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Zusammenfassung

Unter dem Begriff der Röntgendiffraktometrie werden die Methoden zur Untersuchung der Beugung von Röntgenstrahlen im Wellenlängenbereich von etwa 0,05 bis 0,25 nm zusammengefaßt, die
  • auf Intensitätsmessungen mit Hilfe von Quantendetektoren (d. h. mit Zählrohren, Szintillationszählern oder Halbleiterdetektoren) beruhen und

  • ein integrales (d. h. im räumlichen Mittel zutreffendes) Bild von der Struktur des beugenden Objektes vermitteln.

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Literatur

  1. [1]
    Glocker, R.: Materialprüfung mit Röntgenstrahlen, 4. Auflage, Springer-Verlag, Berlin 1958.Google Scholar
  2. [2]
    Neff, H.: Grundlagen und Anwendung der Röntgen-Feinstruktur-Analyse, 2. Auflage, R. Oldenbourg, München 1962.Google Scholar
  3. [3]
    Jost, K.-H.: Röntgenbeugung an Kristallen, Akademie-Verlag, Berlin 1975.Google Scholar
  4. [4]
    v. Laue, M.: Röntgenstrahl-Interferenzen, 3. Auflage, Akad. Verlagsgesellsehaft, Frankfurt/Main 1960.Google Scholar
  5. [5]
    Dräger, G., in: Dynamische Interferenztheorie (Herausgeber: O. Brümmer und H. Stephanik), Akad. Verlagsgesellschaft Geest & Portig K.-G., Leipzig 1976.Google Scholar
  6. [6]
    International Tables of X-Ray Crystallography, 3 Bde., The Kynode Press, Birmingham 1952-1962.Google Scholar
  7. [7]
    Mirkin, L. J.: Spravočnik po rentgenostrukturnomy analizu polikristallov; Fizdat, Moskva 1961.Google Scholar
  8. [8]
    Hosemann, R., und Bagchi, S. N.: Direct Analysis of Diffraction by Matter, North-Holland Publ. Comp., Amsterdam 1962.zbMATHGoogle Scholar
  9. [9]
    Krivoglaz, M. A.: Teorija rassejanija rentgenovskich lučej i teplovich nejtronov real’nymi kristallami, Izdat. Nauka, Moskva 1967.Google Scholar
  10. [10]
    Klimanek, P., et al., Neue Hütte 19 (1974) 608.Google Scholar
  11. [11]
    Guinier, A.: X-Ray Diffraction, W. H. Freeman Comp., San Francisco 1963.Google Scholar
  12. [12]
    Trinkaus, H., Z. Naturforsch. 28a (1973).Google Scholar
  13. [13]
    Gerold, V., Ergebn. Exakt. Naturwiss. XXXIII (1961) 105.CrossRefGoogle Scholar
  14. [14]
    Dederichs, P. H., J. Phys. F: Metal Phys. 3 (1973) 471.CrossRefGoogle Scholar
  15. [15]
    Klimanek, P., Kristall und Technik, in Vorbereitung.Google Scholar
  16. [16]
    Warren, B. E., Progress Metal Phys. 8 (1959) 147.CrossRefGoogle Scholar
  17. [17]
    Klug, P. H., und Alexander, L. E.: X-Ray Diffraction Procedures, J. Wiley and Sons, New York 1954.zbMATHGoogle Scholar
  18. [18]
    Wilson, A. J. C.: Mathematical Theory of X-Ray Powder Diffractometry, Philips Technical Library, Eindhoven 1963.Google Scholar
  19. [19]
    Vassamillet, L. F., und King, H. W., Adv. X-Ray Anal. 6 (1963) 142.Google Scholar
  20. [20]
    Vassamillet, L. F., und King, H. W., in: Handbook of X-Rays (Editor: E. F. Kaelble) McGraw Hill Comp., New York 1967.Google Scholar
  21. [21]
    Parrish, W., und Mack, M., Acta Crystall. 23 (1967) 687 und 693.CrossRefGoogle Scholar
  22. [22]
    Chwaszczewska, J., et al., Phys. stat. sol. (a) 4 (1971) 619.CrossRefGoogle Scholar
  23. [23]
    H. Cole, J. Appl. Crystall. 3 (1970) 405.CrossRefGoogle Scholar
