Zusammenfassung
Nach der Beschreibung von Zufallssignalen durch Korrelationsfunktionen und Leistungsdichtespektren wenden wir diese neuen Werkzeuge jetzt an, um die Reaktion von LTI-Systemen auf Zufallssignale zu untersuchen. Dabei interessieren wir uns nicht für den genauen Verlauf des Ausgangssignals eines LTI-Systems, wenn am Eingang eine spezielle Musterfunktion eines Zufallsprozesses anliegt. Stattdessen beschreiben wir den Systemausgang ebenfalls durch einen Zufallsprozeß und suchen die Erwartungswerte des Ausgangsprozesses in Abhängigkeit von den Erwartungswerten des Eingangsprozesses.
This is a preview of subscription content, log in via an institution to check access.
Access this chapter
Tax calculation will be finalised at checkout
Purchases are for personal use only
Preview
Unable to display preview. Download preview PDF.
Author information
Authors and Affiliations
Rights and permissions
Copyright information
© 2003 B. G. Teubner Verlag / GWV Fachverlage GmbH, Wiesbaden
About this chapter
Cite this chapter
Girod, B., Rabenstein, R., Stenger, A. (2003). Zufallssignale und LTI-Systeme. In: Einführung in die Systemtheorie. Vieweg+Teubner Verlag, Wiesbaden. https://doi.org/10.1007/978-3-322-99346-5_18
Download citation
DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-322-99346-5_18
Publisher Name: Vieweg+Teubner Verlag, Wiesbaden
Print ISBN: 978-3-519-16194-3
Online ISBN: 978-3-322-99346-5
eBook Packages: Springer Book Archive