Advertisement

Zusammenfassung

Ionometrische Verfahren beruhen auf der Wechselwirkung energiereicher Ionen mit den Atomen von Festkörpern. Dabei können sowohl aus der Veränderung der Energie, der Anzahl und der Richtung der eingeschossenen Ionen nach dem Wechselwirkungsprozeß als auch aus den Kenngrößen der Sekundärstrahlung, die bei der Wechselwirkung erzeugt wird (Teilchenstrahlung oder elektromagnetische Strahlung), Rückschlüsse auf physikalische Eigenschaften der Festkörper gezogen werden. Für die Untersuchung kristalliner Festkörper ergaben sich prinzipiell neue Möglichkeiten durch die Entdeckung des Kanalisierungs- und Blockierungseffekts [1–5].

Preview

Unable to display preview. Download preview PDF.

Unable to display preview. Download preview PDF.

Literatur

Weiterführende Literatur

  1. —.
    Ion Beam Surface Layer Analysis. Hrsg.: Mayer, J. W., Ziegler, J. F. — Elsevier Sequeia, Lausanne 1974.Google Scholar
  2. —.
    Ion Beam Surface Layer Analysis. Hrsg.: Meyer, O., Linker, G., Käppeler, F.— Plenum Press; New York, London 1976.Google Scholar
  3. —.
    Ion Beam Analysis. Hrsg.: Wolicki, E. A., Butler, J. W., Treado, P. A. — North-Holland Publ. Comp.: Amsterdam, Oxford, New York 1978.Google Scholar

Originalliteratur

  1. [1]
    Robinsin, M. R., Oen, O. S., Phys. Rev. 182 (1963) 2385.Google Scholar
  2. [2]
    Lindhard, J., Mat. Fys. Medd. Dan. Vid. Selsk. 34 (1965) Nr. 14.Google Scholar
  3. [3]
    Tulinov, A. F., Usp. Fiz. Nauk 87 (1965) 585.Google Scholar
  4. [4]
    Gemmel, D. S., Holland, R. E., Phys. Rev. Lett. 14 (1965) 945.CrossRefGoogle Scholar
  5. [5]
    Bogh, E., Üggerhèj, E., Nucl. Instr. Meth. 38 (1965) 216.CrossRefGoogle Scholar
  6. [6]
    Andersen, J. U., Math. Fys. Medd. Dan. Vid. Selsk. 36 (1967) 7.Google Scholar
  7. [7]
    Andersen, J. U., Laegsgaard, E., Rad. eff. 12 (1972) 3.CrossRefGoogle Scholar
  8. [8]
    Picraux, S. T., Andersen, J. U., Phys. Rev. 186 (1969) 267.CrossRefGoogle Scholar
  9. [9]
    Grasso, F.: Dechanneling, In: Channeling, Hrsg.: Morgan, D. V.— John Wiley and Sons: London, New York, Sydney, Toronto; 1973, S. 181–224.Google Scholar
  10. [10]
    Bonderup, E., Erbensen, H., Andersen, J. U., Schiètt, H. E., Rad. eff. 12 (1972) 261.CrossRefGoogle Scholar
  11. [11]
    Campisano, S. U., Grasso, F., Rimini, E., Rad. eff. 9 (1971) 153.CrossRefGoogle Scholar
  12. [12]
    Hehl, K., Dissertation zur Promotion B; FSU Jena 1975.Google Scholar
  13. [13]
    Amsel, G., Samuel, D., Anal. Chem. 39 (1967) 1689.CrossRefGoogle Scholar
  14. [14]
    Amsel, G., Béranger, B., De Gelas, B., Lacombe, P., J. Appl. Phys. 39 (1968) 2246.CrossRefGoogle Scholar
  15. [15]
    Picraux, S. T., Amsel, G., Feldman, L. C., in: Catania Working Data for Ion Beam Analysis, NSF and CNR, Catania 1974.Google Scholar
  16. [16]
    Wolicki, E. A.: New Uses of Low Energy Accelerators. Hrsg.: Ziegler, J. F., Plenum Press: New York 1975.Google Scholar
  17. [17]
    Götz, G., Schwabe, F., Treff, H., J. Radioanal. Chem. 28 (1975) 43.CrossRefGoogle Scholar
  18. [18]
    Götz, G., Schwabe, F., J. Radioanal. Chem. 28 (1975) 29.CrossRefGoogle Scholar
  19. [19]
    Bègh, E., Application to Surface Studies. In: Channeling, Hrsg.: Morgan, D. V.— John Wiley and Sons: London, New York, Sydney, Toronto; 1973, S. 435–451.Google Scholar
  20. [20]
    Gyujlai, J., Acta Phys. et. Chem. Univ. Szeged XVI (1970) 119.Google Scholar
  21. [21]
    Damask, A. C., Dienes, G. J., Point Defects in Metals— Gordon and Breach: New York 1963.Google Scholar
  22. [22]
    Westmoeeland, J. E., Mayer, J. W., Eisen, P. H., Welch, B., Rad. eff. 6 (1970) 161.CrossRefGoogle Scholar
  23. [23]
    Feldman, L. C., Rodgers, J. W., J. appl. Phys. 41 (1970) 3776.CrossRefGoogle Scholar
  24. [24]
    Glaser, E., Dissertation zur Promotion A; FSU Jena 1977.Google Scholar
  25. [25]
    Götz, G., Dissertation zur Promotion B; FSU Jena 1974.Google Scholar
  26. [26]
    Andersen, J. U., Andreasen, O., Davies, J. A., Uggerhèj, E., Rad. eff. 7 (1971) 25.CrossRefGoogle Scholar
  27. [27]
    Andersen, J. U., Laegsgard, E., Feldman, L. C., Rad. eff. 12 (1972) 219.CrossRefGoogle Scholar
  28. [28]
    Götz, G., Sommer, G., Phys. stat. sol. (b) 32 (1975) K 151.CrossRefGoogle Scholar

Copyright information

© VEB Deutscher Verlag der Wissenschaften, Berlin 1979

Authors and Affiliations

  • G. Götz
    • 1
  1. 1.JenaDeutschland

Personalised recommendations