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Einführung in die Röntgenfeinstrukturanalyse pp 1–24Cite as

Entstehung und Eigenschaften von Röntgenstrahlen

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Zusammenfassung

Röntgenstrahlen wurden 1895 von Wilhelm Conrad Röntgen entdeckt und von ihm X-Strahlen genannt. Die Bezeichnung X-Strahlen (X-Ray) ist in vielen Ländern auch heute gebräuchlich. Die Röntgenstrahlen bilden einen Teil des elektromagnetischen Spektrums und umfassen Wellenlängen von ca. 10-8 bis 10-13 m. Die Abgrenzung zu den beiden benachbarten Gebieten der UV-Strahlung und der γ-Strahlen ist nicht streng gezogen. Einen Überblick über die Stellung der Röntgenstrahlen im Spektrum gibt Tabelle 1.1.

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Literatur

  1. Coolidge, W. D., Phys. Rev. 2 (1913) 409.

    Article  ADS  Google Scholar 

  2. Hosemann, R., Z. angew. Physik 7 (1955) 532.

    Google Scholar 

  3. Smith, H., J. Sci. Instruments 26 (1949) 378.

    Article  ADS  Google Scholar 

  4. Peters, E. T. und Kulin, S. A., Rev. Sci. Instruments 37 (1966) 1726.

    Article  ADS  Google Scholar 

  5. Geiger, H. und Müller, W., Phys. Z. 29 (1928) 839.

    Google Scholar 

  6. Arndt, U. W., Computing in Crystallography, ed. by Schenk, H., Delft, University Press (1978).

    Google Scholar 

  7. Stöckmann, F., Naturwiss. 36 (1949) 82.

    Article  ADS  Google Scholar 

  8. Mayer-Kuckuk, T. und Mommsen, H., Z. Instr. Knd. 75 (1967) 309.

    Google Scholar 

  9. Glocker, R. und Frohnmayer, W., Ann. Physik 76 (1925) 369.

    Article  ADS  Google Scholar 

  10. Siegbahn, M. und Magnusson, T., Z. Physik 96 (1935) 1.

    Article  ADS  Google Scholar 

  11. Birks, L. S., Election probe microanalysis (Interscience Publishers, Inc., New York (1963).

    Google Scholar 

  12. Birks, L. S., X-ray spectrochemical analysis (Interscience Publishers, Inc., New York (1959).

    Google Scholar 

  13. Henke, B. L., Advances in X-ray Analysis 9 (1966) 431.

    Google Scholar 

  14. Larsson, A., Siegbahn, M. und Waller, I., Phys. Rev. 25 (1925) 235.

    Google Scholar 

  15. Laue, M. v., Sitz. math. physikl. Kl. Bay. Akad. Wiss. (1912) 303, Ann. Physik 41 (1913) 971.

    Google Scholar 

  16. Bragg, W. L., Proc. Cambridge Phil. Soc. 17 (1913) 43.

    MATH  Google Scholar 

  17. Prabuddha, B. und Charbit, P., Siemens, Z. 45 (1971) 549.

    Google Scholar 

  18. Göbel, H., Forschungsberichte der Siemens AG (1979).

    Google Scholar 

  19. Wölfel, E. R., J. Appl. Cryst. 16 (1983) 341.

    Article  Google Scholar 

  20. STOE & CIE, D-6100 Darmstadt.

    Google Scholar 

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  1. Harald Krischner
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© 1990 Friedr. Vieweg & Sohn Verlagsgesellschaft mbH, Braunschweig

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Krischner, H. (1990). Entstehung und Eigenschaften von Röntgenstrahlen. In: Einführung in die Röntgenfeinstrukturanalyse. Vieweg+Teubner Verlag, Wiesbaden. https://doi.org/10.1007/978-3-322-98972-7_1

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  • DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-322-98972-7_1

  • Publisher Name: Vieweg+Teubner Verlag, Wiesbaden

  • Print ISBN: 978-3-322-98973-4

  • Online ISBN: 978-3-322-98972-7

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