahren zur Messung absoluter Lichtphasen mit Hilfe eines phasengleichen Gesichtsfeldes.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Fleischmann, R. u. A. Lohmann: Z. Physik 137, 362 (1954). Die Bestimmung einer absoluten Lichtphase durch Intensitätsmessung in der Beugungsfigur eines Gitters.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Fochs, P. D.: J. Opt. Soc. Amer. 40, 623 (1950). Dicke und Konstanten interferometrisch gemessen (aus kanneliertem Spektrum).

    Article  Google Scholar 

  • Försterling, K.: Nachr. Ges. Wiss. Göttingen 1911, 449. Dicke und Konstanten freier Schichten aus Polarisationsmessungen, ergänzt durch Intensitätsmessungen.

    Google Scholar 

  • Försterling, K.: Phys. Z. 14, 265 (1913). Inhomogene Schichten.

    Google Scholar 

  • Försterling, K.: Phys. Z. 15, 225 (1914). Inhomogene Schichten.

    Google Scholar 

  • Försterling, K.: Phys. Z. 15, 940 (1914). Inhomogene Schichten.

    Google Scholar 

  • Försterling, K.: Ann. Phys. (5) 11, 1 (1931). Über die Ausbreitung des Lichtes in inhomogenen Medien.

    Article  Google Scholar 

  • Försterling, K.: Ann. Phys. (5) 30, 745 (1937). Polarisationsmethode zur Messung der Konstanten und Dicke von Metallschichten auf Trägern.

    Article  Google Scholar 

  • Fragstein, C. v.: Optik 9, 337 (1951). Reziprozität der Durchlässigkeit einer beliebigen Mehrfachschicht für elektromagnetische Wellen.

    Google Scholar 

  • Fragstein, C. v.: Optik 10, 578 (1953). Zur optischen Schichtdickenbestimmung“dicker” Metallschichten.

    Google Scholar 

  • Fragstein, C. v.: Z. Physik 139, 163 (1954). Die Bestimmung von Schichtdicke und optischen Konstanten bei“dünnen” Schichten (Verbesserung der“Indentitäten”).

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Françon, M.: Optik 10, 512 (1953). Bernard Lyot und die Beobachtung der Sonnen-korona außerhalb der Finsternisse (Rotationsdispersionsfilter).

    Google Scholar 

  • Frau, D. C.: Rev. Opt. 31, 161 (1952). Etude theorique du filtre interferentiel.

    Google Scholar 

  • Frazer, J.H.: Phys. Rev. 33, 97 (1929); 34, 644 (1929). Polarisationsmethode für dünne Oberf lächenschichten.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Fritze, H.: Ann. Phys. (4) 47, 763 (1915). Vergleich der Methoden Försterlings, Drudes, Kundts.

    Article  Google Scholar 

  • Galli, N.: Das optische Verhalten dünner Metallschichten (Polarisationsmessungen, vgl. Försterling 1911). Diss. Göttingen 1911.

    Google Scholar 

  • Galli, N. u. K. Försterling: Göttinger Nachr. 58(1911). Konstanten freier Schichten aus Polarisationsmessungen.

    Google Scholar 

  • Gans, R.: Ann. Phys. (4) 47, 709 (1915). Inhomogene Schichten.

    Article  MATH  Google Scholar 

  • Gee, A. E., and H. D. Polster: J. Opt. Soc. Amer. 39, 1044 (1949). Schichtdicke aus spektraler Untersuchung eines Schichtfilters.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Geffcken, W.: Ann. Phys. (5) 40, 385 (1941). Reflexion an einer inhomogenen Schicht.

    Article  MathSciNet  Google Scholar 

  • Geffcken, W.: DRP. 716153/42h, Gr. 34, 11. (Anmelder: Jenaer Glaswerk Schott & Gen.) Interferenzlichtfilter.

    Google Scholar 

  • Geffcken, W.: Z. Glaskunde 24, 143 (1951). Dünne Schichten auf Glas.

    Google Scholar 

  • Geffcken, W.: D. P. 848 716; 42h; Gr. 34, 11 (1952). Interferenzfilteranordnung mit nichtmetallischen und abwechselnd aufeinanderfolgenden hoch- und tiefbrechenden Schichten für schrägen Einfall des Lichtes.

    Google Scholar 

  • Geffcken, W.: D.P. 899120; 42h; 21(1953). Polarisator.

    Google Scholar 

  • Geffcken, W.: Z. angew. Phys. 6, 249 (1954). Das Wellenbandfilter, ein Interferenzfilter mit besonders hoher Leistung.

    Google Scholar 

  • Geffcken, W.: D.P. 904 357; 42h; 34, 11 (1954). Lichtfilter aus einer Mehrzahl lichtdurchlässiger nichtmetallischer Schichten, von denen immer je zwei voneinander durch eine ebensolche Schicht, jedoch von anderer Brechungszahl getrennt sind.

    Google Scholar 

  • Geffcken, W.: D. P. 913005; 42h; 8 (1954), D.P. 902 191; 42h; 34,11 (1954) Interferenzlichtfilter.

    Google Scholar 

  • Goldschmidt, H., u. H. Dember: Z. techn. Phys. 7, 137 (1926). Genäherte Intensitätsformel für dicke Metallschichten; Absorption von Pt.

