Skip to main content

Einige weitere Basis-Sensoren

  • Chapter
  • 129 Accesses

Part of the book series: Aus dem Programm Messen — Steuern — Regeln ((VFT))

Zusammenfassung

Der piezoelektrische Effekt ist schon sehr lange bekannt. Für den Anwender soll es genügen, wenn der überwiegend benützte longitudinale Effekt kurz beschrieben wird, was recht einfach geschehen kann. Wird ein Stückchen piezoelektrisches Material mit einer Kraft F belastet, dann entsteht an der meist metallisierten Oberfläche eine elektrische Ladung Q. Bild 13.1 zeigt schematisch diese Situation. Der Zusammenhang ist mit Q = d · F linear, d ist die piezoelektrische Zahl (für den longitudinalen Effekt).

This is a preview of subscription content, log in via an institution.

Buying options

Chapter
USD   29.95
Price excludes VAT (USA)
  • Available as PDF
  • Read on any device
  • Instant download
  • Own it forever
eBook
USD   54.99
Price excludes VAT (USA)
  • Available as PDF
  • Read on any device
  • Instant download
  • Own it forever
Softcover Book
USD   69.95
Price excludes VAT (USA)
  • Compact, lightweight edition
  • Dispatched in 3 to 5 business days
  • Free shipping worldwide - see info

Tax calculation will be finalised at checkout

Purchases are for personal use only

Learn about institutional subscriptions

Preview

Unable to display preview. Download preview PDF.

Unable to display preview. Download preview PDF.

Authors

Rights and permissions

Reprints and permissions

Copyright information

© 1991 Friedr. Vieweg & Sohn Verlagsgesellschaft mbH, Braunschweig

About this chapter

Cite this chapter

Haug, A., Haug, F. (1991). Einige weitere Basis-Sensoren. In: Angewandte Elektrische Meßtechnik. Aus dem Programm Messen — Steuern — Regeln. Vieweg+Teubner Verlag. https://doi.org/10.1007/978-3-322-85367-7_13

Download citation

  • DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-322-85367-7_13

  • Publisher Name: Vieweg+Teubner Verlag

  • Print ISBN: 978-3-528-04567-8

  • Online ISBN: 978-3-322-85367-7

  • eBook Packages: Springer Book Archive

Publish with us

Policies and ethics