  24. [24]
    Banerjee, P., und Charbit, P., Siemens-Z. 45 (1971) 549.Google Scholar
  25. [25]
    Laine, E., und Lähteenmäki, L, Comment. Phys. Math. Soc. Sci. Tenn. 42 (1972) 292.Google Scholar
  26. [26]
    Lauriat, J. P., und Perio, P., J. Appl. Crystall. 5 (1972) 177.CrossRefGoogle Scholar
  27. [27]
    Sparks, C. J., und Redcke, D. A., Adv. X-Ray Anal. 15 (1972) 240.Google Scholar
  28. [28]
    Martin, G. W., und Klein, A. S., Adv. X-Ray Anal. 15 (1972) 254.Google Scholar
  29. [29]
    Wenlin, Adv. X-Ray Anal. 16 (1973) 298.Google Scholar
  30. [30]
    Gerward, L., Mørup, S. and Topsøe, H., J. Appl. Phys. 47 (1976) 822.CrossRefGoogle Scholar
  31. [31]
    Baker, T. W., et al., Adv. X-Ray Anal. 11 (1968) 359.Google Scholar
  32. [32]
    Segmüller, A., Adv. X-Ray Anal. 18 (1970) 455.Google Scholar
  33. [33]
    Segmüller, A., Adv. X-Ray Anal. 15 (1972) 114.Google Scholar
  34. [34]
    Bond, W. L., Acta Cryst. 13 (1960) 814.CrossRefGoogle Scholar
  35. [35]
    Burke, J., und Tomkieff, M. V., J. Appl. Cryst. 2 (1969) 247.CrossRefGoogle Scholar
  36. [36]
    Barns, R. L., Adv. X-Ray Anal. 15 (1972) 330.Google Scholar
  37. [37]
    Warren, B. E., und Averbach, B. L., in: Modern Research Techniques in Physical Metallurgy, Tower Press, Cleveland 1953.Google Scholar
  38. [38]
    Warren, B. E., J. Appl. Phys. 25 (1954) 814.CrossRefGoogle Scholar
  39. [39]
    Chipman, D. R., Rev. Sci. Instruments 27 (1956) 164.CrossRefGoogle Scholar
  40. [40]
    Peisl, H., Z. Angew. Phys. 15 (1963) 338.Google Scholar
  41. [41]
    Spalt, H., Z. Angew. Phys. 24 (1974).Google Scholar
  42. [42]
    Bubakova, R., in: Dynamische Interferenztheorie (Herausgeber: O. Brümmer und H. Stephanik), Akadem. Verlagsgesellschaft Geest & Portig K.-G., Leipzig 197Google Scholar
  43. [43]
    Lefeld-Sosnowska, M., in: Dynamische Interferenztheorie, vgl. [42].Google Scholar
  44. [44]
    Hanawalt, J. D., Rinn, H, und Frevel, L. K., Ind. Eng. Chem. 10 (1938) 457.Google Scholar
  45. [45]
    Alexander, L. E., und Klug, H. P., Anal. Chem. 20 (1948) 886.CrossRefGoogle Scholar
  46. [46]
    Frevel, L. K., Anal. Chem. 37 (1965) 471.CrossRefGoogle Scholar
  47. [47]
    Johnson, G. G., und Vand, V., Adv. X-Ray Anal. 11 (1968) 376.Google Scholar
  48. [48]
    Fiala, J., J. Phys. D: Appl. Phys. 5 (1972) 1874.CrossRefGoogle Scholar
  49. [49]
    Herrmann, Ch.: Tagungsbericht der VI. Konferenz „Rentgenovska Analiza Strukturalna w Metalurgii i Metaloznawstwie“, Gliwice 1972, S. 78.Google Scholar
  50. [50]
    Herrmann, Ch., and Liebich, G.: Tagungsbericht der VII. Konferenz „Rentgenovska Analiza Strukturalna w Metalurgii i Metaloznawstwie“, Gliwice 1974, S. 239.Google Scholar
  51. [51]
    Oettel, H., und Berg, H.-J., Neue Hütte 21 (1976) 747.Google Scholar
  52. [52]
    Oettel, H., und Haase, I., Kristall u. Technik 12 (1977) 841.CrossRefGoogle Scholar
  53. [53]
    H. F. MCMurdie, Adv. X-Ray Anal. 17 (1974) 20.Google Scholar
  54. [54]
    Fiala, J., Kovove Materialy 5 (1967) 559.Google Scholar
  55. [55]
    Faninger, G., und Hartmann, U., Härtereitechn. Mitt. 27 (1972) 233.Google Scholar
  56. [56]
