Fehler und Fallen

Zusammenfassung

Die auf den geschilderten Wegen gewonnenen und optimierten Ergebnisse einer gelungenen Kristallstrukturbestimmung sind normalerweise von hoher Genauigkeit, wie sie durch andere, z.B. spektroskopische Methoden nur in Ausnahmefällen erreichbar ist. Der indirekte Charakter der Strukturbestimmung, der durch die Notwendigkeit der Aufstellung eines Strukturmodells bedingt ist, kann jedoch manchmal zu schweren und gelegentlich zudem noch schwer erkennbaren Fehlern führen. Vor allem wenn man keine Filmaufnahmen anfertigt und die Annehmlichkeiten moderner Programmsysteme zur Auffindung von Elementarzelle und Raumgruppe nur mit automatisch gesammelten Diffraktometerdaten nicht kritisch genug einsetzt, kann man in heimtückische Fallen geraten. Natürlich ist es so gut wie ausgeschlossen, daß ein kristallchemisch völlig unsinniges Strukturmodell zu berechneten F _c -Werten führt, die bei mehreren Tausend Reflexen mit den beobachteten F ₀ -Daten jeweils auf wenige Prozent genau übereinstimmen. Es gibt jedoch immer wieder Fälle, in denen ein Strukturmodell so viele Eigenschaften des Kristalls richtig beschreibt, daß gute R-Werte berechnet werden, daß aber trotzdem — vielleicht wesentliche — kleinere Teile der Struktur falsch sind. Dies kann z.B. geschehen, wenn bei der Verfeinerung nicht das eigentlich richtige Minimum der Fehlerquadrat summe aufgefunden wurde, sondern nur ein Pseudominimum.