    Google Scholar 

  • Goos, F.: Z. Physik 100, 95 (1936). Durchlässigkeit und Reflexionsvermögen dünner Silberschichten von Ultrarot bis Ultraviolett.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Goos, F.: Z. Physik 106, 606 (1937). Die optischen Konstanten dünner Goldschichten aus Durch- lässigkeits- und Reflexionsmessungen von Ultrarot bis Ultraviolett.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Grass, J.: Z. Physik 139, 358 (1954). Zur Anwendung der ÜRUDEschen Theorie der freien Elektronen auf das optische Verhalten der Metalle im Sichtbaren und Ultraviolett.

    Article  ADS  MATH  Google Scholar 

  • Hacman, D.: Z. Physik 114, 170 (1939). Intensitätsformeln für schrägen Einfall bei Metallschichten.

    Article  ADS  MATH  Google Scholar 

  • Hadenhorst, H.-G.: Z. angew. Phys. 7, 487 (1955). Durchlässigkeit inhomogener Schichten.

    Google Scholar 

  • Hadley, L. N., and D. M. Dennison: J. Opt. Soc. Amer. 37, 451 (1947). Transmission interference filters.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Hagen, E., u. H. Rubens: Ann. Phys. (4) 8, 432 (1902). Die Absorption ultravioletter, sichtbarer und ultraroter Strahlen in dünnen Metallschichten.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Hakoila, K. J.: Ann. Univ. Turk A 12, 99 (1952). Bestimmung des Brechungsindexes und der Dicke von Planparallelplatten mit Hilfe optischer Interferenzen. (Mit Variation des Einfallswinkels.)

    Google Scholar 

  • Hammer, K.: Z. techn. Phys. 24, 169 (1943). Teildurchlässiger Spiegel aus nichtmetallischen Stoffen.

    Google Scholar 

  • Hammer, K.: Optik 3, 495 (1948). Steigerung der Glasreflexion durch Metalloxydschichten.

    Google Scholar 

  • Hammer, K.: Optik 5, 365 (1949). Absorptionsfreie Mehrfachschichten.

    Google Scholar 

  • Haringhhuizen, P. J., D. A. Was u. A. M. Kruithof: Physica, 4, 695 (1937). Strenge Intensitätsmethode, graphische Interpolation.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Harris, L., J. K. Bedsley and A. L. Loeb: J. Opt. Soc. Amer. 40, 801 (1950). Reflection and transmission of radiation by metal films and the influence of nonabsorbing backings.

    Google Scholar 

  • Harris, L: J. Opt. Soc. Amer. 41, 604 (1951). Reflection and transmission of radiation by metal films and the influence of nonabsorbing backings.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Harris, L. and J. K. Bedsley: J. Opt. Soc. Amer. 42, 634 (1952). The reflectance of thin cellulose nitrate films. (Reflexion als Funktion des Gewichts.)

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Hass, G.: Optik 1, 8 (1946). Dicke Schichten aus AI und Ag, Drudes Methode.

    Google Scholar 

  • Hass, G.: Optik 1, 134 (1946). Dünne Oxydschichten auf AI nach Drudes Polarisationsmethode.

    Google Scholar 

  • Hass, G. and N. W. Scott: J. Opt. Soc. Amer. 39, 279 (1949). Silicon monoxide protected front-surface mirrors.

    Google Scholar 

  • Hass, G. and C. Salzberg: J. Opt. Soc. Amer. 43, 326 (1953). [Reflexion und Durchlässigkeit von SiO-Schichten (0,1 bis 10 (jl dick) für 0,4 µ ≤ λ ≤ 14 µ.]

    Google Scholar 

  • H. H. Schroeder and A. F. Turner: J. Opt. Soc. Amer. 43, 326 (1953). Mirror coatings for low visible and high infrared reflectance.

    Google Scholar 

  • Heavens, O. S.: Proc. Phys. Soc. Lond. B 64, 419 (1941). Measurement of the thickness of thin films by multiple-beam interferometry.

    ADS  Google Scholar 

  • Heavens, O. S.: Optical properties of thin solid films. London 1955.

    Google Scholar 

  • Hermansen, A.: Nature, Lond. 167, 104 (1951). A method for production of interference filters for specified wavelengths.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Hermansen, A.: Nature, Lond. 174, 218 (1954). Interference filters of greater areas and higher contrast.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Hettner, G.: Optik 1, 2 (1946). Durchlässigkeit und Reflexionsvermögen dünner Metallschichten im langwelligen Ultrarot bei beliebigem Einfallswinkel.

    Google Scholar 

  • Hiesinger, L.: Naturwiss. 34, 121 (1947). Reflexminderung von Glasoberflächen durch mehrere homogene Interferenzschichten.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Hiesinger, L.: Optik 3, 485 (1948). Entspiegelung von Glasoberflächen. Theorie der Zweifachschicht und Mehrfachschichten.

    Google Scholar 

  • Hilsch, R., u. R. W. Pohl: Z. Physik 48, 384 (1928). Über die ersten ultravioletten Eigenfrequenzen einiger einfacher Kristalle.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Holden, J.: J. Opt. Soc. Amer. 41, 504 (1951). The shape of reflected interference fringes from interferometers coated with thin metal films.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Holland, L.: J. Opt. Soc. Amer. 42, 686 (1952). The structure of evaporated metal films. (Kritik zu Sennet und Scott.)

    Article  Google Scholar 

  • Hübner, W.: Optik 7, 128 (1950). Zur Anwendung der Vierpoltheorie auf die MAXWELLschen Gleichungen.

