Zusammenfassung
Eine Reihe von III-V-Verbindungen, wie z. B. GaAs und InP (sowie deren Mischverbindungen z.B. InAlAs) haben eine v(E)-Kennlinie, die zwischen einer kritischen Feldstärke E c (3 − 10 kV/cm, je nach Material) und einer maximalen Feldstärke E m (20 − 40 kV/cm), einen fallenden Ast aufweist (Bild 5.1).
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© 1998 B. G. Teubner Stuttgart · Leipzig
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Harth, W. (1998). Gunn-Element und das thermische Rauschen heißer Elektronen. In: Fluktuationen und Dynamik aktiver Halbleiter-Bauelemente. Vieweg+Teubner Verlag. https://doi.org/10.1007/978-3-322-94036-0_5
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DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-322-94036-0_5
Publisher Name: Vieweg+Teubner Verlag
Print ISBN: 978-3-519-06255-4
Online ISBN: 978-3-322-94036-0
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