Advertisement

Verfahren der Röntgenographischen Untersuchung Kristallisierter Stoffe

  • E. Brandenberger
Chapter
  • 16 Downloads
Part of the Lehrbücher und Monographien aus dem Gebiete der Exakten Wissenschaften book series (LMW, volume 7)

Zusammenfassung

Nach Abb. 3 kann ein gegebenes Kristallgitter in Scharen von mit Atomen besetzten Ebenen (sog. Netzebenen) aufgelöst werden, und zwar gibt es in jedem Gitter an sich unendlich viele solcher Netzebenenscharen. Der Abstand unter sich gleichwertiger Netzebenen einer Schar ist dabei allgemein umso größer, je einfacher eine Netzebenenschar zu den Kanten der Gittermaschen liegt. Die Position der einzelnen Netzebenenscharen gegenüber den Achsen des Gitters wird in derselben Weise durch drei jeder Netzebene zugeschriebene Indizes h, k, l gekennzeichnet, wie dies in der gewöhnlichen Kristallographie für die Bezeichnung der Kristallflächen üblich ist (der an einem Kristall vorkommenden Fläche mit dem Symbol (111) läuft im Gitter die Netzebenenschar (111) parallel).

Preview

Unable to display preview. Download preview PDF.

Unable to display preview. Download preview PDF.

Notes

Literaturangaben

Hinweise auf Einige Gesamtdarstellungen der Grundlagen und Methoden der Röntgenfein Strukturuntersuchung

  1. J. M. Bijvoet, N. H. Kolmeijer und C. H. MacGillavry, Röntgenanalyse von Kristallen, 1940.CrossRefzbMATHGoogle Scholar
  2. W. H. and W. L. Bragg, The crystalline state, 1933.Google Scholar
  3. G. L. Clark, Applied x-rays (3rd edition), 1940.Google Scholar
  4. P. P. Ewald, Der Aufbau der festen Materie, in Handbuch der Physik von Geiger-Scheel, Band XXIV (2. Auflage), 1933.Google Scholar
  5. R. Glocker, Materialprüfung mit Röntgenstrahlen (2. Auflage), 1936.Google Scholar
  6. F. Halla und H. Mark, Röntgenographische Untersuchung von Kristallen, 1937.Google Scholar
  7. M. von Laue, Röntgenstrahl-Interferenzen, Band VI von «Physik und Chemie in Einzeldarstellungen», 1941.Google Scholar
  8. P. Niggli, Lehrbuch der Mineralogie und Kristallchemie, Band II (3. Auflage), 1942.Google Scholar
  9. H. Ott, Strukturbestimmung mit Röntgeninterferenzen, in Handbuch der Experimentalphysik von Wien-Harms, Band 7, 2. Teil, 1928.Google Scholar
  10. J.-J. Trillat, Les applications des rayons X, 1930.Google Scholar
  11. R.W. G. Wyckoff, The structure of crystals (2nd edition), 1931.Google Scholar

Einzelhinweise auf Arbeiten methodischen Inhalts :

  1. E. Schiebold, Methoden der Kristallstrukturbestimmung mittels Röntgenstrahlen: Band I, Die Laue-Methode, 1932.Google Scholar
  2. W. Wittestadt, Röntgenaufnahmen unter extremen Bedingungen, Z. Elektro-chem. 46 (1940) 521 mit Hinweisen auf Hochlaströhren, Temperaturkammern, Heizvorrichtungen, Kühlvorrichtungen, Temperaturmessung und -konstant-haltung, Untersuchungen unter hohem Druck, Schutz gegen chemische Einflüsse.Google Scholar
  3. R. Brill und H. Krebs, Verfahren zur Erzeugung lichtstarker Röntgen-Reflexe mit monochromatischer Strahlung, Naturwiss. 32 (1944) 75.ADSCrossRefGoogle Scholar
  4. H. K. Görlich, Über die Verwertbarkeit der Debye-Scherrer-Intensitäten zur Strukturbestimmung, Z. angew. Mineralog. 3 (1941) 173.Google Scholar
  5. J. J. Wasastjerna, An improved photographic method for the quantitative study of the reflexion of x-rays by crystals, Kungl. Svenska Vetenskapsakad. Handl. (III) 20, Nr. 11 (1944).Google Scholar
  6. R. Lindemann und A. Trost, Das Interferenz-Zählrohr als Hilfsmittel der Feinstrukturforschung mit Röntgenstrahlen, Z. Physik 115 (1940) 456,ADSCrossRefGoogle Scholar
  7. A. Trost, Eine Methode zur Messung hoher Strahlungsintensitäten mit dem Zählrohr, Z. Physik 117 (1941) 257.ADSCrossRefGoogle Scholar
  8. Weitere Hinweise auf methodische Neuerungen sowohl hinsichtlich der Aufnahmetechnik von Röntgendiagrammen als mit Rücksicht auf die Auswertung derselben finden sich in den periodisch erscheinenden «Titelsammlungen zum Strukturbericht» in der Z. Kristallogr. (A) (siehe Seite 227).Google Scholar
  9. Methodische Hinweise und beispielhafte Schilderung von Anwendungen rönt-genographischer Untersuchungen enthält in größerer Zahl «Symposium on radiography and x-ray diffraction methods», herausgegeben durch die ASTM (American society for testing materials), 1936 (mit Beiträgen von Ch. S. Barrett, K. R. van Horn, W. P. Davey, J. T. Norton, G. H. Cameron and A. L. Patterson, G. L. Clark).Google Scholar

Hinweise auf Einige Gesamtdarstellungen der Grundlagen und Besondern Methodik von Elektronenbeugungsversuchen

  1. P. Debye, Elektroneninterferenzen, 1930.zbMATHGoogle Scholar
  2. J.-J. Trillat, Les diffractions électroniques, 1935.Google Scholar
  3. G. P. Thomson and W. Cochrane, Theory and practice of electron diffraction, 1939.Google Scholar
  4. M. von Laue, Materiewellen und ihre Interferenzen, Band VII von «Physik und Chemie in Einzeldarstellungen», 1944.Google Scholar

Überdies die folgenden zusammenfassenden Berichte :

  1. F. Kirchner, Elektroneninterferenzen und Röntgeninterferenzen, Erg. exakt. Naturwiss. 11 (1932) 64.CrossRefGoogle Scholar
  2. F. Kirchner, Die Bedeutung der Elektroneninterferenzen für die Strukturforschung, Erg. techn. Röntgenkde 4 (1934) 163.Google Scholar

Copyright information

© Springer Basel AG 1945

Authors and Affiliations

  • E. Brandenberger
    • 1
  1. 1.Eidg. Techn. HochschuleZürichSchweiz

Personalised recommendations