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Meßmikroskop und Profilprojektor

  • Wolfgang Dutschke

Zusammenfassung

Meßmikroskope und Profilprojektoren werden zum Prüfen vorwiegend kleiner, ebener Meßobjekte wie Stanz- und Biegeteile, Kurvenscheiben, Nocken, Automatenteile, Außengewinde und Zahnräder verwendet. Die Prüfobjekte werden vorzugsweise nach dem Schattenbildverfahren im Durchlicht, Sacklöcher und Gravuren hingegen im Auflicht (weniger genau) geprüft. Meßabweichungen aufgrund von Vergrößerungsabweichungen bei unvollständigem Scharfstellen werden bei Objektiven mit telezentrischem Strahlengang vermieden.

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Weiterführendes Schrifttum zu Kapitel 9 Meßmikroskop und Profilprojektor

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Copyright information

© B. G. Teubner Stuttgart 1996

Authors and Affiliations

  • Wolfgang Dutschke
    • 1
  1. 1.Institut für industrielle Fertigung und Fabrikbetrieb (IFF)Universität StuttgartStuttgartDeutschland

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