Skip to main content
SpringerLink
Log in

Elektronenstrahl-Mikroanalyse

  • Chapter
Handbuch Festkörperanalyse mit Elektronen, Ionen und Röntgenstrahlen

  • 201 Accesses

Zusammenfassung

Unter der unmittelbaren Einwirkung energiereicher elektrisch geladener Teilchen werden von jeder Materie Röntgenstrahlen emittiert. Diese Strahlungsemission entsteht einerseits durch das Abbremsen der Teilchen im Coulomb-Feld der Atome, wobei eine elementunspezifische kontinuierliche Strahlung, die Röntgenbremsstrahlung, auftritt. Die unelastische Wechselwirkung energiereicher Teilchen mit den Atomen führt andererseits zur Ionisation kernnaher Elektronenschalen, wodurch die Atome ein Linienspektrum— die sogenannte charakteristische Röntgenstrahlung — aussenden, deren Wellenlängen in einer festen Beziehung zur Ordnungszahl der angeregten bzw. ionisierten Atome stehen.

This is a preview of subscription content, log in via an institution to check access.

Access this chapter

Log in via an institution
Chapter
USD 29.95
Price excludes VAT (USA)
  • Available as PDF
  • Read on any device
  • Instant download
  • Own it forever
eBook
USD 49.99
Price excludes VAT (USA)
  • Available as PDF
  • Read on any device
  • Instant download
  • Own it forever
Softcover Book
USD 84.99
Price excludes VAT (USA)
  • Compact, lightweight edition
  • Dispatched in 3 to 5 business days
  • Free shipping worldwide - see info

Tax calculation will be finalised at checkout

Purchases are for personal use only

Institutional subscriptions

Preview

Unable to display preview. Download preview PDF.

Unable to display preview. Download preview PDF.

Literatur

Übersichtsliteratur

  1. Brümmer, O: Mikroanalyse mit Elektronen-und Ionensonden.— Leipzig: VEB DeutscherVerlag für Grundstoffindustrie 1978.

    Google Scholar 

  2. Beaman, D. R., Isasi, I. A.: ASTM Special Technical Publication 506 (1972).

    Google Scholar 

  3. Malissa, H.: Handbuch der mikrochemischen Methoden, 4. Bd.: Elektronenstrahl-Mikroanalyse.— Wien/New York: Springer-Verlag 1966.

    Google Scholar 

  4. Reed, S. I. B.: Electron Microprobe Analysis, Cambridge Monographs on Physics, Cambridge, Cambridge Univ. Press 1975.

    Google Scholar 

  5. Berks, L. S.: Electron Probe Microanalysis.— New York: J. Wiley & Sons, Inc. 1971.

    Google Scholar 

  6. Grasserbatjer, M., Microchimica Acta (Wien) 1975, S. 145–163 u. ff.

    Google Scholar 

  7. Dräger, G., Beier, W., Brümmer, O., Krönert, P., Kristall u. Technik 9, 11 (1974) 1297.

    Google Scholar 

  8. Tagungsbände „Mikrosonde“ 1973, 1975, 1978, hrsg. von der Physikalischen Gesellschaftder DDR, Berlin.

    Google Scholar 

Originalliteratur

  1. RCPUTHERFORD, E., Phil. Mag. 21 (1911) 669.

    Google Scholar 

  2. Moliére, G., Z. Naturf. 2a (1907) 133.

    Google Scholar 

  3. mott n. f. proc. royal soc. lond. s. a. 129 1924 425.

