Zusammenfassung
Zur Realisierung des Teilsystems optischer Wellenleiter, CMOS-kompatibler Fotodetektor und mikroelektronische Schaltung bieten sich entsprechend der o. a. Überlegungen folgende Integrationstechniken an:
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ein zweistufiger, sequentieller Prozeß mit der Wellenleiterdeposition nach der Integration der CMOS-Schaltungen in SWAMI-LOCOS-Technik mit Standard-Feldoxiddicke, evtl. einschließlich Verdrahtung und Test der mikroelektronischen Komponenten, als modulare Bauform;
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ein vollintegrierter Prozeß unter Ausnutzung der Schichtfolge der CMOS-Technik, speziell des verstärkten Feldoxides als optischer Isolator und des Zwischenoxides als Lichtwellenleiter;
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die Integration der CMOS-Schaltungen in SOI-Technik auf der Grundlage eines Rekristallisationsverfahrens vor oder nach der Fertigung der Lichtwellenleiter.
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© 1995 B. G. Teubner Stuttgart
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Hilleringmann, U. (1995). Beschreibung der Herstellungsprozesse. In: Mikrosystemtechnik auf Silizium. Vieweg+Teubner Verlag. https://doi.org/10.1007/978-3-322-92766-8_5
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