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Zusammenfassung

Ein revolutionäres neues Mikroskopierverfahren erlaubt es, mit handelsüblichen Kopierern subatomare Auflösungen zu erreichen. Früher bemühte man sich mittels eingeführter Verfahren wie etwa der Transmissions-Elektronen-Mikroskopie (TEM) oder der Atomic-force-Mikroskopie (AFM) um eine hohe Auflösung. Es war ein regelrecht revolutionäres Umdenken nötig, um die von diesen archaischen Methoden gesetzten Grenzen zu durchbrechen. Die Autoren stellen hiermit die Xerox-Vergrößerungs-Mikroskopie (XVM) vor, ein Verfahren, das der hochauflösenden Mikroskopie ein neues, faszinierendes Betätigungsfeld erschließen wird (siehe Abbildung 1).

Copyright information

© Springer Basel AG 1999

Authors and Affiliations

  • David P. Cann
    • 1
  • Phillip Pruna
    • 1
  1. 1.Labor für WerkstofforschungStaatliche Universität von PennsylvaniaUniversity ParkUSA

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