Formative Messmodelle

Zusammenfassung

Neben den in Kap. 7 fokussierten reflektiven Messmodellen kann eine Operationalisierung hypothetischer Konstrukte aber auch über formative Messmodelle erfolgen. Mit der zunehmenden Verwendung des PLS-Ansatzes (Kap. 15) ist auch die Bedeutung von formativen Messmodellen gestiegen, da sich diese im Rahmen von PLS deutlich leichter spezifizieren lassen als mit kovarianzanalytischen Ansätzen wie sie in den Softwarepaketen LISREL oder AMOS implementiert sind.

Formative Messmodelle basieren auf einem völlig anderen „Weltbild“ als reflektive Messmodelle, da sie unterstellen, dass sich ein hypothetisches Konstrukt als Linearkombination aus den Messvariablen ergibt, während reflektive Messmodelle davon ausgehen, dass die Messvariablen von dem betrachteten Konstrukt verursacht werden und damit Folgen bzw. Konsequenzen der Wirksamkeit des Konstruktes in der Wirklichkeit darstellen. Daher unterscheidet sich die Analyse formativer Messmodelle grundlegend vom reflektiven Fall.

Vor obigem Hintergrund werden in Kap .  12 zunächst die zentralen Besonderheiten formativer Messmodelle herausgearbeitet (z. B. Messfehlerproblematik, Multikollinearität, Identifizierbarkeit) und darauf aufbauend deren Konstruktionsprozess erläutert. Dabei wird nicht nur die Operationalisierung formativer Messmodelle behandelt, sondern auch die – im Vergleich zu reflektiven Messmodellen – Besonderheiten der Güteprüfung aufgezeigt. Abschließend wird anhand eines sog. MIMIC-Modells die Spezifizierung eines formativen Messmodells mit Hilfe von AMOS bezogen auf das in Kap. 4.2 dargestellte Fallbeispiel vorgestellt.