    Chung, F. H., Adv. X-Ray Anal. 17 (1974) 106.Google Scholar
  57. [57]
    Jumpertz, E. A., Freiberger Forschungshefte C 121, Akademie-Verlag, Berlin 1962.Google Scholar
  58. [58]
    Jumpertz, E. A., Fortschr. Mineral. 42 (1965) 87.Google Scholar
  59. [59]
    Lassner, E., und Benesovsky, F., Allg. prakt. Chemie 17 (1966) 811.Google Scholar
  60. [60]
    Rösch, H., N. Jahrb. Mineral. Abh. 108 (1968) 271.Google Scholar
  61. [61]
    Hartmann, U, Härtereitechn. Mitt. 27 (1972) 251 und 271.Google Scholar
  62. [62]
    Jenkins, R., Adv. X-Ray Anal. 17 (1974) 32.Google Scholar
  63. [63]
    Douglas, L. A., Adv. X-Ray Anal. 17 (1974) 88.Google Scholar
  64. [64]
    Lopata, S. L., und Kula, E. B., Trans. Met. Soc. AIME 233 (1965) 288.Google Scholar
  65. [65]
    Gullberg, R., und Lagneborg, R., Trans. Met. Soc. AIME 236 (1966) 1482.Google Scholar
  66. [66]
    Wolfstieg, U, Härtereitechn. Mitt. 27 (1972) 245.Google Scholar
  67. [67]
    Böhme, D., Hensger, K.-E., und Klimanek, P., Unveröffentlicht.Google Scholar
  68. [68]
    Beu, K. E., in: Handbook of X-Rays (Editor: E. F. Kaelble) McGraw Hill Comp., New York 1967.Google Scholar
  69. [69]
    Delf, B. W., Brit. J. Appl. Phys. 14 (1963) 345.CrossRefGoogle Scholar
  70. [70]
    Otte, H. M., J. Appl. Phys. 32 (1961) 1536.CrossRefGoogle Scholar
  71. [71]
    Adler, R. P. J., und Wagner, C. N. J., J. Appl. Phys. 33 (1962) 3451.CrossRefGoogle Scholar
  72. [72]
    Ebel, H., und Ebel, M., Acta phys. austr. 24 (1966) 169.Google Scholar
  73. [73]
    Ebel, H., und Ebel, M., Z. Naturforsch. 27a (1972) 874.Google Scholar
  74. [74]
    Pierron, E. D., und MCNeely, J. B., Adv. X-Ray Anal. 12 (1969) 343.Google Scholar
  75. [75]
    Cohen, M. U., Rev. Sci. Instr. 6 (1935) 68.CrossRefGoogle Scholar
  76. [76]
    Cohen, M. U., Z. Kristallogr. M (1936) 288.Google Scholar
  77. [77]
    Hess, B. J., Acta Cryst. 4 (1951) 209.CrossRefGoogle Scholar
  78. [78]
    Vogel, R. E., und Kempter, C. P., Acta Cryst. 13 (1960) 828.CrossRefGoogle Scholar
  79. [79]
    Popovic, S., J. Appl. Cryst. 4 (1971) 240.CrossRefGoogle Scholar
  80. [80]
    Kishino, S., Jap. J. Appl. Phys. 10 (1971) 1113.CrossRefGoogle Scholar
  81. [81]
    Kishino, S., Adv. X-Ray Anal. 16 (1973) 367.Google Scholar
  82. [82]
    Syhre, H., und Schenk, M., Acta Cryst. 23 (1967) 246.CrossRefGoogle Scholar
  83. [83]
    Klimanek, P., et al., unveröffentlicht.Google Scholar
  84. [84]
    Oettel, H.: Dissertation A, Bergakademie Freiberg 1971.Google Scholar
  85. [85]
    Bublik, V.T.,et.al.,in: Tverdye rastvory elementarnych poluprovodnikov i poluprovod-nikovych soedinenij, Naučnye trudy MISIS No. 83, Moskva 1974, S. 61.Google Scholar
  86. [86]
    Oettel, H., Dissertation B, Bergakademie Freiberg 1979.Google Scholar
  87. [87]
    Krivoglaz, M. A., in: Metally, ėlektrony, Rešetka, Izdat. Naukova dumka, Kiev 1975.Google Scholar
  88. [88]
    Wilkens, M., Kristall u. Technik 11 (1976) 1159.CrossRefGoogle Scholar

Copyright information

© VEB Deutscher Verlag der Wissenschaften, Berlin 1979

Authors and Affiliations

  • P. Klimanek
    • 1
  1. 1.FreibergDeutschland

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