Das röntgenographische Spannungsmeßverfahren

Zusammenfassung

Jede röntgenographische Feinstrukturuntersuchung beruht auf dem Prinzip der Beugung von Röntgenstrahlen an den Gitterebenen eines kristallinen Werkstoffs. Treffend wird dieser Vorgang durch Interferenz beschrieben: Trifft ein monochromatischer Röntgenstrahl auf das Atomgitter eines kristallinen Werkstoffs, dann werden Atome der Kristallite zu erzwungenen Schwingungen im Rhythmus der Frequenz der Röntgenstrahlung angeregt und wirken so als neue Schwingungszentren, deren Strahlung unter geeigneten geometrischen Bedingungen interferiert. Die Bedingung zur Interferenzverstärkung ist durch die Bragg’sche Gleichung

$$\lambda = 2{{\text{d}}_{\left( {{\text{hkl}}} \right)}}\sin {\theta _{\left( {{\text{hkl}}} \right)}}$$

bestimmt; hierbei sind λ die Wellenlänge der verwendeten Röntgenstrahlung, d der Netzebenenabstand, θ der Beugungswinkel und hkl die Millerschen Indizes der Netzebene.