Die selbstorganisierende Karte in der Elektrotechnik: Von der Mikroelektronik bis zum Kraftwerk

Zusammenfassung

1985 demonstrierten Goser und Rückert erstmals, daß man mit der SOM die Güte der elektrischen Eigenschaften von Transistoren bewerten, ja sogar die Güte des Fertigungsprozesses selbst beurteilen kann [64]. Obwohl in dieser Arbeit zunächst nur ein kleiner Datensatz von Vektoren untersucht wurde, der zudem nur Daten von simulierten Transistoren enthielt, sollte dieser Versuch doch richtungsweisend sein für viele neue Anwendungen der SOM in der Mikroelektronik, die später entwickelt wurden.