    MathSciNet  Google Scholar 

  • Ishiguro, K.: J. Phys. Soc. Japan 5, 187 (1950). Doppelspaltinterferometer zur Messung absoluter Phasen.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Ishiguro, K. and G. Kuwahava: J. Phys. Soc. Japan 6, 71 (1951). Determination of optical constants of Ag films from the measurements of intensity and phase change. I. u. II.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Jackson, D. A., K. Kuhn and A. H. Jarett: Nature, Lond. 170, 455 (1952). Silver films and dielectric multiple films in interferometry.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Jagersberger, A.: Z. Physik 89, 564 (1934). Die spontane Lichtdurchlässigkeitsänderung von dünnen Metallfolien.

    Google Scholar 

  • Jacquinot, P., and D. Rouard: J. Opt. Soc. Amer. 39, 1048 (1949). Bericht vom Kollo-quium über dünne Schichten in Marseille 1949.

    Article  Google Scholar 

  • Jarrett, A. H.: Z. Astrophys. 34, 91 (1954). Multilayer coatings of high efficiency and their applications for astrophysical research work.

    ADS  Google Scholar 

  • Kaempf, F.: Ann. Phys. (4) 16, 308 (1905). Doppelbrechung in KuNDTschen Spiegeln.

    Article  Google Scholar 

  • Kellner, A.: Z. Physik 56, 215 (1929). Untersuchungen im Spektralgebiet zwischen 20 und 40 µ. Näherungsformel mit Intensitäten und optischen Konstanten einer Schicht.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Kiessig, H.: Ann. Phys. (5) 10, 769 (1931). Interferenzen von Röntgenstrahlen an dünnen Schichten.

    Article  Google Scholar 

  • Kindinger, M., u. K. Koller: Z. Physik 110, 237 (1938). Die Gaseinsaugung dünner Metallschichten, ein Versuch zur Klärung der Anomalie der optischen Konstanten.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Kober, H.: Ann. Phys. (6) 11, 12 (1953). Die optischen Konstanten von Gold und Silber im Ultraviolett. (Polarisationsmethode; Objekt dient mehrmals hintereinander zur Reflexion; s. Kretzmann 1940.)

    Google Scholar 

  • Kofink, B. W., u. E. Menzer: Ann. Phys. (5) 39, 388 (1941). Inhomogene Schicht.

    Article  MathSciNet  Google Scholar 

  • Kollmorgen, F.: Trans. Soc. Illum. Eng. 11, 220 (1916). Reflexminderung chemisch.

    Google Scholar 

  • Kossel, D.: Optik 3, 266 (1948). Einfache Darstellung der Reflexion an einer inhomogenen Schicht.

    Google Scholar 

  • Kossel, D.: Z. Physik 126, 233 (1949). Interferenzen an Schichten mit einer totalreflektierenden Grenze.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Kossel, W., u. K. Strohmaier: Z. Naturforsch. 6a, 504 (1951). Dünne Al203-Häutchen zur Minimumstrahlkennzeichnung.

    ADS  Google Scholar 

  • Krautkrämer, J.: Ann. Phys. (5) 32, 537 (1938). Über optische Konstanten, elektrischen Widerstand und Struktur dünner Metallschichten. (Intensitätsmethoden nach Murmann, David, Wolter.)

    Article  Google Scholar 

  • Kretzmann, R.: Ann. Phys. (5) 37, 303 (1940). Drudes Polarisationsmethode [Wied. Ann. 32, 584 (1887)]; jedoch Genauigkeitssteigerung durch Mehrfachreflexion an gleichen Spiegeln.

    Article  Google Scholar 

  • Kronig, R., B. S. Blaisse and J. J. v. D. Sande: Appl. Sci. Res. B 1, 63 (1950). Optical impedance and surface coating.

    Article  Google Scholar 

  • Krug, W.: Feingerätetechnik, H. 4, 1955. Bessere Wiedergabe der Oberflächenstruktur durch Zweistrahl- als durch Mehrstrahlinterferenzen.

    Google Scholar 

  • Kuhn, H.: Rep. Progr. Phys. 14, 64 (1951). New techniques in optical interfero- metry.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Kundt, A.: Wied. Ann. 34, 469 (1888). Über die Brechungsexponenten der Metalle (aus Ablenkungen durch dünne Metallprismen).

    Google Scholar 

  • Kutzelnigg, A.: Metalloberfläche 5, B 39 (1953). Interferenzfarben bei elektrolytisch abgeschiedenen dünnen Metallfilmen.

    Google Scholar 

  • Landwehr, R.: Optik 5, 355 (1949). Zur Messung der Ebenheit von reflektierenden Flächen mittels Interferenzen gleicher Dicke.

    Google Scholar 

  • Lauch, K.: Ann. Phys. (4) 74, 55 (1924). Die optischen Konstanten chemisch reiner, undurchsichtiger durch Kathodenzerstäubung hergestellter Metallschichten. (Polarisation und Intensität am reflektierten Licht,)

    Article  Google Scholar 

  • Lesquibe, F., et P. Gacomo: J. Phys. Radium 14, 4 (1953). Mesure, sons l’incidence normale, de l’indice de couches minces absorbantes. Application au carbone.

    Google Scholar 

  • Leurgans, P.: J. Opt. Soc. Amer. 39, 639 (1949). Reflection films.

    Google Scholar 

  • Leurgans, P.: J. Opt. Soc. Amer. 41, 714 (1951). The impedance concept in thin film optics.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Lindberg, A.: Z. Physik 131, 231 (1952). Verwendung einer SAVARTschen Doppelplatte zur Herstellung eines phasengleichen Gesichtsfeldes.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Lockhardt, L. B., and P. Kling: J. Opt. Soc. Amer. 37, 689 (1947). Three-layered reflection-reducing coatings.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Loh, H. Y., and P. Chev: Phys. Rev. (2) 91, 221 (1953). Change of optical constants of fresh thin copper and silver films on exposure to air.

