Advertisement

Elektronenstrahl-Mikroanalyse

  • W. Beier
  • A. Röder
  • O. Brümmer

Zusammenfassung

Unter der unmittelbaren Einwirkung energiereicher elektrisch geladener Teilchen werden von jeder Materie Röntgenstrahlen emittiert. Diese Strahlungsemission entsteht einerseits durch das Abbremsen der Teilchen im Coulomb-Feld der Atome, wobei eine elementunspezifische kontinuierliche Strahlung, die Röntgenbremsstrahlung, auftritt. Die unelastische Wechselwirkung energiereicher Teilchen mit den Atomen führt andererseits zur Ionisation kernnaher Elektronenschalen, wodurch die Atome ein Linienspektrum— die sogenannte charakteristische Röntgenstrahlung — aussenden, deren Wellenlängen in einer festen Beziehung zur Ordnungszahl der angeregten bzw. ionisierten Atome stehen.

Preview

Unable to display preview. Download preview PDF.

Unable to display preview. Download preview PDF.

Literatur

Übersichtsliteratur

  1. —.
    Brümmer, O: Mikroanalyse mit Elektronen-und Ionensonden.— Leipzig: VEB DeutscherVerlag für Grundstoffindustrie 1978.Google Scholar
  2. —.
    Beaman, D. R., Isasi, I. A.: ASTM Special Technical Publication 506 (1972).Google Scholar
  3. —.
    Malissa, H.: Handbuch der mikrochemischen Methoden, 4. Bd.: Elektronenstrahl-Mikroanalyse.— Wien/New York: Springer-Verlag 1966.Google Scholar
  4. —.
    Reed, S. I. B.: Electron Microprobe Analysis, Cambridge Monographs on Physics, Cambridge, Cambridge Univ. Press 1975.Google Scholar
  5. —.
    Berks, L. S.: Electron Probe Microanalysis.— New York: J. Wiley & Sons, Inc. 1971.Google Scholar
  6. —.
    Grasserbatjer, M., Microchimica Acta (Wien) 1975, S. 145–163 u. ff.Google Scholar
  7. —.
    Dräger, G., Beier, W., Brümmer, O., Krönert, P., Kristall u. Technik 9, 11 (1974) 1297.Google Scholar
  8. —.
    Tagungsbände „Mikrosonde“ 1973, 1975, 1978, hrsg. von der Physikalischen Gesellschaftder DDR, Berlin.Google Scholar

