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Part of the book series: Teubner Studienbücher Elektrotechnik ((TSTT))

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Zusammenfassung

Führt man einen gleichartigen Versuch, etwa die Messung der Durchschlagsspannung einer Funkenstrecke, mehrmals aus, so werden die Meßwerte wegen zufälliger Einflüsse, z.B. Schwankungen des Luftdruckes oder der Luftfeuchtigkeit, etwas voneinander abweichen. Ahnliches ist bei der Messung der Widerstandswerte nominell gleicher Widerstände einer Serienfertigung zu beobachten; auch hier ist als Folge unvermeidlicher und im einzelnen nicht lokalisierbarer Toleranzen eine Streuung der Meßwerte zu erwarten. Um die Streuung und damit die Toleranzen des Herstellungsverfahrens zu beurteilen, kann man eine Häufigkeitsverteilung auftragen. Hierfür werden die normierten Widerstands-Meßwerte x = R/R0 in verschiedene Klassen unterteilt, z.B.

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© 1973 Springer Fachmedien Wiesbaden

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Leonhard, W. (1973). Zufallsvariable und Wahrscheinlichkeit. In: Statistische Analyse linearer Regelsysteme. Teubner Studienbücher Elektrotechnik. Vieweg+Teubner Verlag, Wiesbaden. https://doi.org/10.1007/978-3-322-99746-3_2

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  • DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-322-99746-3_2

  • Publisher Name: Vieweg+Teubner Verlag, Wiesbaden

  • Print ISBN: 978-3-519-02046-2

  • Online ISBN: 978-3-322-99746-3

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