    Google Scholar 

  • Lucy, F. A.: J. Chem. Phys. 16, 167 (1948). Brechungsindex und Dicke von Oberflächenschichten aus Polarisationsmessungen; Verbesserung des DRUDEschen Verfahrens.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Macek, O.: Arch, techn. Messen 201, 235 (1952). Filter-Spektroskopie.

    Google Scholar 

  • Mahan, A. L.: J. Opt. Soc. Amer. 42, 259 (1952). Exact solution for the reflectance of reflection-increasing and reflection reducing films.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Malè, D.: C. R. Acad. Sci. Paris 230, 286 (1950). Calcul des variations des constantes opti- ques des couches lacunaires.

    Google Scholar 

  • Malè, D.: C. R. Acad. Sci. Paris 230, 1349 (1950). Methode graphique de determination simultanee des constantes optiques et de l’epaisseur des couches metalliques minces.

    Google Scholar 

  • Malè, D.: J. Phys. Radium 11, 332 (1950). fitude graphique des proprietes optiques des lames metalliques minces.

    Article  Google Scholar 

  • Malè, D.: C. R. Acad. Sci. Paris 235, 1630 (1952). Sur le choix des mesures ä effectuer pour determiner simultanement les constantes optiques et l’epaisseur des lames minces ab- sorbantes.

    Google Scholar 

  • Malè, D.: Ann. Phys. 9, 10 (1954). Sur la determination simultanee des constantes optiques et de l’epaisseur des lames minces absorbantes.

    Google Scholar 

  • Malè, D.: Rev. Opt. 34, 281 (1955). Etude graphique des lames minces.

    Google Scholar 

  • Malè, D. et R. Rinaldi: C. R. Acad. Sci. Paris 240, 2130 (1955). Determination des incides et de l’epaisseur de couches monomoleculaires stratifiies d’hemine.

    Google Scholar 

  • Malè, D. et P. Rouard: J. Phys. Radium (8) 14, 584 (1953). Sur les determinations des constantes optiques des metaux massifs faites au moyen des lames epaises.

    Article  Google Scholar 

  • Mayer, H.: Physik dünner Schichten. Teil I. Herstellung, Dickenmessung, optische Eigenschaften. Band 4, Physik und Technik, herausgegeben von Dr. Fritz Gössler. Stuttgart: Wissenschaftliche Verlagsgesellschaft 1950.

    Google Scholar 

  • Menzel, E.: Naturwiss. 38, 332 (1951). Mehrfacher mikroskopischer Lichtschnitt mit Minimumstrahlenkennzeichnung.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Menzel, E.: Naturwiss. 39, 398 (1952). Dreispalt verfahren am Mikroskop.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Messner, R.: Optik 2, 228 (1947). Mehrfachschichten.

    Google Scholar 

  • Messner, R.: Fein wer ktechn. 57, 297 (1953). Elementare graphische Methoden zur Darstellung der Interferenzeigenschaften von ein- und zweikomponentigen absorptionsfreien optischen Interferenzschichten.

    Google Scholar 

  • Messner, R.: Feinwerktechn. 57, 396 (1953). Mehrkomponentige absorptionsfreie optische Interferenzschichten.

    Google Scholar 

  • Messner, R.: Feinwerktechn. 57, 396 (1953). Interferenzeigenschaften absorbierender dünner Schichten.

    Google Scholar 

  • Mönch, G. C.: Optik 8, 550 (1951). Messung kleiner Schichtdicken mit Doppelprismeninter-ferometer.

    Google Scholar 

  • Mönch, G. C.: Optik 9, 75 (1952). Interferenzfarben dünner Blättchen und die Bestimmung ihrer Dicken.

    Google Scholar 

  • Mönch, G. C.: Optik 9, 97 (1952). Über die Farben dünner Häutchen und ihre Beziehungen zu den Farben dünner doppelbrechender Kristallplatten.

    Google Scholar 

  • Möhler, N. M., and J. R. Loofbourow: Amer. J. Phys. 20, 499, 579 (1952). Optical filters. (Absorptionsfilter, Polarisations-, Interferenz- und christiansen-Filter.)

    Article  Google Scholar 

  • Mollow, E.: Z. Physik 120, 618 (1943). Zum Nachweis von Interferenzerscheinungen durch Streuteilchen im Interferenzfeld. (Interferenzen gleicher Dicke an LiF-Schicht auf Silber bei streifendem Licht.)

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Moos, T. S.: Proc. Phys. Soc. Lond. B 66, 141 (1953). Interrelation between optical constants for lead telluride and silicon.

    ADS  Google Scholar 

  • Moser, H., u. J. Wittmann: Z. Physik 131, 48(1951). Ein experimenteller Beitrag zur Minimumstrahlkennzeichnung.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Muchmore, R. B.: J. Opt. Soc. Amer. 38, 20 (1948). Optimum band width for two layer anti-reflection films.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Murmann, H.: Z. Physik 54, 741 (1929). Durchlässigkeit dünner Metallschichten für langwellige ultrarote Strahlung.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Murmann, H.: Z. Physik 80, 161 (1933). Die optischen Konstanten durchsichtigen Silbers.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Murmann, H.: Z. Physik 101, 643 (1936). Der spektrale Verlauf der anomalen optischen Konstanten dünnen Silbers.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Murray, A. E.: J. Opt. Soc. Amer. 41, 872 (1951). The effect of antireflection films on color in optical instruments.