    Google Scholar 

  4. Bothe, W., in: Handbuch der Physik. Berlin 1927. 24, 18.

    Google Scholar 

  5. Bethe, H. A., Rose, M. E., Smith, L. D., Proc. amer. phil. Soc. 78 (1938) 573.

    Google Scholar 

  6. Spencer, L. V., Phys. Rev. 98 (1958) 1597.

    Article  Google Scholar 

  7. Archard, G. D., J. appl. Phys. 32 (1961) 1505.

    Article  Google Scholar 

  8. Whiddington, R., Proc. royal Soc. (London) Ser. A 86 (1912) 360.

    Article  Google Scholar 

  9. Cosslett, V. E., Thomas, R. N., Brit. J. appl. Phys. 15 (1964) 1283.

    Article  Google Scholar 

  10. Castaing, R.: Electron Probe Microanalysis. Advances in Electronics and Electron Physics (1960).

    Google Scholar 

  11. Duncumb, P., Proc. sec. Int. Symp. on X-Ray Microsc. and X-Ray Microanalysis, Stockholm 1959, S. 365.

    Google Scholar 

  12. Colby, J. W., Advances in X-Ray-Analysis, Vol. 11 (1968) 287.

    Google Scholar 

  13. Kramers, H. A., Phil. Mag. 46 (1923) 836.

    Google Scholar 

  14. Bethe, H. A., Ann. Physik Leipzig 5 (1930) 325.

    Article  MATH  Google Scholar 

  15. Moseley, G. J., Phil. Mag. 26 (1913) 1024.

    Google Scholar 

  16. Wentzel, G., Ann. Physik 66 (1921) 437; 73 (1934) 647.

    Google Scholar 

  17. Urch, D. S., Solid State Phys. 3 (1970) 1275.

    Article  Google Scholar 

  18. Castaing, R., Descamps, J., J. Phys. Radium 16 (1955) 304.

    Article  Google Scholar 

  19. Jönsson, A., Z. Physik 43 (1927) 845.

    Article  Google Scholar 

  20. Brown, J. D.: Electron Probe Microanalysis. Herausgeb.: A. J. Tousimis u. L. Marton. New York, London: Academic Press 1969, S. 45–69.

    Google Scholar 

  21. Philibert, J.: A Method for Calculating the Absorption Correction in Electron-Probe Microanalysis. Stanford, S. 379.

    Google Scholar 

  22. Springer, G.: Neues Jahrbuch für Mineralogische Abhandlungen, Vol. 106 (1967) 241.

    Google Scholar 

  23. Wolf, R. C., Magres, V. G.: in [20] S. 73.

    Google Scholar 

  24. Castaing, R., Guineer, A., Proc. of the First International Conference on Electron Microscopy, Delft 1949, S. 60.

    Google Scholar 

  25. Borovski, I. B., Iljin, N. P., Dokl. Akad. Nauk SSSR 106 (1956) 655; Exper. Technik Physik 5 (1957) 36.

    Google Scholar 

  26. Däbritz, S., Ullrich, H J., Tagungsband 2. Arbeitstagung Mikrosonde, Berlin 1973, S. 353.

    Google Scholar 

  27. Woldseth, R.: X-ray Energy Spectrometry. Kevex Corporation, Burlingam (USA) 1973.

    Google Scholar 

  28. Krajewski, Th., u. a., Tagungsband 3. Arbeitstagung Mikrosonde. Berlin 1975, S. 225.

    Google Scholar 

  29. Schumann, H.: Metallographie.— Leipzig: VEB Deutscher Verlag für Grundstoffindustrie 1975.

    Google Scholar 

  30. Matthé, P., U. a., wie [28], S. 33.

    Google Scholar 

  31. Thielemann, Th., Röder, A., Gießereitechnik 16 (1970) 259, 329.

    Google Scholar 

  32. Röder, A., Richter, C.-E.: Probleme der Festkörperelektronik, Bd. VII. Berlin: VEBVerlag Technik 1975, S. 7.

    Google Scholar 

  33. Reenstra, A. L., Thomson, H. W., J. appl. Phys. 38 (1967) 3798.

    Article  Google Scholar 

  34. Röder, A., Böhm, R., wie [26], S. 337.

    Google Scholar 

  35. Alfjorow, Z. J., U. a., wie [26], S. 400f

    Google Scholar 

  36. Brümmer, O., in: Grundlagen passiver elektronischer Bauelemente.— Leipzig: VEB Deutscher Verlag für Grundstoffindustrie 1973. S. 356–373.

    Google Scholar 

Download references

Author information

Authors and Affiliations

  1. Halle, Deutschland

    W. Beier, A. Röder & O. Brümmer

Authors
  1. W. Beier
    View author publications

    You can also search for this author in PubMed Google Scholar

  2. A. Röder
    View author publications

    You can also search for this author in PubMed Google Scholar

  3. O. Brümmer
    View author publications

    You can also search for this author in PubMed Google Scholar

Editor information

Otto Brümmer Johannes Heydenreich Karl Heinz Krebs Helmut Günther Schneider

Rights and permissions

Reprints and permissions

Copyright information

© 1979 VEB Deutscher Verlag der Wissenschaften, Berlin

About this chapter

Cite this chapter

Beier, W., Röder, A., Brümmer, O. (1979). Elektronenstrahl-Mikroanalyse. In: Brümmer, O., Heydenreich, J., Krebs, K.H., Schneider, H.G. (eds) Handbuch Festkörperanalyse mit Elektronen, Ionen und Röntgenstrahlen. Vieweg+Teubner Verlag. https://doi.org/10.1007/978-3-322-83622-9_5

Download citation

  • DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-322-83622-9_5

  • Publisher Name: Vieweg+Teubner Verlag

  • Print ISBN: 978-3-528-08398-4

  • Online ISBN: 978-3-322-83622-9

  • eBook Packages: Springer Book Archive

Publish with us

Policies and ethics

Search

Navigation