Originalliteratur

  1. [1]
    RCPUTHERFORD, E., Phil. Mag. 21 (1911) 669.Google Scholar
  2. [2]
    Moliére, G., Z. Naturf. 2a (1907) 133.Google Scholar
  3. [3]
    mott n. f. proc. royal soc. lond. s. a. 129 1924 425.Google Scholar
  4. [4]
    Bothe, W., in: Handbuch der Physik. Berlin 1927. 24, 18.Google Scholar
  5. [5]
    Bethe, H. A., Rose, M. E., Smith, L. D., Proc. amer. phil. Soc. 78 (1938) 573.Google Scholar
  6. [6]
    Spencer, L. V., Phys. Rev. 98 (1958) 1597.CrossRefGoogle Scholar
  7. [7]
    Archard, G. D., J. appl. Phys. 32 (1961) 1505.CrossRefGoogle Scholar
  8. [8]
    Whiddington, R., Proc. royal Soc. (London) Ser. A 86 (1912) 360.CrossRefGoogle Scholar
  9. [9]
    Cosslett, V. E., Thomas, R. N., Brit. J. appl. Phys. 15 (1964) 1283.CrossRefGoogle Scholar
  10. [10]
    Castaing, R.: Electron Probe Microanalysis. Advances in Electronics and Electron Physics (1960).Google Scholar
  11. [11]
    Duncumb, P., Proc. sec. Int. Symp. on X-Ray Microsc. and X-Ray Microanalysis, Stockholm 1959, S. 365.Google Scholar
  12. [12]
    Colby, J. W., Advances in X-Ray-Analysis, Vol. 11 (1968) 287.Google Scholar
  13. [13]
    Kramers, H. A., Phil. Mag. 46 (1923) 836.Google Scholar
  14. [14]
    Bethe, H. A., Ann. Physik Leipzig 5 (1930) 325.zbMATHCrossRefGoogle Scholar
  15. [15]
    Moseley, G. J., Phil. Mag. 26 (1913) 1024.Google Scholar
  16. [16]
    Wentzel, G., Ann. Physik 66 (1921) 437; 73 (1934) 647.Google Scholar
  17. [17]
    Urch, D. S., Solid State Phys. 3 (1970) 1275.CrossRefGoogle Scholar
  18. [18]
    Castaing, R., Descamps, J., J. Phys. Radium 16 (1955) 304.CrossRefGoogle Scholar
  19. [19]
    Jönsson, A., Z. Physik 43 (1927) 845.CrossRefGoogle Scholar
  20. [20]
    Brown, J. D.: Electron Probe Microanalysis. Herausgeb.: A. J. Tousimis u. L. Marton. New York, London: Academic Press 1969, S. 45–69.Google Scholar
  21. [21]
    Philibert, J.: A Method for Calculating the Absorption Correction in Electron-Probe Microanalysis. Stanford, S. 379.Google Scholar
  22. [22]
    Springer, G.: Neues Jahrbuch für Mineralogische Abhandlungen, Vol. 106 (1967) 241.Google Scholar
  23. [23]
    Wolf, R. C., Magres, V. G.: in [20] S. 73.Google Scholar
  24. [24]
    Castaing, R., Guineer, A., Proc. of the First International Conference on Electron Microscopy, Delft 1949, S. 60.Google Scholar
  25. [25]
    Borovski, I. B., Iljin, N. P., Dokl. Akad. Nauk SSSR 106 (1956) 655; Exper. Technik Physik 5 (1957) 36.Google Scholar
  26. [26]
    Däbritz, S., Ullrich, H J., Tagungsband 2. Arbeitstagung Mikrosonde, Berlin 1973, S. 353.Google Scholar
  27. [27]
    Woldseth, R.: X-ray Energy Spectrometry. Kevex Corporation, Burlingam (USA) 1973.Google Scholar
  28. [28]
    Krajewski, Th., u. a., Tagungsband 3. Arbeitstagung Mikrosonde. Berlin 1975, S. 225.Google Scholar
  29. [29]
    Schumann, H.: Metallographie.— Leipzig: VEB Deutscher Verlag für Grundstoffindustrie 1975.Google Scholar
  30. [30]
    Matthé, P., U. a., wie [28], S. 33.Google Scholar
  31. [31]
    Thielemann, Th., Röder, A., Gießereitechnik 16 (1970) 259, 329.Google Scholar
  32. [32]
    Röder, A., Richter, C.-E.: Probleme der Festkörperelektronik, Bd. VII. Berlin: VEBVerlag Technik 1975, S. 7.Google Scholar
  33. [33]
    Reenstra, A. L., Thomson, H. W., J. appl. Phys. 38 (1967) 3798.CrossRefGoogle Scholar
  34. [34]
    Röder, A., Böhm, R., wie [26], S. 337.Google Scholar
  35. [35]
    Alfjorow, Z. J., U. a., wie [26], S. 400fGoogle Scholar
  36. [36]
    Brümmer, O., in: Grundlagen passiver elektronischer Bauelemente.— Leipzig: VEB Deutscher Verlag für Grundstoffindustrie 1973. S. 356–373.Google Scholar

Copyright information

© VEB Deutscher Verlag der Wissenschaften, Berlin 1979

Authors and Affiliations

  • W. Beier
    • 1
  • A. Röder
    • 1
  • O. Brümmer
    • 1
  1. 1.HalleDeutschland

Personalised recommendations