    Google Scholar 

  • Nicoll, F. H.: J. Opt. Soc. Amer. 42, 241 (1952). Anomalous interference films on glass by chemical treatment.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Odenbach, F.: Ann. Phys. (5) 38, 469 (1940). Dicke und Konstanten von Metallschichten nach Polarisationsmethode.

    Article  Google Scholar 

  • Osterberg, H., and N. E. Page: J. Opt. Soc. Amer. 42, 290 (1952). A method of products for analysing multilayers.

    Google Scholar 

  • Osterberg, H. and W. H. Kashdan: J. Opt. Soc. Amer. 42, 291 (1952). Bilayers that simulate monolayers with augmented interfacial reflectivity (Theor.).

    Google Scholar 

  • Partsch, A., u. W. Hallwachs: Ann. Phys. (4) 41, 247 (1913). Reflexionsvermögen dünner Metallschichten und Eindringtiefe bei der Lichtelektrizität.

    Article  Google Scholar 

  • Pfund, A. H.: J. Opt. Soc. Amer. 24, 99 (1934). Sb2S3 zur Reflexionserhöhung.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Philip, R.: C. R. Acad. Sci. Paris 241, 559, 596 (1955). Phasensprung bei Reflexion sichtbaren und ultravioletten Lichts an dünnen Ag-Schichten.

    Google Scholar 

  • Philip, R. et J. Trompette: C. R. Acad. Sci. Paris 241, 627 (1955). Determination simultanee des constantes optiques et de l’epaisseur des lames tres minces d’argent dans le visible et le proche ultraviolet.

    Google Scholar 

  • Pick, H.: Z. Physik 126, 12 (1949). Herstellung spiegelnder Niederschläge durch chemische Reaktionen.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Pohlack, H.: Ann. Phys. (6) 5, 311 (1950). Vierpoltheorie für Mehrfachschichten.

    Article  MathSciNet  MATH  Google Scholar 

  • Pohlack, H.: Jenaer Jb. 1953, 241. Abhängigkeit der Intensitäten an Metallschichten von den Außenmedien.

    Google Scholar 

  • Pohlack, H.: Ann. Phys. (6) 11, 383 (1953). Zur Theorie optischer Interferenzschichtsysteme.

    Article  MathSciNet  Google Scholar 

  • Polster, H. D.: J. Opt. Soc. Amer. 39, 1038 (1949). Multilayer filter. (Rekursionsformeln. Effektiver Brechungsindex einer Mehrfachschicht. Filter mit verhinderter Totalreflexion.)

    Article  MathSciNet  ADS  Google Scholar 

  • Polster, H. D.: J. Opt. Soc. Amer. 39, 1054 (1949). A dielectric interferometer filter.

    MathSciNet  Google Scholar 

  • Pride, G. E., and W. H. Kashdan: J. Opt. Soc. Amer. 42, 291 (1952). Bilayers that simulate monolayers with augmented interfacial reflectivity (exper).

    Google Scholar 

  • Quincke, G.: Pogg. Ann. 142, 177 (1871). Optische Experimentaluntersuchungen. (Umfassender Bericht über Interferenzbeobachtungen, unter anderem auch an dünnen Schichten und Metallen; frühere Arbeiten des gleichen Verf. dort aufgeführt.)

    Google Scholar 

  • Rahbeck, H., and M. Omar: Nature, Lond. 169, 1008 (1952). Measurement of the thickness of transparent films with the light-profile microscope.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Reichelt, W.: Zur Bandbreite der Reflexionsauslöschung von Zweifachschichten. (100 Jahre Heräus, Festschrift S. 393. 1951.)

    Google Scholar 

  • Richter, J.: Ann. Phys. (4) 77, 81 (1925). Phasendifferenzmessungen an dünnen durch Kathodenzerstäubung hergestellten Silber- und Kupferschichten.

    Article  Google Scholar 

  • Riedel, L.: Ann. Phys. 28, 603 (1937). Versuche zur experimentellen Bestimmung der freien Weglänge der Elektronen in Blei und Cadmium.

    Article  Google Scholar 

  • Rienitz, J.: Optik 8, 561 (1951); 9, 512 (1952). Winkelspiegelinterferometer.

    Google Scholar 

  • Robin, S.: J. Phys. Radium 14, 427 (1953). Mesures de pouvoirs reflecteurs des couches me- talliques epaisses (rhodium, beryllium, nickel) dans la region de Schumann.

    Article  Google Scholar 

  • Robinson, T. S.: Proc. Phys. Soc. Lond. B 65, 910 (1952). n, k aus Reflexion über einen Frequenzbereich.

    ADS  Google Scholar 

  • Rood, J. L.: J. Opt. Soc. Amer. 39, 884 (1949). Some properties of thin evaporated films on glass.

    ADS  Google Scholar 

  • Rothen, A., and M. Hanson: Rev. Sci. Instrum. 19, 839 (1948); 20, 66 (1949). Drude- Methode experimentell verbessert.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Rouard, P.: Cahiers Phys. 1, 25 (1941). Sur un phenomene optique se produisant dans les couches metalliques tres minces. (Phasen benutzt.)

    Google Scholar 

  • Rouard, P. et P. Cotton: C. R. Acad. Sci. Paris 228, 1706 (1949). Sur les facteurs de reflexion, dans le support transparent sur le metal, de differents metaux en couches tres minces.

