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Methoden und Hardware-Strukturen für Mustererzeugung und Kompaktierung

  • Chapter
Entwurf selbsttestbarer Schaltungen

Part of the book series: TEUBNER-TEXTER zur Informatik ((TTZI,volume 27))

  • 53 Accesses

Zusammenfassung

Der Selbsttest erfordert integrierte Einrichtungen, die pseudozufällige, pseudoerschöpfende oder deterministisch bestimmte Muster erzeugen, und außerdem Kompaktierer, die Folgen von Testantworten zu einem einzigen Datenwort verarbeiten. Diese Testhilfsmittel sollen sich mit geringem Hardware-Aufwand implementieren lassen, den Normalbetrieb nicht negativ beeinflussen und im Testbetrieb eine hohe Fehlererfassung ermöglichen.

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© 1998 B. G. Teubner Verlagsgesellschaft Leipzig

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Ströle, A.P. (1998). Methoden und Hardware-Strukturen für Mustererzeugung und Kompaktierung. In: Entwurf selbsttestbarer Schaltungen. TEUBNER-TEXTER zur Informatik, vol 27. Vieweg+Teubner Verlag. https://doi.org/10.1007/978-3-322-85164-2_4

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  • DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-322-85164-2_4

  • Publisher Name: Vieweg+Teubner Verlag

  • Print ISBN: 978-3-8154-2314-1

  • Online ISBN: 978-3-322-85164-2

  • eBook Packages: Springer Book Archive

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