Zusammenfassung
Das Ziel einer Kristallstrukturanalyse ist es, die Anordnung der Atome innerhalb der Elementarzelle zu bestimmen. Die wichtigsten Angaben hierfür erhält man aus Beugungsexperimenten. Aus der Geometrie der Röntgenbeugung kann man, wie bereits besprochen (2.3), die Größe und Symmetrie der Elementarzelle bestimmen. Dadurch ist man in der Lage, jede Interferenz einer bestimmten Netzebenenschar im Kristall zuzuordnen (Indizierung). Außerdem erhält man aus Beugungsexperimenten Reflexintensitäten. Diese können durch Anbringen der in (5) besprochenen Korrekturen in beobachtete Strukturfaktoren |F0| umgewandelt werden und ermöglichen es, im Verlauf einer Kristallstrukturanalyse die genaue Anordnung der Atome im Kristall festzulegen.
Access this chapter
Tax calculation will be finalised at checkout
Purchases are for personal use only
Preview
Unable to display preview. Download preview PDF.
Literatur
Torkar, K., Krischner, H. und Radi, H., Mh. Chem. 96 (1965) 932.
Schönflies, A., Kristallsysteme und Kristallstruktur, Leipzig (1891).
Hermann, C., Z. Krist. 68 (1928) 257;
Mauguin, C., Z. Krist. 76 (1931) 542.
Stewart, J. M., The X-ray system, version of 1976, Technical report TR-446 of the computer science center University of Maryland.
Nowacki, W., Fouriersynthese von Kristallen, Birkhäuser, Basel (1952).
Patterson, A. L., Phys. Rev. 46 (1934) 372;
Harker, D., J. Chem. Phys. 4 (1936) 381.
Cochran, W., Acta Cryst. 4 (1951) 408.
Friedlander, P. H., Love, W. und Sayre, D., Acta Cryst. 8 (1955) 732.
Hughes, E. W., J. Amer. Chem. Soc. 63 (1941) 1737.
Trueblood, K. N., Acta Cryst. 9 (1956) 359.
Buerger, M. J., Vector space and its application in crystal-structure investigation, J. Wiley, New York (1959).
Bijvoet, J. M., Proc. Koninkl. Ned. Akad. Wetenschap. (B) 52 (1949) 313.
Sayre, D., Acat Cryst. 5 (1952) 60.
Howells, E. R., Phillips, D. C. und Rogers, D., Acta Cryst. 3 (1950) 210.
Wilson, A. J. C., Acta Cryst. 2 (1949) 318.
Debye, P., Ann. Phys. Lpz. 46 (1915) 809.
Woolfson, M. M., Computational Crystallography, ed. by Sayre, D., Clarandon Press, Oxford (1982)110.
Lipson, H., Woolfson, M. M., Acta Cryst. 6 (1952) 439.
Cochran, W., Acta Cryst. 8 (1955) 473.
Hauptmann, H., Acta Cryst. A31 (1975) 680.
Hauptmann, H., Acta Cryst. A32 (1976) 877.
Vaughan, P. A., Am. Cryst. Ass. Ann. Meeting, Ind. (1956).
Giacovazzo, C., Acta Cryst. A33 (1977) 933.
Hauptmann, H., Acta Cryst. A34 (1978) 525.
Hauptmann, H., Computational Crystallography, ed. by Sayre, D., Clarandon Press, Oxford (1982) 75.
Woolfson, M. M., Acta Cryst. 7 (1954) 61.
Karle, J., Hauptmann, H., Acta Cryst. 9 (1956) 635.
Karle, L L., Karle, J., Acta Cryst. 17 (1964) 835.
Zachariasen, W. H., Acta Cryst. 5 (1952) 68.
Woolfson, M. M., Direct Methods in Crystallography, Oxford (1961).
Germanin, G., Woolfson, M. M., Acta Cryst. B24 (1968) 91.
De Titta et al., Acta Cryst. A31 (1975) 472.
Karle, J., Karle, I. L., Acta Cryst. 21 (1966) 849.
Germain, G., Main, P., Woolfson, M. M., Acta Cryst. A27 (1971) 368.
Schenk, H., Computing in Crystallography, Bangalore (1980).
Main, P., Lessinger, L., Woolfson, M. M., Germain, G., Declercq, J. P., MULTAN 77, University of York, England (1977).
Overbeek, O., Schenk, H., Computing in Crystallography, Delft University Press (1978).
Coppens, P., Int. Rev. of Science 2/11, Butterworth (1975) 21.
Hirshfeld, F. L. (Ed.), Israel J. Chem. 16 (1978) 87.
Klyne, W., Prelog, V., Experientia 16 (1960) 521.
Sheldrick, G. M., SHELX 82. Program for Crystal Structure Determination. University of Cambridge, England (1982);
Sheldrick, G. M., SHELX 86. Programm for Crystal Structure Determination. Universität Göttingen (1987);
Sheldrick, G. M., SHELXTL 81 User Manuel, Rev. 3, Nicolet XRD Corp., Cupertino California, USA (1981).
Stewart, J. M., et al., Rep. TR-446. Comp. Sci. Center, University of Maryland, USA (1976);
Stewart, J. M., et al., XTAL Programmers Manual, Techn. Rep. TR-873. Comp. Sci. Center, University of Maryland, USA (1982).
Busing, W. R., et al., ORGLS, Rep. ORNL-TM-305. ORNL, Tenn., USA (1963);
Busing, W. R., et al., ORFFE, Rep. ORNL-TM-306. ORNL, Tenn., USA (1964);
Busing, W. R., et al., WMIN, Rep. ORNL-5747. ORNL, Tenn. USA (1981). (ORNL = Oak Ridge National Laboratories, Tennessee, USA).
Rights and permissions
Copyright information
© 1990 Friedr. Vieweg & Sohn Verlagsgesellschaft mbH, Braunschweig
About this chapter
Cite this chapter
Krischner, H. (1990). Kristallstrukturanalyse. In: Einführung in die Röntgenfeinstrukturanalyse. Vieweg+Teubner Verlag, Wiesbaden. https://doi.org/10.1007/978-3-322-98972-7_6
Download citation
DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-322-98972-7_6
Publisher Name: Vieweg+Teubner Verlag, Wiesbaden
Print ISBN: 978-3-322-98973-4
Online ISBN: 978-3-322-98972-7
eBook Packages: Springer Book Archive