    Google Scholar 

  • Rouard, P.: Proprietes optiques de lames minces solides. Memorial des Sciences Physiques, Faszicula LIV, Paris 1952. (Zusammenfassendes Werk.)

    Google Scholar 

  • Rouard, P., D. Male et J. Trompette: J. Phys. Radium (8) 14, 587 (1953). Determination des fac-teurs de reflexions, de transmission et d’absorption de lames minces d’or obtenes par evaporation.

    Article  Google Scholar 

  • Sennet, R. S., and G. D. Scott: J. Opt. Soc. Amer. 42, 686 (1952). The structure of evaporated metal films.

    Article  Google Scholar 

  • Shea, D.: Wied. Ann. 47, 177 (1892). Strengere Form der KuNDTschen Prismenmethode.

    MATH  Google Scholar 

  • Simon, J.: J. Opt. Soc. Amer. 41, 730 (1951). Optical constants of germanium, silicon and pyrite in the infra-red.

    Article  Google Scholar 

  • Smakula, A.: Phys. Z. 34, 788 (1933). Absorption der Metalle.

    Google Scholar 

  • Smakula, A.:  Z. Physik 86, 185 (1933). Absorption dünner Cu-, Ag- und Au-Schichten im sichtbaren und ultravioletten Gebiet. (Sehr viele Meßpunkte im Spektrum!)

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Smakula, A.: Z. Physik 88, 114 (1934). Über die Lichtabsorption der Metalle.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Smakula, A.: DRP. 685767 v. 1. 11. 1935. (Anmelder: Firma Carl Zeiss, Jena.) Reflexminderung durch Aufbringen einer dünnen Schicht.

    Google Scholar 

  • Smakula, A.: Z. Instrumentekde. 60, 33 (1940). Über die Erhöhung der Lichtstärke optischer Geräte.

    Google Scholar 

  • Smakula, A.: Phys. Z. 43, 217 (1942). Reflexionsminderung an optischen Gläsern. (Zusammenfassender Bericht.)

    Google Scholar 

  • Smith, F. D.: J. Opt. Soc. Amer. 42, 291 (1952). Application of the reversibility principle to a multiple dielectric film.

    Google Scholar 

  • Sommer, A.: Optische Konstanten dünner Goldschichten aus Intensitäts- und Polarisationsmessungen. Diss. Hamburg 1940.

    Google Scholar 

  • Suhrmann, R., u. G. Barth: Z. techn. Phys. 15, 547 (1934). Strukturänderung von Metallschichten.

    Google Scholar 

  • Suhrmann, R. : Phys. Z. 36, 843 (1935). Änderung des elektrischen Widerstandes und der Reflexion dünner Metallschichten.

    Google Scholar 

  • Suhrmann, R. : Z. Physik 103, 133 (1936). Über die Änderung des elektrischen Widerstandes und des Reflexions Vermögens von bei tiefer Temperatur kondensierten Metallspiegeln.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Suhrmann, R. u. H. Schnackenberg: Z. Physik 119, 287 (1942). Über den Reaktionsablauf beim Übergang reiner Metallschichten aus dem ungeordneten in den geordneten Zustand. (Strukturänderung von Metallschichten; dort weitere Literaturhinweise.)

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Schlick, M.: Über die Reflexion des Lichts in einer inhomogenen Schicht, Diss. Berlin 1904.

    Google Scholar 

  • Schmaltz, G.: Technische Oberflächenkunde. Berlin 1936.

    Google Scholar 

  • Schopper, H.: Z. Physik 130, 427 (1951). Die Untersuchung“dicker” Metallschichten und ihrer Oberflächenschichten mit Hilfe der absoluten Phasen.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Schopper, H.: Z. Physik 130, 565 (1951). Die Untersuchung dünner absorbierender Schichten mit Hilfe der absoluten Phase.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Schopper, H.: Optik 9, 498 (1952). Die Erzeugnug von linearpolarisiertem Licht mit Hilfe einer dünnen absorbierenden Schicht.

    Google Scholar 

  • Schopper, H.: Z. Physik 131, 215 (1942). Die Bestimmung der optischen Konstanten und der Schichtdicke beliebig dicker Schichten mit Hilfe der absoluten Phase.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Schopper, H.: Z. Physik 135, 163 (1953). Zur Deutung der optischen Konstanten der Alkalimetalle.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Schopper, H.: Z. Physik 135, 516 (1953). Ein optisches Kalkspatinterferometer mit wellenlängenunabhängigem Intensitätsausgleich.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Schopper, H.: Optik 10, 426 (1953). Die Erzeugung von linearpolarisiertem Licht durch Reflexion an geschichteten Metallen.

    Google Scholar 

  • Schröder, H.: Ann. Phys. (5) 39, 55 (1941). Bemerkung zur Theorie des Lichtdurchgangs durch inhomogene durchsichtige Schichten.

    Article  Google Scholar 

  • Schröder, H.: Naturwiss. 34, 277 (1947). Neue optische Filter durch absorptionsfreie Interferenzschichten

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Schröder, H.: Optik 3, 499 (1948). Die Erzeugung von linear-polarisiertem Licht durch dünne dielektrische Schichten.

    Google Scholar 

  • Schröder, H.: Z. Naturforsch. 4 a, 515 (1949). Die Bildung reflexvermindernder Oberflächenschichten auf Glas durch Lösungen mit pH-Werten nahe 7.

    ADS  Google Scholar 

  • Schröder, H. u. R. Schläfer: Z. Naturforsch. 4a, 576 (1949). Yerlustfreie optische Interferenzpolarisatoren.

    ADS  Google Scholar 

  • Schröder, H.: Z. angew. Phys. 3, 53 (1951). Über die Lichtteilungsfunktion dünner Mehrfachschichten und ihre Anwendungen.

    MATH  Google Scholar 

  • Schuch, E.: Ann. Phys. (5) 13, 297 (1932). Die Durchlässigkeit dünner Platinschichten im Wellenbereich von o,25 bis 2,5 µ.

    Article  Google Scholar 

  • Schulz, G.: Ann. Phys. (6) 14, 177 (1954). Über Interferenzen gleicher Dicke und Längenmessung mit Licht wellen.

    Article  MATH  Google Scholar 

  • Schulz, H., u. H. Hannemann: Z. Physik 22, 222 (1924). Metalloberflächen.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Schulz, H.: A. T. M., V 44–6 (1938). Messung der Brechungszahl.

    Google Scholar 

  • Schulz, L. G.: J. Opt. Soc. Amer. 40, 690 (1950). Fabry-Perot zur Dickenmessung dünner Auf dampf schichten. Siehe Tolansky: J. Opt. Soc. Amer. 41, 425 (1951).

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Schulz, L. G.: J. Opt. Soc. Amer. 40, 802 (l950). The effect of phase changes in white light interferometry.

    Google Scholar 

  • Schulz, L. G.: J. Opt. Soc. Amer. 41, 261 (1951). The effect of phase changes in white light interferometry.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Schulz, L. G.: J. Opt. Soc. Amer. 41, 871 (1951). Dispersion of evaporated films.

    Google Scholar 

  • Schulz, L. G.: J. Opt. Soc. Amer. 41, 1047 (1951). An interferometric method for the determination of the absorption coefficients of metals, with results for silver and aluminium.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Schulze, R.: Phys. Z. 34, 24 (1933). Optische und lichtelektrische Untersuchungen an dünnen Metallschichten. (Intensitätsmethode.)

    Google Scholar 

  • Schuster, K.: Ann. Phys. (6) 4, 352 (1949). Anwendung der Vierpoltheorie auf die Probleme der optischen Reflektionsminderung, Reflexionsverstärkung und der Interferenzfilter.

    Article  ADS  MATH  Google Scholar 

  • Statescu, C.: Ann. Phys. (4) 33, 1032 (1910). Polarisationsmessungen an dünner Metallschicht auf massivem Metall.

    Article  MATH  Google Scholar 

  • Steinbuch, K.: Z. angew. Phys. 1, 256 (1949). Reflexverstärkung.

    Google Scholar 

  • Steinheil, A.: Ann. Phys. (5) 19, 465 (1934). Oxydschichten auf Metallen.

    Article  Google Scholar 

  • Strohmaier, K.: Z. Naturforsch. 6a, 508 (1951). Ein einfaches Verfahren zur Herstellung großflächiger durchsichtiger Häute aus Aluminiumoxyd mit einer Dicke zwischen 50 und 300 mµ.

    ADS  Google Scholar 

  • Strohmaier, K.: Z. Physik 135, 44 (1953). Bemerkungen zur optischen Dickenmessung mit Dreistrahl-interferenzen.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Studer, F. J., and D. A. Cusano: J. Opt. Soc. Amer. 41, 871 (1951). Titanium dioxide films as selective reflectors of the near infrared.

    Google Scholar 

  • Tanner, H. A., and L. B. Lockhardt: J. Opt. Soc. Amer. 36, 701 (1946). German reflection reducing coatings for glass.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Taylor, H. D.: The adjustement and testing of telescope objectivs, York (England)

    Google Scholar 

  • T. Cook (1896), Engl. Pat. 29561. 1904.

    Google Scholar 

  • Thomas, C. D., and R. C. Colwell: Phys. Rev. 56, 1214 (1939). Inhomogene Schichten.

    Article  ADS  MATH  Google Scholar 

  • Tiller, C., and H. Levinstein: Phys. Rev. (2) 86, 657 (1952). Evaporated antimony films.

    Google Scholar 

  • Tolansky, S., and W. L. Wilcock: Proc. Roy. Soc. Lond., Ser. A 191, 182 (1947). Inter-ference studies of diamond faces. A crossed fringe technique. (Dickenmessungen, dort Hinweis auf weitere Originalarbeiten.)

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Tolansky, S.: Phys. Bl. 4, 472 (1948). Mehrfachreflex-Interferometrie an Oberflächen und Schichten.

    Google Scholar 

  • Tolansky, S.: Multiple Beam Interferometry of Surfaces and Films. Oxford: Clarendon Press 1948.

    Google Scholar 

  • Tolansky, S.: J. Opt. Soc. Amer. 41, 425 (1951). The measurement of thin film thickness by interferometry. [Kritik zu Schulz, J. Opt. Soc. Amer. 40, 690 (1950).]

    Article  Google Scholar 

  • Tolansky, S.: Nature, Lond. 163, 885 (1949). Kurzer Tagungsbericht über das in Marseille stattgefundene internationale Kolloquium über Eigenschaften dünner Schichten.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Tolansky, S.: Nature, Lond. 169, 445 (1952). A high-resolution surfaceprofile microscope.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Tronnier, H., u. H. Wagener: Optik 8, 165 (1951). Zur Anwendung oberflächenvergüteter Mikroskop-Optik.

    Google Scholar 

  • Väisälä, Y.: Ann. Univ. Fennicae thoensis, Ser. A 11923, Nr. 2. Dreispalt verfahren.

    Google Scholar 

  • Vasicek, A.: Phys. Rev. 57, 925 (1940). Analyse des reflektierten Lichtes mit Soleil- Babinet.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Vasicek, A.: J. Opt. Soc. Amer. 37, 623 (1947). Reflexion einer bedeckten Fläche wird als Reflexion einer unbedeckten Grenzfläche eines hypothetischen Mediums gedeutet.

    Article  MathSciNet  ADS  Google Scholar 

  • Vasicek, A.: Acad. Sci. Moravo-Silesiacae 23, 355 (1951). Polarisations verfahren. (Schichtdicke nach Tolansky.)

    Google Scholar 

  • Vasicek, A.: Cas. Pest. Mat. 3, 167 (1953). The study of anodized A1203 films on aluminium by the Polarimetrie method.

    Google Scholar 

  • Veenemans, C. F.: Arch, neerl. Sci. exact. natur./Ser. III A 14, 84 (1933.) Bestimmung der optischen Konstanten aus Lichtabsorptionsmessungen an dünnen Metallschichten.

    Google Scholar 

  • Vernier, P.: J. Phys. Radium 14, 175 (1953). Absorptionskoeffizient dünner PbS-Schichten im Ultraroten.

    Article  Google Scholar 

  • Vilbig, F.: Lehrbuch der Hochfrequenztechnik, Bd. I, S. 288. Leipzig 1942. (Zenneck- Welle.)

    Google Scholar 

  • Voigt, W.: Wied. Ann. 24, 144 (1885). Kundts Prismenmethode nicht anwendbar bei hoher Absorption.

    Google Scholar 

  • Voigt, W.: Wied. Ann. 35, 76 (1888). Über die Reflexion und Brechung des Lichtes an Schichten absorbierender isotroper Medien.

    Google Scholar 

  • Watson, J. T., and G. Joos: J. Opt. Soc. Amer. 41, 876 (1951). A differential surface re- fractometer for testing for variation of refractive index in large plates of glass.

    Google Scholar 

  • Weinstein, W.: J. Opt. Soc. Amer. 37, 576 (1947). The reflectivity and transmission of multiple thin coatings.

    Article  MathSciNet  ADS  Google Scholar 

  • Weiskirchner, W.: Z. Naturforsch 6a, 509 (1951). Der Brechungsquotient dünner A1203- Häutchen.

    ADS  Google Scholar 

  • Wernicke, W.: Pogg. Ann. 159, 198 (1876). Absolute Phasenänderungen bei Reflexion.

    Article  Google Scholar 

  • Wiener, O.: Wied. Ann. 31, 629 (1887). Phasenänderung bei Reflexion und Dickenbestimmung dünner Blättchen.

    Google Scholar 

  • Williamson, D. E.: J. Opt. Soc. Amer. 39, 613 (1949). Infra-red-interference filter used in calibration.

    Article  Google Scholar 

  • Wolin, S.: J. Opt. Soc. Amer. 43, 373 (1953). Inhomogene Medien.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Wolter, H.: Z. Physik 105, 269 (1937). Intensitätsmethode mit Näherungen. Intensitäts- Identitäten.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Wolter, H.: Z. Physik 113, 547 (1939). Resonanzstellen im Absorptionsspektrum dünner Metall-schichten.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Wolter, H.: Z. Physik 115, 696 (1940). Erklärung der optischen Anomalien dünner Metallschichten aus Dichteschwankungen.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Wolter, H.: Z. Physik 140, 57, 565 (1955). Phasen- und Amplitudenmessung.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Woltersdorff, W.: Z. Physik 91, 230 (1934). Über die optischen Konstanten dünner Metallschichten in langwelligem Ultrarot.

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Wood, R. W.: Physikal Optics, S. 371. 1911. Einfluß einer Oberflächenschicht auf die Reflexion.

    Google Scholar 

  • Zenneck, J.: Ann. Phys. (4) 23, 846 (1907). Über die Fortpflanzung ebener elektromagnetischer Wellen längs einer ebenen Leiterfläche und ihre Beziehung zur drahtlosen Tele- graphie.

    Article  MATH  Google Scholar 

  • Zernike, F.: J. Opt. Soc. Amer. 40, 326 (1950). Dreispaltverfahren. (Siehe ferner Literatur zum Artikel“ Schlieren-, Phasenkonstrast- und Lichtschnitt verfahren”.)

    Article  ADS  Google Scholar 

  • Zorll, U.: Optik 9, 449 (1952). Die Genauigkeitsgrenze der Dickenmessung von dünnen Schichten mit dem KosTERschen Interferenzdoppelprisma.

    Google Scholar 

Download references

Authors
  1. H. Wolter
    View author publications

    You can also search for this author in PubMed Google Scholar

Rights and permissions

Reprints and permissions

Copyright information

© 1956 Springer-Verlag OHG. Berlin · Göttingen · Heidelberg

About this chapter

Cite this chapter

Wolter, H. (1956). Optik dünner Schichten. In: Grundlagen der Optik / Fundamentals of Optics. Handbuch der Physik / Encyclopedia of Physics, vol 5 / 24. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-45850-7_4

Download citation

  • DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-642-45850-7_4

  • Publisher Name: Springer, Berlin, Heidelberg

  • Print ISBN: 978-3-642-45851-4

  • Online ISBN: 978-3-642-45850-7

  • eBook Packages: Springer Book Archive

Publish with us

Policies and ethics

Search

Navigation